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北京北信科遠儀器有限責任公司
主營產品: 搖擺式脫色搖床,實驗室電子分析天平,一體涂層測厚儀 |
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聯(lián)系電話
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單晶少子壽命測試儀 非平衡少數(shù)載流子壽命測定儀
型號:SN/LT-2
LT-2型單晶少子壽命測試儀是參考美國 A.S.T.M 標準而設計的用于測量硅單晶的非平衡少數(shù)載流子壽命,。半導體材料的少數(shù)載流子壽命測量,,是半導體的常規(guī)測試項目之一。本儀器靈敏度較高,,配備有紅外光源,,可測量包括集成電路級硅單晶在內的各種類型硅單晶,以及經熱處理后壽命驟降的硅單晶,、多晶磷檢棒的壽命測量等,。 | ||||||||||||||||||||||||
本儀器根據通用方法高頻光電導衰退法的原理設計,由穩(wěn)壓電源、高頻源,、檢波放大器,,特制的InGaAsp/InP紅外光源及樣品臺共五部份組成。采用印刷電路和高頻接插連接,。整機結構緊湊,、測量數(shù)據可靠。 | ||||||||||||||||||||||||
技 術 指 標: | ||||||||||||||||||||||||
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