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北京北信科遠(yuǎn)儀器有限責(zé)任公司

主營(yíng)產(chǎn)品: 搖擺式脫色搖床,實(shí)驗(yàn)室電子分析天平,一體涂層測(cè)厚儀

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行業(yè)專用儀器儀表

物理學(xué)儀器

放射類/磁力儀器

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水位計(jì)/液位計(jì)/物位計(jì)

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食品安全系列

工程地質(zhì)勘探儀器

色譜儀

壓力傳感器/壓力儀表,、力學(xué)測(cè)試

測(cè)距儀/測(cè)速儀

礦用設(shè)備

實(shí)驗(yàn)室常用設(shè)備,、化行業(yè)工設(shè)備

無(wú)損檢測(cè)儀器/測(cè)厚儀系列

測(cè)溫儀,、溫度計(jì)系列

硬度計(jì)系列

流量計(jì)/流速儀

光學(xué)儀器

氣體檢測(cè)儀系列

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[供應(yīng)]SN/RTS-8-數(shù)字式四探針測(cè)試儀 電阻率方塊電阻測(cè)量?jī)x
SN/RTS-8-數(shù)字式四探針測(cè)試儀 電阻率方塊電阻測(cè)量?jī)x
貨物所在地:
北京北京市
更新時(shí)間:
2024-09-12 21:00:06
有效期:
2024年9月12日--2025年3月12日
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【簡(jiǎn)單介紹】數(shù)字式四探針測(cè)試儀 電阻率方塊電阻測(cè)量?jī)xRTS-8型數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的,,專用于測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的專用儀器,。
儀器由主機(jī)、測(cè)試臺(tái),、四探針探頭,、計(jì)算機(jī)等部分組成,測(cè)量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示,,亦可由計(jì)算機(jī)控制測(cè)試采集測(cè)試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析,。
【詳細(xì)說(shuō)明】

數(shù)字式四探針測(cè)試儀 電阻率方塊電阻測(cè)量?jī)x

型號(hào):SN/RTS-8

數(shù)字式四探針測(cè)試儀 電阻率方塊電阻測(cè)量?jī)x是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多用途綜合測(cè)量設(shè)備。該儀器按照單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的,,于測(cè)試半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)的儀器,。
    儀器由主機(jī)、測(cè)試臺(tái),、四探針探頭,、計(jì)算機(jī)等部分組成,測(cè)量數(shù)據(jù)既可由主機(jī)直接顯示,,亦可由計(jì)算機(jī)控制測(cè)試采集測(cè)試數(shù)據(jù)到計(jì)算機(jī)中加以分析,,然后以表格,圖形方式統(tǒng)計(jì)分析顯示測(cè)試結(jié)果,。
    
數(shù)字式四探針測(cè)試儀 電阻率方塊電阻測(cè)量?jī)x儀器采用了電子技術(shù)進(jìn)行設(shè)計(jì),、裝配。具有功能選擇直觀,、測(cè)量取數(shù)快,、精度高、測(cè)量范圍寬,、穩(wěn)定性好,、結(jié)構(gòu)緊湊、易操作等特點(diǎn)。
    本儀器適用于半導(dǎo)體材料廠,、半導(dǎo)體器件廠,、科研單位、高等院校對(duì)半導(dǎo)體材料的電阻性能測(cè)試,。

數(shù)字式四探針測(cè)試儀 電阻率方塊電阻測(cè)量?jī)x是一個(gè)運(yùn)行在計(jì)算機(jī)上擁有友好測(cè)試界面的用戶程序,,通過(guò)此測(cè)試程序輔助使用戶簡(jiǎn)便地進(jìn)行各項(xiàng)測(cè)試及獲得測(cè)試數(shù)據(jù)并對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析。
    測(cè)試程序控制四探針測(cè)試儀進(jìn)行測(cè)量并采集測(cè)試數(shù)據(jù),,把采集到的數(shù)據(jù)在計(jì)算機(jī)中加以分析,,然后把測(cè)試數(shù)據(jù)以表格,圖形直觀地記錄,、顯示出來(lái),。用戶可對(duì)采集到的數(shù)據(jù)在電腦中保存或者打印以備日后參考和查看,還可以把采集到的數(shù)據(jù)輸出到Excel中,,讓用戶對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行各種數(shù)據(jù)分析

 

技 術(shù) 指 標(biāo) :
 

 測(cè)量范圍

-5

可測(cè)晶片直徑

 140mmX150mm(配S-2A型測(cè)試臺(tái)),;
 200mmX200mm(配S-2B型測(cè)試臺(tái));
 400mmX500mm(配S-2C型測(cè)試臺(tái)),;

恒流源

 電流量程分為1μA,、10μA、100μA,、1mA,、10mA、100mA六檔,,各檔電流連續(xù)可調(diào)

數(shù)字電壓表

 量程及表示形式:000.00~199.99mV,;    
 分辨力:10μV;
 輸入阻抗:>1000MΩ,;
 精度:±0.1% ,;
 顯示:四位半紅色發(fā)光管數(shù)字顯示;極性,、超量程自動(dòng)顯示;

四探針探頭基本指標(biāo)

 間距:1±0.01mm,;
 針間絕緣電阻:≥1000MΩ,; 
 機(jī)械游移率:≤0.3%;
 探針:碳化鎢或高速鋼Ф0.5mm,;
 探針壓力:5~16 牛頓(總力),;

四探針探頭應(yīng)用參數(shù)

 (見(jiàn)探頭附帶的合格證)

模擬電阻測(cè)量相對(duì)誤差
( 按JJG508-87進(jìn)行)

 0.01Ω、0.1Ω,、1Ω,、10Ω、100Ω,、1000Ω,、10000Ω≤0.3%±1字

整機(jī)測(cè)量zui大相對(duì)誤差

(用硅標(biāo)樣片:0.01-180Ω.cm測(cè)試)≤±5%

整機(jī)測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)不確定度

 ≤5%

測(cè)試模式

 可連接電腦測(cè)試也可不連接電腦測(cè)試

軟件功能(選配)

軟件可記錄,、保存、打印每一點(diǎn)的測(cè)試數(shù)據(jù),,并統(tǒng)計(jì)分析測(cè)試數(shù)據(jù)zui大值,、zui小值、平均值,、zui大百分變化,、平均百分變化、徑向不均勻度,、并將數(shù)據(jù)生成直方圖,,也可把測(cè)試數(shù)據(jù)輸出到Excel中,對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行各種數(shù)據(jù)分析,。軟件還可選擇自動(dòng)測(cè)量功能,,根據(jù)樣品電阻大小自動(dòng)選擇適合電流量程檔測(cè)試。

計(jì)算機(jī)通訊接口

 并口,,高速并行采集數(shù)據(jù),,連接電腦使用時(shí)采集數(shù)據(jù)到電腦的時(shí)間只需要1.5  秒(在 0.1mA、1mA,、10mA,、100mA量程檔時(shí))。

標(biāo)準(zhǔn)使用環(huán)境

 溫度:23±2℃,;
 相對(duì)濕度:≤65%,;
 無(wú)高頻干擾;
 無(wú)強(qiáng)光直射,;


產(chǎn)品對(duì)比 產(chǎn)品對(duì)比 二維碼

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