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日本小坂KOSAKA 臺(tái)階儀 | 微細(xì)形狀測(cè)定機(jī)ET200A介紹
閱讀：941 發(fā)布時(shí)間：2022-1-24
日本小坂KOSAKA 臺(tái)階儀 | 微細(xì)形狀測(cè)定機(jī)ET200A概述
ET200A基于Windows 操作系統(tǒng)為多種不同表面提供全面的形貌分析，包括半 導(dǎo)體硅片,、太陽(yáng)能硅片,、薄膜磁頭及磁盤,、MEMS,、光電子,、精加工表面,、生物醫(yī)學(xué)器件,、 薄膜/化學(xué)涂層,、平板顯示、觸摸屏等,。使用金剛石（鉆石）探針接觸測(cè)量的方式來(lái)實(shí)現(xiàn)高 精度表面形貌分析應(yīng)用,。ET200A 能精確可靠地測(cè)量出表面臺(tái)階形貌、粗糙度,、波紋度,、磨 損度、薄膜應(yīng)力等多種表面形貌技術(shù)參數(shù),。 ET200A 配備了各種型號(hào)探針,，提供了通過(guò)過(guò)程控制接觸力和垂直范圍的探頭，彩色CCD 原位采集設(shè)計(jì),，可直接觀察到探針工作時(shí)的狀態(tài),，更方便準(zhǔn)確的定位測(cè)試區(qū)域,。
日本小坂KOSAKA 臺(tái)階儀 | 微細(xì)形狀測(cè)定機(jī)ET200A特點(diǎn)
★ ET200A臺(tái)階儀適用于二次元表面納米等級(jí)段差臺(tái)階測(cè)定、粗糙度測(cè)定,。
★ ET200A臺(tái)階儀擁有高精度．高分解能,，搭配一體花崗巖結(jié)構(gòu)，安定的測(cè)量過(guò)程及微小的測(cè)定力可對(duì)應(yīng)軟質(zhì)樣品表面,。
★ 該型號(hào)臺(tái)階儀采用直動(dòng)式檢出器,，重現(xiàn)性高。