智能測力顯示儀是集測量,、控制于一體的測控儀表?？蛇M(jìn)行拉伸,、抗壓、抗折等試驗(yàn),?？膳涮子糜诟鞣N萬能機(jī)、拉力機(jī),、壓力機(jī)的控制部分,，用途廣泛。
 

　　本儀器采用的32位ARM技術(shù),，加以24位高精度AD和大容量內(nèi)存,，具有測量精度高、響應(yīng)快捷穩(wěn)定,、控制速度快而準(zhǔn)確等特點(diǎn),。采用圖形液晶顯示器，試驗(yàn)結(jié)果以直觀的文字,、圖形方式進(jìn)行顯示,、保存及打印(選配微型熱敏打印機(jī))；用戶操作采用了漢字顯示的多層菜單結(jié)構(gòu),，功能強(qiáng)大,，操作方便，并且加入了對(duì)操作的容錯(cuò)處理,，如力值傳感器AD值,、單位,、零點(diǎn)、校準(zhǔn)值,?？捎?jì)算大力、屈服力,、大變形等試驗(yàn)參數(shù),。
 

　　可與PC相連,可選配上位機(jī)軟件，電腦與控制器同步顯示力值,、位移,、變形，
 

　　也可實(shí)現(xiàn)一臺(tái)電腦對(duì)多臺(tái)控制器方案,。
 

　　可用多種限位開關(guān),，力值過載保護(hù)功能可設(shè)定、故障自檢,、提示功能,、存儲(chǔ)器、AD芯片,、內(nèi)存芯片,、CPU程序、上限位保護(hù),、下限位保護(hù)等故障,，力傳感器未接或過載、力傳感器未標(biāo)定等查詢功能,。
 

　　主要規(guī)格及技術(shù)參數(shù)
 

　　電源：～380±10%V/50Hz,；
 

　　儀器功耗：≦20W；
 

　　溫度：-10°C-40°C,；濕度30%-85%,；
 

　　外形尺寸：360×215×145(開孔尺寸350×260×130)(寬×深×高)；
 

　　打印紙尺寸：57㎜寬(熱敏打印紙),；
 

　　儀表保險(xiǎn)絲：15A,、1A；
 

　　測力：
 

　　解析度：1/250000,；非線性重復(fù)性誤差：≦±1%,；
 

　　精度：0.5%以上(一般可達(dá)到0.02%FS)；
 

　　測量范圍：50kN～3000kN任意設(shè)定,；
 

　　分辨率：3位小數(shù)(量程≦100kN),，2位小數(shù)(量程≦3000kN)
 

　　采樣頻率：100次/秒
 

　　數(shù)字引伸計(jì)/位移：
 

　　光電編碼器
 

　　分辨率：高達(dá)0.001mm；響應(yīng)頻率40kHz,；
 

　　范圍：0～20000mm任意設(shè)置,；
 

　　精度：儀表系統(tǒng)*；
 

　　解碼方式：4相解碼,；
 

　　引伸計(jì)(選配)
 

　　解析度：1/100000
 

　　分辨率：0.001mm
 

　　采樣頻率：100次/秒,；
 

　　精度：示值的±0.5%；
 

　　二,、功能
 

　　1.時(shí)鐘：年,、月、日,、時(shí),、分、秒
 

　　2.組號(hào)設(shè)定：000001——999999
 

　　3.截面設(shè)定：抗折抗壓試塊
 

　　(0)——用于非標(biāo)試件抗壓(無需輸面積)
 

　　(1)——用于100×100㎜的立方體抗壓試塊
 

　　(2)——用于150×150㎜的立方體抗壓試塊
 

　　(3)——用于200×200㎜的立方體抗壓試塊
 

　　(4)——適用于任意截面的抗壓試塊(需輸面積)
 

　　(5)——用于150×150×550㎜的抗折試塊
 

　　(6)——用于100×100×400㎜的抗折試塊
 

　　(7)——用于40×40×160㎜的抗壓試塊
 

　　(8)——用于70.7×70.7㎜的立方體抗壓試塊
 

　　(9)——用于磚塊抗折(需輸入長度,、寬度,、高度)
 

　　4.抗拉試件：
 

　　(1)——用于非標(biāo)試件抗拉(無需輸面積)
 

　　(2)——用于圓形截面試件抗拉
 

　　(3)——用于管形截面試件抗拉
 

　　(4)——板形截面試件抗拉
 

　　(5)——剖條試件抗拉
 

　　(6)——不規(guī)則截面試件抗拉(需輸面積)
 

　　(7)——圓矩形試件抗拉
 

　　儲(chǔ)存：本儀表自動(dòng)保存檢測數(shù)據(jù)。大儲(chǔ)存量是500次數(shù)據(jù)組,，編號(hào)范圍為000001#～999999﹟,。編號(hào)自動(dòng)遞增，也可以手動(dòng)輸入,。同一編號(hào)的檢測數(shù)據(jù)只保存近一次,。數(shù)據(jù)存儲(chǔ)采取先進(jìn)先出的原則，即當(dāng)測試單元超過500個(gè)時(shí)*個(gè)測試單元的數(shù)據(jù)將被清除,。