產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
涂鍍層測(cè)厚儀即使相同的涂層測(cè)厚儀,,不同的人或?qū)Σ煌N類、狀態(tài)基材上的相同涂層測(cè)量出來的數(shù)據(jù)也可能會(huì)存在較大差別,,這是因?yàn)闇y(cè)量人員因素,、測(cè)量漆膜的基體材質(zhì)、厚度,、表面狀況以及測(cè)量位置等造成的,。使用涂層測(cè)厚儀,要注意以下幾點(diǎn):
涂鍍層測(cè)厚儀使用前應(yīng)仔細(xì)閱讀儀器使用說明書
不同廠家,、不同品牌的儀器在結(jié)構(gòu),、按鍵,、校準(zhǔn)等方面各不相同,因此使用前必須先仔細(xì)閱讀儀器的使用說明書,,避免誤操作造成測(cè)量數(shù)據(jù)的錯(cuò)誤,。
注意金屬基體材質(zhì)
不同金屬基體材料的磁性、導(dǎo)電率是不相同的,,這都會(huì)對(duì)測(cè)量結(jié)果造成影響[9],。采用磁性法測(cè)厚受基體金屬磁性變化的影響(在實(shí)際應(yīng)用中,低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的),,為了避免熱處理和冷加工因素的影響,,應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn),亦可用待涂覆試件進(jìn)行校準(zhǔn),。由于基體金屬的成分及熱處理方法不同,,導(dǎo)致其電導(dǎo)率不同,因此應(yīng)使用與被檢測(cè)試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對(duì)儀器進(jìn)行校準(zhǔn),。
注意檢測(cè)試件形狀
在實(shí)際生產(chǎn)中,,工件的材料厚度、形狀,、表面粗糙度等存在差異,這些差異會(huì)對(duì)實(shí)際測(cè)量結(jié)果造成影響,。每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度,,大于這個(gè)厚度,測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響,,如果試件材料厚度小于儀器所要求的臨界厚度,,檢測(cè)結(jié)果就會(huì)與實(shí)際厚度有差別。一些儀器對(duì)試件表面形狀的陡變十分敏感,,因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量的數(shù)值會(huì)不可靠,,實(shí)際測(cè)量時(shí)應(yīng)選擇遠(yuǎn)離邊緣和內(nèi)轉(zhuǎn)角的部位。試件表面不僅存在形狀的陡變,,還可能存在不同的曲率,,一些儀器的測(cè)量結(jié)果總是隨著曲率半徑的減小明顯地增大。因此,,即使在選擇儀器時(shí)考慮了zui小曲率半徑,,測(cè)量時(shí)仍應(yīng)盡可能選擇在平面部位進(jìn)行測(cè)量。
以上也是在選擇測(cè)厚儀器時(shí)需要考慮zui小曲率半徑,、zui小測(cè)量面積,、zui小基體厚度的原因
。
涂鍍層測(cè)厚儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介
MC-2000A型涂層測(cè)厚儀(鍍層測(cè)厚儀)測(cè)量范圍:0~1200um,,是*的結(jié)晶,它采用單片機(jī)技術(shù),,精度高,、數(shù)字顯示、示值穩(wěn)定,、功耗低,、操作簡(jiǎn)單方便、無校正旋鈕,、單探頭全量程測(cè)量,、體積小、重量輕,;且具有存儲(chǔ),、讀出、統(tǒng)計(jì),、低電壓指示,、零點(diǎn)校準(zhǔn)、兩點(diǎn)校準(zhǔn)及系統(tǒng)校準(zhǔn),,其性能達(dá)到當(dāng)代同類儀器的*水平,。
MC-2000A涂鍍層測(cè)厚儀應(yīng)用范圍
本儀器采用磁性測(cè)厚法,可以方便無損地測(cè)量鐵磁材料上非磁性涂層的厚度,,如鋼鐵表面上的鋅,、銅、鉻等鍍層或油漆,、搪瓷,、玻璃鋼、橡膠,、噴塑,、瀝青等涂層的厚度。該儀器廣泛應(yīng)用于機(jī)械,、汽車,、造船、石油,、化工,、電鍍、噴塑,、搪瓷,、塑料等行業(yè)。
MC-2000A涂鍍層測(cè)厚儀工作原理
MC-2000A型采用電磁感應(yīng)法測(cè)量涂鍍層的厚度,。位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個(gè)閉合的磁回路,,隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變,該磁回路將不同程度的改變,,引起磁阻及探頭線圈電感的變化,。利用這一原理可以精確地測(cè)量探頭與鐵磁性材料間的距離,,即涂鍍層厚度。
輕松讀取
可存入測(cè)量數(shù)據(jù)600個(gè),,對(duì)測(cè)量中的單個(gè)可疑數(shù)據(jù)進(jìn)行刪除,,也可以刪除存儲(chǔ)區(qū)內(nèi)的所有數(shù)據(jù), 讀出已存入的測(cè)量數(shù)據(jù),。
二,、MC-2000A涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品性能
1、測(cè)量范圍: 0~1200um
2,、測(cè)量誤差: <3%±1um
3,、zui小示值: 1um
4、顯示方式: 4位液晶數(shù)字顯示
5,、主要功能:
(1).測(cè)量: 單探頭全量程測(cè)厚
(2).存儲(chǔ),、刪除:
(3).統(tǒng)計(jì): 設(shè)有三個(gè)統(tǒng)計(jì)量,平均值z(mì)ui大值z(mì)ui小值
(4).校準(zhǔn): 可進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn),、兩點(diǎn)校準(zhǔn)及系統(tǒng)校準(zhǔn)
(5).電量: 具有欠壓顯示功能
(6).蜂鳴提示:操作過程中有蜂鳴提示
(7).打?。?/span> 可打印測(cè)量值,選配微型打印機(jī)
(8).關(guān)機(jī): 具有自動(dòng)關(guān)機(jī)和手動(dòng)關(guān)機(jī)兩種方法
6,、電源: 兩節(jié)1.5v電池
7,、功耗: zui大功耗100mw
8、外形盡寸: 51mm*126mm*27mm
9,、重量: 160g(含電池)
10,、使用環(huán)境溫度: 0℃~+40℃ 相對(duì)濕度:不大于90%
11、基體zui小厚度: 0.5mm
12,、基體zui小平面的直徑: 7mm
13、zui小曲率半徑: 凸:1.5mm 凹:6mm
14,、欠電壓指示: 右上角顯示""
*臨界厚度?。汗ぜF基厚度大于1mm時(shí),其涂(鍍)層厚度的測(cè)量不受鐵基厚度影響。
三,、MC-2000A型涂層測(cè)厚儀配置單
MC-2000A說明書下載
1,、MC-2000A型 一臺(tái)
2、七號(hào)電池 二節(jié)
3,、探頭 一支
4,、標(biāo)準(zhǔn)樣片 一盒
5、小鋁箱 一個(gè)
6,、說明書,、合格證 一套
選配件:
1、打印機(jī)及通訊打印連線 1套
2,、微機(jī)通訊軟件 1盤
- 內(nèi)防腐探頭
關(guān)于基體的要求:
1.基體必須為磁性金屬,,如鋼板,、鎳、鐵等都是含磁金屬,。
2.基體金屬的厚度: 每一種儀器都有一個(gè)基體金屬的臨界厚度,。大于這個(gè)厚度,測(cè)量就不受基體金屬厚度的影響,??齐娡繉訙y(cè)厚儀的臨界厚度值:工件鐵基厚度大于1mm時(shí),其涂(鍍)層厚度的測(cè)量不受鐵基厚度影響,。
關(guān)于測(cè)試工件的要求:
1.本儀器對(duì)試件表面形狀的陡變敏感,。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測(cè)量是不可靠的。
2. 試件的曲率對(duì)測(cè)量有影響,。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大,。因此,在彎曲試件的表面上zui小曲率要求半徑: 凸:1.5mm 凹:6mm
其他:
探頭在使用是主要保持垂直測(cè)量,,這樣得出的示值才會(huì)穩(wěn)定,,其他類型測(cè)厚儀亦如此。
鍍鋅層測(cè)厚儀電鍍涂層測(cè)厚儀涂鍍層測(cè)厚儀價(jià)格注意:由于儀器的每次讀數(shù)并不*相同,,因此必須在每一測(cè)量面積內(nèi)取幾個(gè)讀數(shù),。覆蓋層厚度的局部差異,也要求在任一給定的面積內(nèi)進(jìn)行多次測(cè)量,,表面粗造時(shí)更應(yīng)如此,。(此參考說明書上檢測(cè)方法)