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當(dāng)前位置：島津企業(yè)管理（中國）有限公司>>表面分析>>掃描探針顯微鏡>> SPM-Nanoa原子力顯微鏡
SPM-Nanoa原子力顯微鏡性能特點(diǎn)：
自動(dòng)觀察
自動(dòng)完成光路調(diào)整,、掃描參數(shù)設(shè)定、圖像處理
使用標(biāo)準(zhǔn)樣品和標(biāo)準(zhǔn)探針時(shí)操作用時(shí)5分鐘*
*自動(dòng)觀察模式,，掃描范圍1um× 1um ,，256×256點(diǎn)陣。操作時(shí)長依賴于操作者。
傳統(tǒng)的原子力顯微鏡需要人工調(diào)整光路,、設(shè)定掃描參數(shù),、進(jìn)行圖像處理。但是SPM-Nanoa可以幫助用戶毫無壓力地完成這些操作,。
性能優(yōu)異
從光學(xué)顯微鏡到SPM/AFM,，各模式下均可清晰地捕捉圖像
利用光學(xué)顯微鏡搜索目標(biāo)區(qū)域，利用SPM可以方便地進(jìn)行高分辨率觀察,。利用與表面形狀圖像相同的視場可以獲得其他物理特性信息,。
樣品：硅基底上的二氧化硅圖案
豐富多樣的掃描模式
從形貌觀察到基于力曲線測量的物性分析，支持廣泛的掃描模式,。這意味著可以兼顧高分辨率與物性測試,。
| 形貌 | 接觸模式,、動(dòng)態(tài)模式 |
|---|---|
| 機(jī)械性能 | 相位模式,、側(cè)向力模式、力調(diào)制模式,、Nano 3D Mapping Fast * |
| 電磁學(xué) | 電流模式* ,、磁力模式* 、表面電勢模式* ,、壓電力模式* ,、STM * |
| 納米加工 | 矢量掃描模式* |
| 環(huán)境支持 | 液體環(huán)境* |
*為選配部件
搜尋目標(biāo)區(qū)域更容易
利用清晰地光學(xué)顯微鏡圖像，可以輕松找到目標(biāo)區(qū)域,，不用擔(dān)心振動(dòng)的影響,。
SPM-Nanoa集成了一體式高性能光學(xué)顯微鏡。
樣品視野
使用集成光學(xué)顯微鏡,，樣品表面的3um間隔圖案清晰可見,。
高分辨觀察表面物性
極軟樣品的變形或樣品局部的機(jī)械及電氣性能的差異，都可以獲得高分辨率的觀測圖像,。
用表面電勢模式觀察云母基底上的金納米顆粒
該圖顯示了0.2um范圍內(nèi)的表面電勢（右）和形貌圖像（左）
8K成像助力大范圍高分辨掃描
最大可支持8K（81929192）掃描點(diǎn)陣,，大范圍區(qū)域的小細(xì)節(jié)也纖毫畢現(xiàn)。
觀察金屬蒸鍍膜
省時(shí)高效
支持功能功能模式高速觀察
通過高速觀察和物性高速成譜功能,，顯著減少了觀測時(shí)間,。
探針更換工具和樣品更換機(jī)構(gòu)有效縮短了掃描準(zhǔn)備時(shí)間。
三個(gè)*設(shè)計(jì)極大縮短了觀測時(shí)間,。
高通量觀測
高速物性成譜
簡便順滑地樣品更換
便捷更換探針
高通量觀測
高速物性成譜
采用了可實(shí)現(xiàn)高速響應(yīng)的HT掃描器并優(yōu)化了控制算法,，從而大幅縮短了觀察和物性成像的數(shù)據(jù)獲取時(shí)間
*觀測時(shí)間受參數(shù)設(shè)定影響
簡便順滑地樣品更換
高速物性成譜
一鍵式操作實(shí)現(xiàn)自動(dòng)開啟、關(guān)閉平臺(tái),，放置和取出樣品,。
由于固定了激光的照射位置，所以在樣品更換后可立即進(jìn)行觀察。
探針更換簡單且可靠 Cantilever Master（選購）
僅需將探針放置在指定的位置,，并使其沿著導(dǎo)軌滑動(dòng)即可安裝,，即使操作人員不習(xí)慣使用鑷子，也能夠簡單準(zhǔn)確地進(jìn)行操作,。
