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河北石家莊MC-2000A漆膜測厚儀廠家

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參考價 12
訂貨量 1
具體成交價以合同協議為準
  • 型號 MC-2000A
  • 品牌 其他品牌
  • 廠商性質 其他
  • 所在地 臨沂市
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更新時間:2016-11-01 10:27:19瀏覽次數:576

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產品簡介

河北石家莊MC-2000A漆膜測厚儀廠家是具有廣泛使用范圍的磁性儀器,。其技術參數*符合國家標準,。

是磁性便攜式覆層測厚儀,,它能快速、無損傷,、精密地進行涂,、鍍層厚度的測量,。既可用于實驗室,也可用于工程現場,。本儀器能廣泛地應用在制造業(yè),、金屬加工業(yè)、化工業(yè),、商檢等檢測領域,。

詳細介紹

河北石家莊MC-2000A漆膜測厚儀廠家是具有廣泛使用范圍的磁性儀器。其技術參數*符合國家標準,。

是磁性便攜式覆層測厚儀,,它能快速、無損傷,、精密地進行涂,、鍍層厚度的測量。既可用于實驗室,,也可用于工程現場,。本儀器能廣泛地應用在制造業(yè)、金屬加工業(yè),、化工業(yè),、商檢等檢測領域。是材料保護專業(yè)*的儀器,。Fe質探針可檢測所有非磁性涂層厚度,,例如涂在鋼、鐵上的漆,、粉末涂層,、塑料、瓷,、鉻,、銅、鋅等,。

河北石家莊MC-2000A漆膜測厚儀廠家輕松讀取

可存入測量數據600個,,對測量中的單個可疑數據進行刪除,也可以刪除存儲區(qū)內的所有數據,, 讀出已存入的測量數據,。

 

 

二、MC-2000A涂層測厚儀產品性能

 

1,、測量范圍:  0~1200um

2,、測量誤差:  <3%±1um

3、zui小示值:  1um

4、顯示方式:    4位液晶數字顯示

5,、主要功能:

   (1).測量:      單探頭全量程測厚

   (2).存儲,、刪除:

   (3).統(tǒng)計: 設有三個統(tǒng)計量,平均值zui大值zui小值

   (4).校準: 可進行零點校準,、兩點校準及系統(tǒng)校準

   (5).電量: 具有欠壓顯示功能

   (6).蜂鳴提示:操作過程中有蜂鳴提示

   (7).打?。?可打印測量值,選配微型打印機

   (8).關機: 具有自動關機和手動關機兩種方法

6,、電源:         兩節(jié)1.5v電池

7,、功耗:         zui大功耗100mw

8、外形盡寸:     51mm*126mm*27mm

9,、重量:      160g(含電池)

10,、使用環(huán)境溫度: 0℃~+40℃  相對濕度:不大于90%

11、基體zui小厚度:     0.5mm

12,、基體zui小平面的直徑:   7mm

13,、zui小曲率半徑:     凸:1.5mm      凹:6mm

14、欠電壓指示:       右上角顯示""

*臨界厚度?。汗ぜF基厚度大于1mm時,其涂(鍍)層厚度的測量不受鐵基厚度影響,。

三、MC-2000A型涂層測厚儀配置單

 

 MC-2000A說明書下載

    1,、MC-2000A型涂鍍層測厚儀              一臺

    2,、七號電池                           二節(jié)

    3、探頭                                一支

    4,、標準樣片                      一盒     

    5,、小鋁箱                              一個

    6、說明書,、合格證                      一套

河北石家莊MC-2000A漆膜測厚儀廠家

注意金屬基體材質

不同金屬基體材料的磁性,、導電率是不相同的,這都會對測量結果造成影響[9],。采用磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響(在實際應用中,,低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的),為了避免熱處理和冷加工因素的影響,,應使用與試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器進行校準,,亦可用待涂覆試件進行校準。由于基體金屬的成分及熱處理方法不同,,導致其電導率不同,,因此應使用與被檢測試件基體金屬具有相同性質的標準片對儀器進行校準。

注意檢測試件形狀

在實際生產中,,工件的材料厚度,、形狀,、表面粗糙度等存在差異,這些差異會對實際測量結果造成影響,。每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度,大于這個厚度,,測量就不受基體金屬厚度的影響,,如果試件材料厚度小于儀器所要求的臨界厚度,檢測結果就會與實際厚度有差別,。一些儀器對試件表面形狀的陡變十分敏感,,因此在靠近試件邊緣或內轉角處進行測量的數值會不可靠,實際測量時應選擇遠離邊緣和內轉角的部位,。試件表面不僅存在形狀的陡變,,還可能存在不同的曲率,一些儀器的測量結果總是隨著曲率半徑的減小明顯地增大,。因此,,即使在選擇儀器時考慮了zui小曲率半徑,測量時仍應盡可能選擇在平面部位進行測量

 

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