島津原子力顯微鏡——多維度納米材料測試
納米材料是近十余年來新興的功能材料類型,,一般而言納米材料在指在三維空間中至少有一維處于納米尺度,,即100 nm以下,,或是由此尺度的單元構(gòu)成的材料,。100nm相當于不到1000個原子緊密排列在一起,在這個尺度下,,材料表現(xiàn)出了不同于宏觀狀態(tài)的力、光,、電,、磁、熱等屬性,。因此成為化學(xué)和材料學(xué)科中研究非常廣泛,,進展很快的領(lǐng)域。
在納米尺度下,,對此類材料的形貌表征普通的光學(xué)觀察方式不再適用。因此常用的是電子顯微鏡和原子力顯微鏡,。而原子力顯微鏡因為具備三維高分辨表征能力而且環(huán)境適用范圍廣,,被廣泛運用于納米材料的分析與檢測。
納米材料按維度可以分為零維材料,、一維材料,、二維材料、三維材料,。
零維材料是指電子無法自由運動的材料,,如量子點、納米顆粒與粉末等,。
硅量子點太陽能電池形貌及粒度分布
GaAs (100)襯底上生長的In0.7Ga0.3As量子點
對于零維材料,,普遍關(guān)注的是顆粒的粒徑以及粒徑分布情況。從以上兩個用案例可以看出,,原子力顯微鏡可以很方便地獲得圖像及粒徑統(tǒng)計數(shù)據(jù),。
一維材料是指電子只能在一個方向上自由運動的材料,如納米線,、量子線,。早期研究較為深入的一維材料是碳納米管。
單壁碳納米管
上圖是對單壁碳納米管的觀測,。不僅可以直觀地看到其形貌,,而且可以通過斷面測量獲得管徑數(shù)值。
同樣的,,如果視野中觀察到了多條纖維,,原子力顯微鏡的分析處理軟件也可以對其進行統(tǒng)計分析。
2004年曼徹斯特大學(xué)Geim 小組成功分離出單原子層的石墨材料——石墨烯,,由此帶動了對二維材料的研究,。主要包括石墨烯、拓撲絕緣體,、過渡金屬硫系化合物,、黑磷等,。
其中研究較為深入的是石墨烯。由于其各種優(yōu)良屬性均依賴于單層或少數(shù)幾層,。所以對石墨烯的基本且重要的測試要求就是對層數(shù)的測量,。
在這一點上,原子力顯微鏡具有很好的優(yōu)勢,,也因此被列入了國家標準(GBT 40066—2021 納米技術(shù)氧化石墨烯厚度測量——原子力顯微鏡法),。
氧化石墨烯圖像
GBT 40066—2021中規(guī)定的厚度計算公式
上圖計算得到的計算數(shù)據(jù),可知該片氧化石墨烯厚度為0.630±0.039nm,,由此可推測這片氧化石墨烯為單層石墨烯,。
綜上所述,在納米材料領(lǐng)域,,原子力顯微鏡因其高分辨而且是三維成像的屬性,,成為各類納米材料常用的分析工具。
島津原子力顯微鏡歷經(jīng)三十余年的發(fā)展與積累,,應(yīng)對各種需求,,不斷推出新型號和新功能,為科學(xué)研究和技術(shù)發(fā)展提供得力的工具,。本文中所有圖片均為島津原子力顯微鏡獲得,。
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