面向Beyond5G/ADAS應(yīng)用場景評估分析頻率特性的解決方案
這是Advantest太赫茲光學(xué)采樣分析系統(tǒng)的一個選項,。它適用于評估無線電波吸收器、印刷電路板材料,、聚合物材料等的頻率特性,，這些材料是下一代無線通信技術(shù)（后5G/6G）和用于ADAS（高級駕駛員輔助系統(tǒng)）的毫米波雷達所*的?？稍u估毫米波至太赫茲波段,，各種材料的傳輸特性（透射率、反射率）和復(fù)介電常數(shù),。
通常在評估各種材料在毫米波和高頻段區(qū)域的傳輸特性（透射率,、反射率）和復(fù)介電常數(shù)的時候我們會用到矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀 (VNA)* ，而如今隨著5G技術(shù)的廣泛應(yīng)用和衍生技術(shù)的迭代更新,，對于在更寬的帶寬上評估這些特性的需求變得更為迫切,。同時在使用VNA評估這些特性時需要設(shè)置和校準每個頻段，故此帶來的時間和精力消耗引發(fā)了一系列的問題,。
TAS7400TS太赫茲光學(xué)采樣分析系統(tǒng)新增高分辨率配件,。新配件為無線電波吸收材料和基材的高頻特性評估提供了開創(chuàng)性的測量方法，這對于后5G / 6G的下一代通信技術(shù)和ADAS（高級駕駛輔助系統(tǒng)）中使用的毫米波雷達技術(shù)而言是很重要的。
在新配件的加持下,，用戶可以通過使用緊湊的光學(xué)采樣系統(tǒng)獲得的更具優(yōu)勢的測量環(huán)境進行測量,，從而節(jié)省成本和空間。此外,，TAS7400TS的掃描測量配件可以分析表面頻率特性,，而此次新配件的頻率分辨率和掃描速度是以前產(chǎn)品的5倍，使其成為了評估新材料高頻特性的*佳解決方案,。
系統(tǒng)配置建議（30 GHz 至2 THz）
可利用緊湊型設(shè)備來測定從毫米波到太赫茲波的電磁特性
● 實現(xiàn)380MHz高頻率分辨率
● 不需要VNA那樣切換掃頻波段,，一次實現(xiàn)寬帶寬 （30GHz~2THz） 的測定
● 40ms的掃描速度對寬帶寬進行掃描
● 系統(tǒng)配有透射/反射測量模塊，更容易校準設(shè)備
● 通過遠程編程功能就能實現(xiàn)二維掃描測量
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矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀（VNA）是通過測量網(wǎng)絡(luò)各個端口對頻率/功率掃描測試信號的幅度與相位響應(yīng),，從而測量器件網(wǎng)絡(luò)特性的儀器,，它結(jié)合了頻譜分析，信號發(fā)生以及信號分離等各項技術(shù),。應(yīng)用于芯片測試,，微波器件，材料科學(xué),，電子通信等基礎(chǔ)性行業(yè)和領(lǐng)域,。
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