超高阻雙電四探針測(cè)試儀
BXA58超高阻雙電四探針測(cè)試儀
一,、概述：
本品為解決四探針?lè)y(cè)試超高阻值材料方阻及電阻率，最大可以測(cè)試到1010Ω方阻值,，是目前同行業(yè)中能測(cè)量到的最大方阻值,，選購(gòu)：本機(jī)還可以配合各類(lèi)環(huán)境溫度試驗(yàn)箱體使用，通過(guò)不同的測(cè)量治具滿足不同環(huán)境溫度下測(cè)量方阻和電阻率的需求.采用高精度AD芯片控制,，恒流輸出,，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便,，運(yùn)輸安全,、使用方便；適用于生產(chǎn)企業(yè),、高等院校,、科研部門(mén)，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具,。本儀器配置各類(lèi)測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料,。液晶顯示，無(wú)需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能,，電阻率單位自動(dòng)選擇,，儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無(wú)需人工多次和重復(fù)設(shè)置,。選配：配備軟件可以由電腦操控,，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成報(bào)表,；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示液晶顯示：電阻,、電阻率,、方阻、溫度,、單位換算,、溫度系數(shù)、電流,、電壓,、探針形狀、探針間距,、厚度,、電導(dǎo)率，配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求,。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu),。雙電測(cè)數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測(cè)量。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn),。利用電流探針,、電壓探針的變換，進(jìn)行兩次電測(cè)量,，對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測(cè)分析,，自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響,，它與單電測(cè)直線或方形四探針相比,，大大提高精確度，特別是適用于斜置式四探針對(duì)于微區(qū)的測(cè)試,。
二,、廣泛用于：
覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高,、低溫電熱膜;隔熱,、防放射導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽,、合金類(lèi)箔膜;熔煉,、燒結(jié)、濺射,、涂覆,、涂布層，電阻式,、電容式觸屏薄膜;電極涂料,，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測(cè)試,；硅晶塊,、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層,、ITO導(dǎo)電箔膜,、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻；半導(dǎo)體材料/晶圓,、太陽(yáng)能電池,、電子元器件，導(dǎo)電薄膜（ITO導(dǎo)電膜玻璃等）,，金屬膜,，導(dǎo)電漆膜，蒸發(fā)鋁膜,，PCB銅箔膜,，EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率 導(dǎo)電性油漆，導(dǎo)電性糊狀物,，導(dǎo)電性塑料,，導(dǎo)電性橡膠，導(dǎo)電性薄膜,，金屬薄膜,，抗靜電材料，EMI 防護(hù)材料,，導(dǎo)電性纖維,，導(dǎo)電性陶瓷等；
三,、參數(shù)資料：
1.方塊電阻范圍：101～2×1010Ω/□
2.電阻率范圍：102～2×1011-cmΩ
3.測(cè)試電流范圍：1mA ---1pA
4.電流精度：±0.1%讀數(shù)
5.電阻精度：108Ω以下≤5%,；108Ω以上≤20%
6.顯示讀數(shù)：液晶顯示：電阻、電阻率,、方阻,、溫度,、單位換算、溫度系數(shù),、電流,、電壓、探針形狀,、探針間距,、厚度、電導(dǎo)率.
7.測(cè)試方式: 雙電測(cè)量
8.工作電源:輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：<30W
9.整機(jī)不確定性誤差:≤4%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果）
10.選購(gòu)功能: 1.pc軟件,；2.方形探頭,；3.直線形探頭；4.測(cè)試平臺(tái)
11.測(cè)試探頭：探針間距選購(gòu)：1mm,；2mm,；3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購(gòu)：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針
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