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北京北信科遠(yuǎn)儀器有限責(zé)任公司
主營產(chǎn)品： 搖擺式脫色搖床,實(shí)驗(yàn)室電子分析天平,一體涂層測厚儀 |
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聯(lián)系電話
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北京北信科遠(yuǎn)儀器有限責(zé)任公司
主營產(chǎn)品： 搖擺式脫色搖床,實(shí)驗(yàn)室電子分析天平,一體涂層測厚儀 |
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硅片缺陷觀測儀 位錯層錯劃痕測定儀
型號：GR/HS-WDI
硅片缺陷觀測儀(HS-WDI),，于對硅片的缺陷進(jìn)行觀察，效果非常明顯,，包括肉眼無法觀測的位錯,、層錯、劃痕,、崩邊等,。
硅片缺陷觀測儀 位錯層錯劃痕測定儀北京供應(yīng)實(shí)時對圖像進(jìn)行分析、測量和統(tǒng)計(jì),，提高傳統(tǒng)光學(xué)儀器的使用內(nèi)涵,。配合投影儀和計(jì)算機(jī)等顯示、存儲設(shè)備,，能更好的觀測和保存研究結(jié)果,；產(chǎn)品特點(diǎn)
■適用于對硅片的缺陷觀察效果，非常明顯,，包括肉眼無法觀測的位錯,、層錯、劃痕,、崩邊等,；
■使硅片缺陷觀察工作簡單化，準(zhǔn)確化,，同時大大的程度降低此項(xiàng)工作強(qiáng)度,；
■實(shí)時對圖像進(jìn)行分析、測量和統(tǒng)計(jì),，提高傳統(tǒng)光學(xué)儀器的使用內(nèi)涵,。配合投影儀和計(jì)算機(jī)等顯示、存儲設(shè)備,，能更好的觀測和保存研究結(jié)果,；
■硅片缺陷觀測儀 位錯層錯劃痕測定儀北京供應(yīng)使用 1/2"CMOS 感光芯片，具有體積小,，技術(shù)*,，像素較高,， 成像清晰 、線條細(xì)膩,、色彩豐富,；
■傳輸接口為 USB2.0 高速接口， 軟件模塊化設(shè)計(jì) ,；
■有效分辨率為 200 萬像素,；
■所配軟件能兼容 windows 2000 和 windows XP 操作系統(tǒng)。
硅片缺陷觀測儀 位錯層錯劃痕測定儀北京供應(yīng)推薦工作條件
■溫度：23±2℃
■濕度：60%~70%
■無強(qiáng)磁場,、不與高頻設(shè)備鄰近
