使用植物冠層分析儀提升了植物研究工作的效率

閱讀：1356發(fā)布時間：2021-11-16

　　植物冠層分析儀采用了冠層孔隙率與冠層結(jié)構(gòu)相關(guān)的原理,，主要作用就是研究植物冠層數(shù)據(jù)。讓種植者合理安排植物種植密度,，如果是種植小麥的話,，我們會發(fā)現(xiàn)如果種植的小麥過少的話小麥種子，就會產(chǎn)量低,。如果要是在土地里面播種太多的小麥種子的話，這些小麥因為太多沒有足夠的間隙小麥之間又會影響小麥的生長,。

　　而該儀器能夠測量葉面積指數(shù),、葉片平均傾角，散射輻射透光率,、不同太陽高度角下的直射輻射透過率,、葉面積密度的方位分布、冠層內(nèi)外的光合有效輻射等,。主要用于分析植物冠層特點,，研究作物的生長發(fā)育、產(chǎn)量品質(zhì)與光能之間的關(guān)系,，可測量和分析作物冠層受光狀況,，比較不同植物的群體結(jié)構(gòu)。

　　植物冠層分析儀是現(xiàn)代農(nóng)業(yè)發(fā)展的重要儀器,，農(nóng)業(yè)的發(fā)展需要對植物生理進行研究,，特別對于植物生長長勢與光合速率之間的研究，只要這樣才能科學有效的采取措施提升植物的生長長勢和產(chǎn)量,。在植物生理特點研究工作中,，使用專業(yè)植物檢測儀器，可以提升植物研究工作的效率,，測定的數(shù)據(jù)結(jié)果更加的準確,，為植物研究提供科學參考依據(jù)。

　　它是根據(jù)光線穿過介質(zhì)減弱的比爾定律,，在對植物冠層定義了一系列假設(shè)前提的條件下,，采用半理論半經(jīng)驗的公式，通過冠層孔隙率的測定,，計算出冠層結(jié)構(gòu)參數(shù),。這是目前世界上各種冠層儀一致采用的原理。在上述原理下,，該儀器采用的是對冠層下天穹半球圖像分析測量冠層孔隙率的方法,，該方法是各類方法中精確和省力、省時,、快捷方便的方法,。

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