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當(dāng)前位置:深圳市恩陽電子有限公司>>光電直讀光譜儀 OES>> OES8000電火花式光電直讀光譜儀,OES
參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)OES8000
品 牌SKYRAY/天瑞儀器
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
所 在 地深圳市
更新時(shí)間:2020-05-07 16:52:01瀏覽次數(shù):1841次
聯(lián)系我時(shí),,請告知來自 化工儀器網(wǎng)江蘇天瑞儀器股份有限公司是專業(yè)生產(chǎn)光譜,、色譜,、質(zhì)譜等分析測試儀器及其軟件的研發(fā)、生產(chǎn)和銷售一體型企業(yè),。 2011年1月25日,,天瑞儀器在深圳創(chuàng)業(yè)板塊上市。股票代碼為300165,。分析儀器行業(yè)的家也是目前一家上市公司.
光電直讀光譜儀是指應(yīng)用光電轉(zhuǎn)換接收方法作多元素同時(shí)分析的發(fā)射光譜儀器,。由于電感耦合高頻等離子體光源的廣泛使用,,使光電直讀光譜儀在光譜儀中占有主要地位。
1.分光室設(shè)計(jì)
帕邢-龍格結(jié)構(gòu),羅蘭圓直徑350mm
波長范圍140 – 800nm
像素分辨率10pm
恒溫34℃±0.5℃
特殊材質(zhì)鑄造,,保證光室形變小
2.凹面光柵
刻線密度3600l/mm
一級(jí)光譜線色散率:1.2 nm/mm
3.檢測器
高性能線陣CCD
4.分析時(shí)間
依樣品種類而不同,一般少于30秒
5.激發(fā)光源
全數(shù)字等離子火花光源技術(shù)
高能預(yù)燃技術(shù) (HEPS)
頻率100-1000Hz
電流1-80A
6.激發(fā)臺(tái)
4mm樣品臺(tái)分析間隙
噴射電極技術(shù)
無待機(jī)流量,,低氬氣消耗
7.電火花式光電直讀光譜儀,OES尺寸和重量
高450mm 長750 mm 寬800 mm
85 kg
8.電火花式光電直讀光譜儀,OES功率
功率1500W
待機(jī)功率70W
工作條件
工作溫度:15-30℃
相對濕度:≤70%
電 源:220±5V,,單相50Hz,接地電阻<1Ω
實(shí)驗(yàn)室無震動(dòng),、粉塵,、強(qiáng)電磁干擾、強(qiáng)氣流,、腐蝕性氣體
輔助設(shè)備
高純氬氣——純度99.999%以上
交流參數(shù)穩(wěn)壓電源——1KVA
光譜磨樣機(jī)——用于鋼鐵,、鎳合金等樣品
小型車床——用于鋁、銅,、鋅,、鎂合金等樣品
空調(diào)——依實(shí)驗(yàn)室面積配置匹配功率
技術(shù)優(yōu)勢
全譜檢測全面測試各種金屬和元素
基于CCD檢測器全譜測試技術(shù),全面測試各種金屬中元素的譜線,,方便實(shí)現(xiàn)多基體,、多元素的測試。
配置和補(bǔ)充測試基體,、通道,、分析程序極為方便,方便交貨后在客戶處補(bǔ)充測試元素,、分析程序,。
專業(yè)的測試方案
長期測試技術(shù)服務(wù)的積淀,天瑞儀器為鋼鐵,、有色金屬材料分析用戶提供成熟的測試方案,。
測試方案采用針對材料元素含量分類的分析程序,滿足用戶各類常見測試需求,。
分析程序由原廠采用國際,、國家標(biāo)準(zhǔn)樣品校準(zhǔn),經(jīng)專業(yè)儀器軟件擬合,、校正,。
用戶只需采用原廠配置少量標(biāo)準(zhǔn)化樣品即可完成日常維護(hù),不需購買大量制作分析程序的標(biāo)準(zhǔn)樣品,。
核心部件
光譜色散元件——光柵由德國Zeiss制造,,保證優(yōu)異的光譜分辨能力
光譜檢測器——光電倍增管由日本Toshiba制造,確保譜線檢測靈敏,、低噪聲
光學(xué)鏡片——德國Zeiss制造,,光纖——美國Agilent制造
的光室恒溫系統(tǒng)
光室恒溫腔體內(nèi)配置反饋式加熱裝置和高效隔溫層,,有效保證光室內(nèi)恒溫。
由此抑制溫度變化下機(jī)械件尺寸微弱變化導(dǎo)致的光路漂移,。同時(shí)光電器件工作在恒溫環(huán)境有助于性能的穩(wěn)定,。
1、分析速度快,;準(zhǔn)確度高,,相對誤差約為1%;
2,、適用于較寬的波長范圍,;光電倍增管對信號(hào)放大能力強(qiáng),對強(qiáng)弱不同譜線可用不同的放大倍率,,3,、相差可達(dá)10000倍,因此它可用同一分析條件對樣品中多種含量 范圍差別很大的元素同時(shí)進(jìn)行分析,;
4,、線性范圍寬,可做高含量分析,?! ?/p>
光電直讀光譜儀缺點(diǎn):
1、出射狹縫固定,,能分析的元素也固定,,也不能利用不同波長的譜線進(jìn)行分析;
2,、受環(huán)境影響較大,,如溫度變化時(shí)譜線易漂移,現(xiàn)多采用實(shí)驗(yàn)室恒溫或儀器的光學(xué)系統(tǒng)局部恒溫及其他措施,。
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