金屬合金成分檢測儀_分析儀器特點(diǎn)

X射線熒光光譜儀的特征是波長非常短，頻率很高,，其波長約為（20～0.06）×10-8厘米之間,。因此X射線必定是由于原子在能量相差懸殊的兩個(gè)能級(jí)之間的躍遷而產(chǎn)生的。所以X射線光譜是原子中zui靠內(nèi)層的電子躍遷時(shí)發(fā)出來的,，而光學(xué)光譜則是外層的電子躍遷時(shí)發(fā)射出來的,。X射線在電場磁場中不偏轉(zhuǎn)。這說明X射線是不帶電的粒子流,，因此能產(chǎn)生干涉,、衍射現(xiàn)象。 

X射線熒光光譜儀的X射線譜由連續(xù)譜和標(biāo)識(shí)譜兩部分組成 ,，標(biāo)識(shí)譜重疊在連續(xù)譜背景上,，連續(xù)譜是由于高速電子受靶極阻擋而產(chǎn)生的 軔致輻射，其短波極限λ 0 由加速電壓V決定：λ 0 = hc /( ev )為普朗克常數(shù),，e為電子電量,，c為真空中的光速。標(biāo)識(shí)譜是由一系列線狀譜組成,，它們是因靶元素內(nèi)層電子的躍遷而產(chǎn)生,，每種元素各有一套特定的標(biāo)識(shí)譜，反映了原子殼層結(jié)構(gòu) ,。同步輻射源可產(chǎn)生高強(qiáng)度的連續(xù)譜X射線,，現(xiàn)已成為重要的X射線源,。

江蘇天瑞儀器股份有限公司是專業(yè)生產(chǎn)光譜、色譜,、質(zhì)譜等分析測試儀器及其軟件的研發(fā),、生產(chǎn)和銷售一體型企業(yè)。天瑞EDX4500H,EDX2000H,EDX1800BS,EDX3600H,OES系列儀器是測合金元素成分檢測儀,專門研發(fā)測試合金成分分析.測試過程校準(zhǔn),，保證測量精度,，內(nèi)置多條曲線，可滿足多種元素的分析需要,。 X熒光光譜儀是利用XRF檢測原理實(shí)現(xiàn)對(duì)各種元素成份進(jìn)行快速,、準(zhǔn)確、無損分析,。該儀器的主要特征是利用智能真空系統(tǒng),，可對(duì)Si、P,、S,、Al、Mg等輕元素具有良好的激發(fā)效果,，利用XRF技術(shù)可對(duì)高含量的Cr,、Ni、Mo等重點(diǎn)關(guān)注的元素進(jìn)行成分分析,，在冶煉過程控制中起到了測試時(shí)間短,，大大提高了檢測效率和工作效率的作用。另外,，在合金分析,、全元素分析、有害元素檢測應(yīng)用上也十分廣泛,。

產(chǎn)品型號(hào)：EDX 4500H
產(chǎn)品名稱：X熒光光譜儀
測量元素范圍：從鈉（Na）到鈾（U）
元素含量分析范圍： ppm—99.99%（不同元素,，分析范圍不同）
同時(shí)分析元素：一次性可測幾十種元素
測量時(shí)間：30秒-200秒
探測器能量分辨率為：145±5eV
管壓：5KV-50KV
管流：50μA-1000μA
測量對(duì)象狀態(tài)：粉末、固體,、液體
輸入電壓：AC 110V/220V
環(huán)境溫度：15℃-30℃
環(huán)境濕度：35%-70%
樣品腔體積：320mm×100mm
外形尺寸：660mm×510mm×350mm
重量：65Kg

高效超薄窗X光管
SDD硅漂移探測器
數(shù)字多道技術(shù)
光路增強(qiáng)系統(tǒng)
高信噪比電子線路單元
內(nèi)置高清晰攝像頭
自動(dòng)切換型準(zhǔn)直器和濾光片
自動(dòng)穩(wěn)譜裝置
三重安全保護(hù)模式
可靠的整體鋼架結(jié)構(gòu)
90mm×70mm的狀態(tài)顯示液晶屏
真空泵

金屬合金成分檢測儀_分析儀器應(yīng)用領(lǐng)域

合金檢測,、全元素分析、有害元素檢測（RoHS,、鹵素）