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北京北信科遠儀器有限責(zé)任公司
主營產(chǎn)品： 搖擺式脫色搖床,實驗室電子分析天平,一體涂層測厚儀 |
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2017-1-20 閱讀(2707)
1 前言
特種設(shè)備檢驗檢測機構(gòu)(含綜合檢驗機構(gòu),、無損檢測機構(gòu)，下同)應(yīng)當(dāng)根據(jù)國務(wù)院[2003]第373號令《特種設(shè)備安全監(jiān)察條例》的規(guī)定,，經(jīng)國務(wù)院特種設(shè)備安全監(jiān)督管理部門核準,，方可從事特種設(shè)備檢驗檢測工作，并對檢驗檢測結(jié)果,、鑒定結(jié)論承擔(dān)法律責(zé)任,。
這些經(jīng)核準的特種設(shè)備檢驗檢測機構(gòu)，往往為了提高機構(gòu)的度,、為了提高機構(gòu)的質(zhì)量管理水平,、為了滿足客戶的要求，還會獲取計量認證,、實驗室認可,、檢查機構(gòu)認可等資格。
上述資格核準,、計量認證,、實驗室認可、檢查機構(gòu)認可的規(guī)則,、準則中,，對無損檢測儀器設(shè)備均提出了檢定、校準和核查等的要求,。
按照資格核準的TSG Z7003《特種設(shè)備檢驗檢測機構(gòu)質(zhì)量體系要求》中第十九條(二)規(guī)定：檢測儀器設(shè)備在投入工作前應(yīng)當(dāng)進行檢定(校準),、核查，以驗證其能夠滿足檢驗檢測的需要,。應(yīng)當(dāng)使用適宜標(biāo)識表明其檢定(校準)狀態(tài),。
按照計量認證的《實驗室資質(zhì)認定評審準則》中第5.5.1條規(guī)定：實驗室應(yīng)確保其相關(guān)檢測結(jié)果能夠溯源至國家基標(biāo)準,。實驗室應(yīng)制定和實施儀器設(shè)備的校準和/或檢定(驗證)、確認的總體要求,。對于設(shè)備校準,，應(yīng)繪制能溯源到國家計量基準的量值傳遞方框圖(適用時)，以確保在用的測量儀器設(shè)備量值符合計量法制規(guī)定;第5.6.1條規(guī)定：用于檢測和/或校準的對檢測,、校準和抽樣結(jié)果的準確性或有效性有顯著影響的所有設(shè)備,，包括輔助測量設(shè)備(例如用于測量環(huán)境條件的設(shè)備)，在投入使用前應(yīng)進行校準,。實驗室應(yīng)制定設(shè)備校準的計劃和程序,。
按照實驗室認可的CNAS-CLO1《檢測和校準實驗室能力認可準則》(ISO/IEC 17025：2005)中第5.5.2條的規(guī)定：對結(jié)果有重要影響的儀器的關(guān)鍵量或值，應(yīng)制定校準計劃,。設(shè)備(包括用于抽樣的設(shè)備)在投入服務(wù)前應(yīng)進行校準或核查,，以證實其能夠滿足實驗室的規(guī)范要求和相應(yīng)的標(biāo)準規(guī)范。設(shè)備在使用前應(yīng)進行核查和/或校準,。
但是,，在無損檢測儀器設(shè)備實際管理中，那些儀器設(shè)備需要檢定?那些需要校準?如何進行自校準?如何進行核查(驗證)?等等,，由于理解不一、說法不一,，均困惑著我們,。
筆者zui近解讀了香港實驗室認可的《鋼和金屬焊接的無損檢測的認可準則增補第15》(HOKLAS Supplementary Criteria 5《Accreditation of Non-Destructive Tests for Welding of Steel and Metal》)，受該準則增補的啟發(fā),，就保證檢測結(jié)果準確和量值溯源上,，筆者對特種設(shè)備無損檢測儀器設(shè)備的檢定、校準及校驗提出一些相應(yīng)的要求,，并試圖滿足特種設(shè)備檢驗檢測機構(gòu)資格核準,、計量認證、實驗室認可的要求,。
2 關(guān)于無損檢測儀器設(shè)備檢定,、校準/自校準與校驗的理解
2.1 關(guān)于檢定
檢定具有法定性，屬于《計量法》計量管理范疇的執(zhí)法行為,，檢定的結(jié)論具有法律效力;檢定是對測量器具的計量特征及技術(shù)要求的全面評價,，這種全面評定屬于量值統(tǒng)一的范疇，是自上而下的量值傳遞過程;檢定的依據(jù)是檢定規(guī)程(JJG),。故,，凡列入《中華人民共和國強制檢定的工作計量器具明細目錄》(原國家計量局[1987]量局法字第188號，后國家質(zhì)檢總局先后三次頒布國家強制檢定目錄[1991]374號,、[1999]15號,、[2001]162號共計相數(shù)61相,、種數(shù)118種)的，并直接用于貿(mào)易結(jié)算,、安全防護,、醫(yī)療衛(wèi)生、環(huán)境監(jiān)測的檢測儀器設(shè)備必須嚴格依法定點,、定期送有資格的法定計量檢定機構(gòu)和授權(quán)計量檢定機構(gòu)進行強制檢定,，檢定合格的發(fā)檢定合格證書。列入強制檢定的有：天平,、壓力表,、接地電阻測量儀表、絕緣電阻測量儀,、有害氣體分析儀,、分光光度計、電離放射防護儀(射線監(jiān)測儀,、照射量率儀,、放射性表面污染儀、個人劑量計等),。
計量檢定的依據(jù)必須是計量檢定規(guī)程,。國家計量檢定規(guī)程由國務(wù)院計量行政部門制定。
無損檢測儀器設(shè)備方面,，制定有計量檢定規(guī)程有：JJG746-2004《超聲波探傷儀檢定規(guī)程》,、JJG40-2001《X射線機檢定規(guī)程》、JJG452-1986《黑白標(biāo)準密度片檢定規(guī)程》,、JJG100-1992《磁粉探傷機檢定規(guī)程》,、JJG403-1986《超聲波測厚儀檢定規(guī)程》、JJG747-1999《里氏硬度計檢定規(guī)程》等,。
另外,，凡列入《中華人民共和國依法管理的計量器具目錄(型式批準部分)》(2005年第145號，自2006年5月1日起施行)的執(zhí)行計量器具許可證,、型式批準和進口計量器具檢定,。列入依法管理的有：測厚儀、接地電阻測量儀表,、絕緣電阻測量儀,、噪聲測量分析儀器、照度計,、個人劑量計,、電導(dǎo)儀、PH計、分光光度計測距儀,、經(jīng)緯儀,、全站儀、水準儀,、天平,、流量計、材料試驗機,、光譜儀,、濁度計等。
隨著我國改革開放及經(jīng)濟的發(fā)展,，我國加入WTO之后,，法制計量的范圍將隨之調(diào)整，今后要強化檢定的法制性,，屬強制檢定的計量器具實施檢定,，非強制檢定的計量器具可采用校準、比對,、測試等方式達到統(tǒng)一量值,、溯源的目的。
2.2 關(guān)于校準和自校準
校準不具有法制性,，是檢驗機構(gòu)自愿溯源行為,，校準的結(jié)論不具備法律效力，給出的《校準證書》只是標(biāo)明量值誤差,，屬于一種技術(shù)文件;校準的目的是對照計量標(biāo)準,，評定測量裝置的示值誤差，確保量值準確,，屬于自下而上量值溯源的一組操作;校準的依據(jù)是校準規(guī)范(JJF)或參照檢定規(guī)程(JJG)。故對于大量的非強制檢定的檢測儀器設(shè)備,，為確保其準確可靠,，為使其測量結(jié)果具有溯源性，以采取校準為主要方式,。校準溯源一般由有授權(quán)或認證的檢定或校準技術(shù)機構(gòu)進行,，也可由檢驗機構(gòu)自行開展自校準。
因而,，校準是實現(xiàn)量值統(tǒng)一和準確可靠的重要途徑,。實際上，校準一直起著這個作用,，只是在我國沒有明確地確定它在量值傳遞及量值溯源中的地位,，而一直由*統(tǒng)一管理，實施單一的量值傳遞體系，僅僅采用檢定作為惟一合法的方式,，這已不適應(yīng)目前經(jīng)濟和技術(shù)發(fā)展的需要,。此外，根據(jù)校準的定義,，它可以直觀地理解為是確定示值誤差及其他計量特性的一組操作,，所以在實施檢定的計量性能檢查中就包含著校準。
檢驗檢測機構(gòu)開展自校準時,，應(yīng)按照國家現(xiàn)有的檢定規(guī)程或校準方法制定“自校準方法”,，“自校準方法”參考《國家計量檢定規(guī)程編寫規(guī)則》JJF1002-1998編制，并提供試驗,、比對驗證技術(shù)報告,，證明“自校準方法”的正確、可靠和可行,，同時自校準采用的工作標(biāo)準或工作基準應(yīng)能溯源到標(biāo)準或國家基準,。并且，自校準應(yīng)有測量不確定度的分析,，給出因校準產(chǎn)生的修正因子,。
例：超聲波測厚儀如進行自校準的話，就應(yīng)有經(jīng)校準合格的階梯試塊作為自校準的工作基準,。
2.3 關(guān)于校驗
定期對無損檢測設(shè)備進行校驗,，以了解設(shè)備情況，證明設(shè)備符合狀態(tài)良好,，符合檢測要求,。校驗的方法可參照相應(yīng)標(biāo)準(如JB/T4730 -2005《承壓設(shè)備無損檢測》)或儀器設(shè)備的技術(shù)說明書，甚至文獻介紹等,。校驗可由使用單位進行,，也可送外有資格單位進行校驗。使用單位自己校驗時,，建議制定出相應(yīng)的校驗作業(yè)指導(dǎo)書或者列出指導(dǎo)校驗操作的依據(jù)方法,。
例：JB/T4730 -2005《承壓設(shè)備無損檢測》要求，黑度計每6個月校驗一次,，校驗方法可按JB 4730.2附錄B要求;電磁軛磁粉探傷機的提升力至少半年校驗一次,，校驗時應(yīng)有經(jīng)校準合格的提升力試塊。
3 香港實驗室認可準則增補第15的解讀
香港實驗室認可的《鋼和金屬焊接的無損檢測的認可準則增補第15》是對對HKAS002(香港認可處)和HOKLAS 003(實驗室認可計劃-ISO/IEC 17025:2005)的補充和解釋,。其在檢測設(shè)備及其校準方面專門有一個附錄,，對各種檢測儀器設(shè)備提出了校準/校驗的要求，見下表：
3.1 UT檢測校準要求
設(shè)備類型 | 建議zui長校準/ 校驗間隔 | 校準/校驗的工藝或指南 以及所需要的設(shè)備 |
探頭和電傳感裝置 （組合調(diào)試） | 每次使用前 | 校準試塊參考標(biāo)準或校準試塊 |
校準試塊參考標(biāo)準（例如：V1/A2,、IOW,、V2/A4、階梯試塊和A7試塊）（材料性能） | zui初 | 符合EN27963或BS2704 或相當(dāng)?shù)臉?biāo)準，制造商的合格書 |
校準試塊參考標(biāo)準（例如：V1/A2,、IOW,、V2/A4、階梯試塊和A7試塊）（表面狀態(tài)） | 每次使用前 | 外觀檢查腐蝕及機械損傷情況 |
校準試塊參考標(biāo)準 （半徑及其它尺寸檢查） | 8年 | 按HOKLAS003 之5.6.H（d）條款規(guī)定的有資格的校準機構(gòu) |
校準試塊 （檢測現(xiàn)場使用,，例如：V2/A4試塊） | zui初 | 按HOKLAS003 之5.6.H（d）條款定義的有資格的校準機構(gòu) |
1年 | 參照適合的校準試塊參考標(biāo)準檢查尺寸 | |
比對校準試塊 （材料性能,，例如：DAC試塊） | zui初 | 制造商的材料證書 |
比對校準試塊 （表面狀態(tài)，例如：DAC試塊） | 每次使用前 | 外觀檢查腐蝕及機械損傷情況 |
比對校準試塊 （尺寸,，例如：DAC試塊） | 1年 | 用經(jīng)校準合格的測量工具檢查尺寸 |
超聲波檢測系統(tǒng) （探傷儀,、探頭和連接電纜） | ||
a、檢查外觀損壞情況 | 每次使用前 | 檢查所有部件及相關(guān)裝置的外觀 |
b,、水平線性 | 每次使用前 | 按BS2704,，EN27963校準試塊或相當(dāng)?shù)脑噳K |
c、垂直線性 | 每次使用前 | 按BS2704,，EN27963校準試塊或相當(dāng)?shù)脑噳K |
超聲波探傷儀 | 2年 | 按HOKLAS003 之5.6.H（d）條款定義的有資格的校準機構(gòu),，符合BS4331或其它相當(dāng)?shù)腅N、ISO標(biāo)準要求 |
超聲波探頭 （特征參數(shù)） | ||
a,、探頭前沿 | 每次使用前 | 按BS2704,，EN27963校準試塊或相當(dāng)?shù)脑噳K |
b、探頭角度 | 每次使用前 | |
c,、主聲束偏離（偏斜） | 每次使用前 | |
d,、傳輸補償 | 每次使用前 | 按BS2704，BS EN583-2校準試塊或相當(dāng)?shù)脑噳K |
e,、靈敏度和信噪比 | 每個月 | 按BS2704,，EN27963校準試塊或相當(dāng)?shù)脑噳K |
f、總系統(tǒng)增益 | 每個月 | |
g,、聲束剖面尺寸 | 每個月 | 按BS2704校準試塊或相當(dāng)?shù)脑噳K |
設(shè)備類型 | 建議zui長校準/ 校驗間隔 | 校準/校驗的工藝或指南 以及所需要的設(shè)備 |
磁懸液中固體物含量
| 每批 | 符合標(biāo)準（例如：BS,、ASTM、或EN）的制造商的合格證書 |
每批樣品 | 檢查磁懸液中固體物含量符合相關(guān)標(biāo)準 | |
熒光磁懸液及磁粉 （在檢測表面） | 每次檢測前 | 使用符合相關(guān)標(biāo)準的黑光幅照計檢查黑光幅照度 |
熒光磁懸液及磁粉 （周圍環(huán)境白光亮度） | 每次檢測前 | 使用白光照度計檢查周圍環(huán)境白光亮度 |
非熒光磁懸液及磁粉 （在檢測表面） | 每次檢測前 | 使用白光照度計檢查照明強度 |
黑光幅照計 （作為參考標(biāo)準表使用） | 1年 | 有資格的校準機構(gòu) |
黑光幅照計 （在工作中使用） | 1個月 | 與參考標(biāo)準表對比檢查 |
白光照度計 （作為參考標(biāo)準表使用） | 1年 | 有資格的校準機構(gòu) |
白光照度計 （在工作中使用） | 1個月 | 與參考標(biāo)準表對比檢查 |
*磁鐵和電磁軛 | 每次檢測前 | 通過測量提升力或拉脫力檢查是否符合相關(guān)標(biāo)準 |
提升力重力試塊 （用于檢查磁力強度） | 2年 | 采用合適的秤重天平校準 |
磁場方向 | 每次檢測前 | 使用磁場指示器檢查磁場方向符合相關(guān)的標(biāo)準 |
磁場指示器 | zui初 | 制造商的合格證 |
磁懸液指示靈敏度 | 3個月 | 使用符合相關(guān)標(biāo)準的靈敏度試片 |
設(shè)備類型 | 建議zui長校準/ 校驗間隔 | 校準/校驗的工藝或指南 以及所需要的設(shè)備 |
滲透檢測劑 | 每次檢測前 | 符合相關(guān)標(biāo)準的制造商合格證書 |
熒光滲透檢測 （在檢測表面檢查黑光輻照度） | 每次檢測前 | 使用黑光幅照計檢查黑光幅照度 |
非熒光滲透檢測 （在檢測表面檢查白光照度） | 1年 | 使用白光照度計檢查照明強度 |
黑光幅照計 （作為參考標(biāo)準表使用） | 1年 | 有資格的校準機構(gòu) |
黑光幅照計 （在工作中使用） | 1個月 | 與參考標(biāo)準表對比檢查 |
白光照度計 （作為參考標(biāo)準表使用） | 1年 | 有資格的校準機構(gòu) |
白光照度計 （在工作中使用） | 1個月 | 與參考標(biāo)準表對比檢查 |
設(shè)備類型 | 建議zui長校準/ 校驗間隔 | 校準/校驗的工藝或指南 以及所需要的設(shè)備 |
X射線設(shè)備 | 1年 | 檢查焦點尺寸符合相關(guān)的標(biāo)準 |
針空板（當(dāng)標(biāo)準有要求時） （用于檢查焦點尺寸） | 10年 | 按HOKLAS003 之5.6.H（d）條款定義的有資格的校準機構(gòu) |
幾何不清晰度 （當(dāng)標(biāo)準有要求時） | 每次檢測前 | BS2600：1983圖2和A.8條款或相關(guān)標(biāo)準 |
放射同位素 | zui初 | 有衰減圖及尺寸記錄的檔案,，制造商的合格證 |
r射線曝光量計算器 | zui初 | 制造商的合格證,，或使用適當(dāng)?shù)臋z查方法 |
射線底片（每批） | zui初 | 檢查每批樣品未曝光的灰霧度 |
像質(zhì)計（IQI） | zui初 | 符合相關(guān)標(biāo)準的制造商合格證 |
射線膠片 （分級和使用） | zui初 | 符合相關(guān)標(biāo)準的分級 |
射線膠片 （膠片處理） | 每次使用后 | 膠片處理符合膠片制造商推薦的方法 |
射線底片 （膠片處理之后） | 每次評片前 | 使用黑度計或黑度片檢查黑度，通過IQI確認底片的影像質(zhì)量 |
黑度計 | 1個月 | 按照標(biāo)準黑度片校準 |
標(biāo)準黑度片 （作為參考標(biāo)準） | 5年 | 制造商的合格證 |
射線劑量計 | 1年 | 放射管理局（Radiation Board）認可的實驗室 |
北京富瑞恒創(chuàng)科技有限公司是集專業(yè)設(shè)計,、開發(fā)、生產(chǎn)與銷售于一體的高新技術(shù)股份制企業(yè),，專注于新型材料試驗機的研制,、材料檢測技術(shù)的提高及材料試驗方法的創(chuàng)新，是國內(nèi)的材料試驗檢測儀器的生產(chǎn)企業(yè),。
4 無損檢測儀器設(shè)備檢定與校準的要求
特種設(shè)備檢驗檢測機構(gòu),，為了滿足機構(gòu)核準、計量認證、實驗室認可的要求,，為了保證檢測結(jié)果準確和量值溯源上,，結(jié)合檢測儀器設(shè)備性能對檢測結(jié)果的影響和JB4730-2005《承壓設(shè)備無損檢測》的要求，筆者就常用于特種設(shè)備無損檢測的各種檢測儀器設(shè)備分別提出檢定,、校準或校驗的建議,。
4.1 UT 儀器的校準/校驗要求
(1)初次使用前，標(biāo)準試塊尺寸精度應(yīng)經(jīng)授權(quán)校準機構(gòu)校準合格;
(2)標(biāo)準試塊,、對比試塊每次使用前應(yīng)校驗外觀檢查腐蝕及機械損傷情況;每隔4年應(yīng)用檢定/校準合格的器具校驗半徑及其它尺寸,。
(3)超聲波探傷儀每1年送法定計量檢定機構(gòu)或授權(quán)校準機構(gòu)進行檢定/校準，執(zhí)行JJG 746-2004《超聲波探傷儀檢定規(guī)程》,。
(4)超聲波探傷機每隔3個月,，應(yīng)進行一次水平線性、垂直線性校驗,，采用標(biāo)準試塊,，方法按照JB/T 9214-1999《A型脈沖反射式超聲波探傷系統(tǒng)工作性能 測試方法》;
(5)探頭使用前應(yīng)進行前沿距離(入射點)、K值(折射角β)與雙峰,、主聲束偏離等主要參數(shù)進行校驗,，方法按照JB/T 10062-1999《超聲探傷用探頭 性能測試方法》;
(6)超聲檢測系統(tǒng)每次使用前應(yīng)進行靈敏度余量、儀器和直探頭組合的始脈沖寬度(在基準靈敏度下),、遠場分辨力等進行校驗,，方法按照JB/T 9214-1999《A型脈沖反射式超聲波探傷系統(tǒng)工作性能 測試方法》、JB/T 10062-1999《超聲探傷用探頭 性能測試方法》,。
4.2 MT 儀器的校準/校驗要求
(1)*磁鐵或電磁軛磁粉探傷機的提升力至少半年校驗一次,，利用檢定或校準合格提升力重力試塊進行;
(2)初次使用的提升力重力試塊經(jīng)校準合格;提升力重力試塊每2年利用檢定或校準過的秤重器具校驗一次。
(3)磁粉檢測設(shè)備的電流表至少半年校準,，送有資格校準機構(gòu)進行校準;
(4)黑光輻照計,、照度計、磁場強度計,、毫特斯拉計等,，至少每1年送有資格校準機構(gòu)進行校準;
(5)磁粉檢測系統(tǒng)綜合性能(系統(tǒng)靈敏度)校驗，每天檢測工作開始前進行,，用標(biāo)準試片,、標(biāo)準試塊校驗。
(6)設(shè)備內(nèi)部短路檢查,、電流載荷校驗,、通電時間校驗等每年進行一次校驗。
4.3 PT儀器的校準/校驗要求
(1)黑光輻照度計,、熒光亮度計和照度計等儀器,，一般每1年送有資格校準機構(gòu)進行校準,。
4.4 RT 儀器的校準/校驗要求
(1)射線設(shè)備均應(yīng)制作曝光曲線，曝光曲線每年至少校驗一次;射線設(shè)備更換重要部件或經(jīng)較大修理后應(yīng)及時對曝光曲線進行校驗或重新制作,。
(2)黑度計(光學(xué)密度計)至少每6個月校驗一次,，采用標(biāo)準密度片校驗，校驗方法可按JB 4730.2附錄B要求;
(4)標(biāo)準密度片每2年送法定計量檢定機構(gòu)檢定一次,，執(zhí)行JJG 452-1986《黑白標(biāo)準密度片檢定規(guī)程》;
(5)個人劑量計,、劑量報警儀每1年送法定計量檢定機構(gòu)進行檢定或校準;
(6)觀片燈的亮度和均勻度應(yīng)每年校驗一次。
4.5 渦流儀的校準/校驗要求
(1)對比試塊應(yīng)用檢定/校準合格的器具校驗加工精度,，每次使用前應(yīng)校驗外觀檢查腐蝕及機械損傷情況;
(2)渦流探傷系統(tǒng)的檢測能力,、周向靈敏度差、端部盲區(qū),、分辨力,、連續(xù)工作穩(wěn)定性、線性等項目應(yīng)每半年校驗一次,，校驗方法按照GB/T 14480《渦流探傷系統(tǒng)性能測試方法》要求進行,。
4.6 測厚儀的校準/校驗要求
(1)測厚儀每1年送法定計量檢定機構(gòu)或授權(quán)校準機構(gòu)進行檢定/校準，執(zhí)行JJG 403-1986《超聲波測厚儀檢定規(guī)程》或JJF11266-2004《超聲波測厚儀校準規(guī)范》;
(2)涂層測厚儀每1年送法定計量檢定機構(gòu)進行檢定,，執(zhí)行JJG 889-1995《磁阻法測厚儀檢定規(guī)程》,、JJG818-1993《電渦流式測厚儀檢定規(guī)程》;
5 結(jié)語
特種設(shè)備檢驗檢測機構(gòu)為了地實施質(zhì)量管理、保證檢測結(jié)果準確和量值溯源,、保障無損檢測工作質(zhì)量,，需要加強檢測儀器設(shè)備的管理，同時,，無損檢測儀器設(shè)備的檢定,、校準和校驗也是特種設(shè)備無損檢測機構(gòu)資格核準、計量認證,、實驗室認可的需要,，筆者就廣大特種設(shè)備檢驗檢測機構(gòu)所共同關(guān)心的問題提出個人的建議，所提出的建議不一定成熟,，但也許能給讀者一些有益的啟發(fā)與幫助,。北京富瑞恒創(chuàng)科技有限公司。
