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閱讀：912 發(fā)布時(shí)間：2016-11-15富士變頻器常見故障處理方法
富士變頻器OC1,OC2,OC3 故障
故障顯示OC1,，OC2,，OC3，這是富士變頻器zui常見的故障之一了，它包括了變頻器加速中過電流,，減速中過電流,，和恒速中過電流，此故障產(chǎn)生的原因主要有以下幾種
(1) 加速時(shí)間過短,，這是我們過電流現(xiàn)象中zui常見的,。依據(jù)不同的負(fù)載情況我們相應(yīng)地調(diào)整加減速時(shí)間，就能消除此故障,。
(2) 大功率晶體管的損壞也可能引起OC報(bào)警,，富士變頻器的大功率晶體管隨著半導(dǎo)體技術(shù)的發(fā)展經(jīng)過了幾次換代，從早期的用于G2(P2),，G5(P5),，G7(P7)系列的GTR模塊，到G9(P9)系列的IGBT模塊,，直到現(xiàn)在使用的IPM模塊,，無論從封裝技術(shù)還是保護(hù)性能，都有了很大的提高,，高耐壓,、大電流、高頻,、低耗,、靜音、多保護(hù)功能已成為大功率晶體管模塊的發(fā)展趨勢(shì),。大功率晶體管模塊的損壞主要可能有以下幾種原因造成:
a) 輸出負(fù)載發(fā)生短路;
b) 負(fù)載過大,，大電流持續(xù)出現(xiàn);
c) 負(fù)載波動(dòng)很大，導(dǎo)致浪涌電流過大,，都可能引起OC報(bào)警,，損壞功率模塊。
(3) 驅(qū)動(dòng)大功率晶體管工作的驅(qū)動(dòng)電路的損壞也是導(dǎo)致過流報(bào)警的一個(gè)原因,。富士G7S,、G9S分別使用了PC922，PC923兩種光耦作為驅(qū)動(dòng)電路的核心部分,，由于內(nèi)置放大電路,，線路設(shè)計(jì)簡(jiǎn)單，被包括富士變頻器在內(nèi)的多家變頻器廠家廣泛使用,。驅(qū)動(dòng)電路損壞表現(xiàn)出來zui常見的現(xiàn)象就是缺相,，或三相輸出電壓不平衡。
檢測(cè)電路的損壞也會(huì)導(dǎo)致變頻器顯示OC報(bào)警,，檢測(cè)電流的霍爾傳感器由于受溫度,，濕度等環(huán)境因數(shù)的影響,，工作點(diǎn)很容易發(fā)生飄移，導(dǎo)致OC報(bào)警,。
富士變頻器開關(guān)電源損壞
開關(guān)電源損壞一個(gè)比較明顯的特征就是變頻器上電無顯示,，富士G5S采用了兩級(jí)開關(guān)電源，它先把中間直流回路的直流電壓由500多V轉(zhuǎn)變成300多V,，然后再通過一級(jí)開關(guān)電源輸出5V,，24V等多路電源，開關(guān)電源的損壞常見的有開關(guān)管擊穿,，脈沖變壓器燒壞,，以及次級(jí)輸出整流兩極管損壞，濾波電容使用時(shí)間過長(zhǎng),，導(dǎo)致電容特性變化,，帶載能力下降，也很容易引起開關(guān)電源的損壞,。富士G9S則使用了一片開關(guān)電源的波形發(fā)生芯片,，由于受到主回路高電壓的竄入，經(jīng)常會(huì)導(dǎo)致此芯片的損壞,，由于此芯片市場(chǎng)很少能買到,，引起的損壞較難修復(fù)。
富士變頻器整流橋損壞
整流橋的損壞也是富士變頻器常見的故障,，富士G7S使用了一塊帶有可控硅的整流模塊,，它與普通整流橋的區(qū)別就在于它用可控硅替代了主回路接觸器，提高了機(jī)器的可靠性,。G9S小功率機(jī)器整流橋則是集成可控硅與開關(guān)管于一體。整流橋的損壞常與機(jī)器外部電源有密切，當(dāng)整流橋發(fā)生故障后,，我們不能再盲目上電源,，應(yīng)先檢查外圍設(shè)備,。
富士變頻器 LV, OV 的損壞
欠壓和過壓也是富士變頻器的常見故障,，這有主電源因素而引起的故障報(bào)警，也有機(jī)器檢測(cè)電路損壞而引起報(bào)警的可能性,，富士G5S使用了一片定做的電壓檢測(cè)厚膜來檢測(cè)主回路直流電壓的高低,，G7S，G9S則是直接從直流主回路采樣檢測(cè),，其檢測(cè)效果是一樣的,。
此外富士變頻器也會(huì)經(jīng)常出現(xiàn)一些與主板有密切的報(bào)警，包括(Err,Er1,Er7,，Er3)等等，變頻器的故障是多種多樣的,，但變頻器的原理都大同小異,，只是在功能實(shí)現(xiàn)的線路上有所區(qū)別，這需要我們?cè)趯?shí)踐中不斷總結(jié),，更好更快地尋找問題，解決問題,，也希望我們這些從事變頻維修的人員能為廣大用戶提供更多的幫助,。