![]() |
北京北信科遠儀器有限責(zé)任公司
主營產(chǎn)品: 搖擺式脫色搖床,實驗室電子分析天平,一體涂層測厚儀 |

聯(lián)系電話
![]() |
北京北信科遠儀器有限責(zé)任公司
主營產(chǎn)品: 搖擺式脫色搖床,實驗室電子分析天平,一體涂層測厚儀 |
聯(lián)系電話
硅片缺陷觀測儀 位錯層錯劃痕測定儀
型號:GR/HS-WDI
硅片缺陷觀測儀(HS-WDI),,于對硅片的缺陷進行觀察,效果非常明顯,,包括肉眼無法觀測的位錯,、層錯、劃痕,、崩邊等,。
硅片缺陷觀測儀 位錯層錯劃痕測定儀北京供應(yīng)實時對圖像進行分析、測量和統(tǒng)計,,提高傳統(tǒng)光學(xué)儀器的使用內(nèi)涵,。配合投影儀和計算機等顯示、存儲設(shè)備,,能更好的觀測和保存研究結(jié)果,;產(chǎn)品特點
■適用于對硅片的缺陷觀察效果,非常明顯,,包括肉眼無法觀測的位錯,、層錯、劃痕,、崩邊等,;
■使硅片缺陷觀察工作簡單化,準(zhǔn)確化,,同時大大的程度降低此項工作強度,;
■實時對圖像進行分析、測量和統(tǒng)計,,提高傳統(tǒng)光學(xué)儀器的使用內(nèi)涵,。配合投影儀和計算機等顯示、存儲設(shè)備,,能更好的觀測和保存研究結(jié)果,;
■硅片缺陷觀測儀 位錯層錯劃痕測定儀北京供應(yīng)使用 1/2"CMOS 感光芯片,具有體積小,技術(shù)*,,像素較高,, 成像清晰 、線條細膩,、色彩豐富,;
■傳輸接口為 USB2.0 高速接口, 軟件模塊化設(shè)計 ,;
■有效分辨率為 200 萬像素,;
■所配軟件能兼容 windows 2000 和 windows XP 操作系統(tǒng)。
硅片缺陷觀測儀 位錯層錯劃痕測定儀北京供應(yīng)推薦工作條件
■溫度:23±2℃
■濕度:60%~70%
■無強磁場,、不與高頻設(shè)備鄰近