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引言

解卷積是一種通過(guò)對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行數(shù)學(xué)處理來(lái)還原樣品色譜圖信息的過(guò)程,。在LC-40系列中,，SPD-M40檢測(cè)器擁有了i-PDeA Ⅱ（解卷積）功能,。

i-PDeA Ⅱ（Intelligent Peak Deconvolution Analysis Ⅱ）是對(duì)光電二極管陣列（PDA）檢測(cè)器數(shù)據(jù)應(yīng)用化學(xué)計(jì)量的MCR-ALS（Multivariate Curve Resolution with Alternating Least Squares）法,，從未分離的峰內(nèi)提取目標(biāo)峰的數(shù)據(jù)分析方法,。

未能通過(guò)色譜柱完全分離時(shí)也能準(zhǔn)確定量,，可在分析具有相同分子量的異構(gòu)體等情況下使用,。也可以對(duì)分離后的數(shù)據(jù)進(jìn)行光譜識(shí)別。

智能峰解卷積功能,，可實(shí)現(xiàn)共流出化合物的智能分離,。如下圖所示：

i-PDeA Ⅱ（解卷積）功能操作流程

該功能操作簡(jiǎn)便，可在LabSolutions再解析功能中直接處理數(shù)據(jù),，具體操作流程如下：

1,、在再解析中,，打開(kāi)PDA檢測(cè)器的數(shù)據(jù)，單擊方法視圖內(nèi)的【編輯】按鈕后,，在方法視圖的【多色譜圖】標(biāo)簽內(nèi)單擊Ch1的【類(lèi)型】,。

2、設(shè)置截取波長(zhǎng)210nm和帶寬4nm,，勾選去卷積,，并根據(jù)目標(biāo)峰的洗脫時(shí)間設(shè)置去卷積條件（時(shí)間：1.6-2min，波長(zhǎng)：自動(dòng)）,。

3,、單擊方法視圖內(nèi)的【視圖】按鈕。程序?qū)?zhí)行去卷積和積分,。

以上,，就是該功能的操作流程，希望本文對(duì)您的工作有所幫助,。