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產品簡介
UV-313/340紫外輻照計 UV型紫外輻照計價格,，采用SMT貼片技術,，選用高精度低功耗數字芯片，儀器外殼為流線型設計,，探測器經過嚴格的光譜及角度特性校正,，性能穩(wěn)定，適用性強,。該儀器適用于光化學,、高分子材料老化、探傷,、紫外光源,、植物栽培、以及大規(guī)模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作,。
詳細介紹
產品簡介
UV-313/340紫外輻照計 UV型紫外輻照計價格,，采用SMT貼片技術，選用高精度低功耗數字芯片,，儀器外殼為流線型設計,，探測器經過嚴格的光譜及角度特性校正，性能穩(wěn)定,，適用性強,。該儀器適用于光化學、高分子材料老化,、探傷,、紫外光源、植物栽培,、以及大規(guī)模集成電路光刻等領域的紫外輻照度測量工作,。
產品功能
UV-313/340紫外輻照計 UV型紫外輻照計價格
* 光譜及角度特性經嚴格校正
* 數字液晶顯示，帶背光
* 手動/自動量程切換
* 數字輸出接口（USB冗余供電）
* 低電量提醒
* 自動延時關機
* 有數字保持
* 輕觸按鍵操作,，蜂鳴提示
產品參數
| 探頭（二選其一）： | UV-313nm 探頭 | UV-340nm 探頭 |
| 波長范圍及峰值波長: | λ：(290～340)nm,；λP＝313nm | λ：(315～370)nm；λP＝340nm |
| 紫外帶外區(qū)雜光： | UV313：小于0.05% | UV340：小于0.05% |
| 輻照度測量范圍： | (0.1～199.9×103) μW/c㎡ | |
| 相對示值誤差： | ±10%（相對與NIM標準） | |
| 角度響應特性： | ±5%(α ≤10°) | |
| 線性誤差： | ±1% | |
| 短期不穩(wěn)定性： | ±1%（開機30min后） | |
| 響應時間： | 1秒 | |
| 使用環(huán)境： | 溫度(0～40)℃,，濕度＜85%RH | |
| 尺寸和重量： | 160mm×78mm×43mm,；0.2kg | |
| 電源： | 常規(guī)使用6F22型9V積層電池一只 亦可使用數據線連接USB接口、5V電源適配器供電 整機功耗 ＜0.1VA | |
產品實物圖
