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透反射光譜測量系統(tǒng)
近紅外全角度透反射測量系統(tǒng),，900-2500nm，應(yīng)用于材料測量領(lǐng)域
樣品材料中的很多成份,，當光束以不同的角度入射時,，得到的透射率和反射率會因入射角度的變化而變化。通過測量不同角度入射,，可獲取材料在正入射時所得不到的信息,，確定材料的最敏感角度，可以為進一步的研究或設(shè)計測量儀器提供依據(jù),。
我們提供可見-近紅外全角度透反射測量系統(tǒng)搭配光譜儀和其他測量附件,，可以實現(xiàn)光源的不同角度入射和接收，適用于mm量級樣品的透射光譜測量及反射光譜測量,。透反射光譜測量系統(tǒng)采用電控獨立雙軸設(shè)計,，配備高精度步進電機，控制發(fā)射端和接收端的角度測量,，角分辨率達0.001°,，重復(fù)精度達0.05°。光譜范圍覆蓋900-2500nm,，通過軟件控制發(fā)射端和接收端的角度,，實現(xiàn)快速的光譜測量，可用于透射/反射/散射/熒光/輻射等多種全角度模式的光譜測量,。
主要特點：
-全角度測量：反射和透射,，可以實現(xiàn)-90°至90°范圍測量，散射,、熒光和輻射,，可以實現(xiàn)0°至180°測量。
-多種角度測量模式：可以進行反射,、透射,、熒光、散射輻射等多種光譜測量
-精確角度控制：高精度電機,，角度精度達0.05°
-多維調(diào)節(jié)樣品臺：樣品臺由高精度三維位移臺和三維旋轉(zhuǎn)臺組成,，可實現(xiàn)樣品的6維調(diào)節(jié)
散射和熒光角度測量模式：入射角-90°~90°的任意角度上變化,，接收角0°~360°范圍內(nèi)變化，實現(xiàn)散射和熒光光譜的全角度測量,。
輻射角度測量模式：接收角0~360°范圍內(nèi)變化,。
主要應(yīng)用：
-納米光學材料
-材料鍍膜
-光子晶體器件
-傳感器器件制備
-LED光源
-液晶顯示
-角度相關(guān)材料分析
透反射光譜測量系統(tǒng)
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