SPD-M40 i-PDeA Ⅱ(解卷積)功能操作流程
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引言
解卷積是一種通過對數(shù)據(jù)進行數(shù)學(xué)處理來還原樣品色譜圖信息的過程。在LC-40系列中,SPD-M40檢測器擁有了i-PDeA Ⅱ(解卷積)功能,。
i-PDeA Ⅱ(Intelligent Peak Deconvolution Analysis Ⅱ)是對光電二極管陣列(PDA)檢測器數(shù)據(jù)應(yīng)用化學(xué)計量的MCR-ALS(Multivariate Curve Resolution with Alternating Least Squares)法,,從未分離的峰內(nèi)提取目標(biāo)峰的數(shù)據(jù)分析方法。
未能通過色譜柱完全分離時也能準(zhǔn)確定量,,可在分析具有相同分子量的異構(gòu)體等情況下使用,。也可以對分離后的數(shù)據(jù)進行光譜識別。
智能峰解卷積功能,,可實現(xiàn)共流出化合物的智能分離,。如下圖所示:
i-PDeA Ⅱ(解卷積)功能操作流程
該功能操作簡便,可在LabSolutions再解析功能中直接處理數(shù)據(jù),,具體操作流程如下:
1,、在再解析中,打開PDA檢測器的數(shù)據(jù),,單擊方法視圖內(nèi)的【編輯】按鈕后,,在方法視圖的【多色譜圖】標(biāo)簽內(nèi)單擊Ch1的【類型】。
2,、設(shè)置截取波長210nm和帶寬4nm,,勾選去卷積,并根據(jù)目標(biāo)峰的洗脫時間設(shè)置去卷積條件(時間:1.6-2min,,波長:自動),。
3、單擊方法視圖內(nèi)的【視圖】按鈕,。程序?qū)?zhí)行去卷積和積分,。
以上,就是該功能的操作流程,,希望本文對您的工作有所幫助,。