紅外顯微鏡是將紅外光路引入到顯微鏡中，光學(xué)顯微鏡觀察微小樣品,，調(diào)節(jié)可變光闌的大小，選擇測試樣品中的某一微區(qū)，紅外光聚焦后,，進(jìn)行紅外分析,。顯微紅外法在微量樣品的紅外光譜測試中發(fā)揮著越來越大的作用,。異物分析技術(shù)通常應(yīng)用于生產(chǎn)出來的產(chǎn)品有一些斑點(diǎn)狀附著物,、油狀物,、粉狀物等異常缺陷或表面污染,，此時(shí)需要分析異物屬性,，進(jìn)而尋找污染源或環(huán)節(jié)，進(jìn)行排查,，以改善配方體系,，提高產(chǎn)品質(zhì)量。在電子電氣行業(yè),，生產(chǎn)工藝流程復(fù)雜,，過程中使用的物料眾多，操作流水線上的稍微疏漏,，都會(huì)導(dǎo)致產(chǎn)品中出現(xiàn)不明異物,。這不僅影響產(chǎn)品外觀，影響產(chǎn)品質(zhì)量,，甚至?xí)?dǎo)致生產(chǎn)停滯，給企業(yè)帶來不可估量的經(jīng)濟(jì)損失,。由于異物樣品較小,，顯紅外微法在微小異物分析中的顯著優(yōu)勢得以體現(xiàn),。

島津紅外顯微鏡 AIM-9000，可視圖像 330 倍放大,，可以實(shí)現(xiàn)zui小視野 30*40 μm 的觀測范圍,，大范圍廣角相機(jī)快速尋找異物點(diǎn),，自動(dòng)對焦,，定位待測點(diǎn)，測量的同時(shí)觀測測量位置,，確保異物點(diǎn)測量位置零偏移,。本文使用 AIM-9000 分析了手機(jī)鏡頭組件中的異物,。

島津公司新發(fā)布紅外顯微鏡 AIM-9000

了解詳情，敬請點(diǎn)擊《紅外顯微鏡法在電子產(chǎn)品異物分析中的應(yīng)用》