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上海維特銳實(shí)業(yè)發(fā)展有限公司
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LEITZ探針測(cè)試方面
測(cè)試針,，用于測(cè)試PCBA的一種探針,。
表面鍍金，內(nèi)部有平均壽命3萬~10萬次的高性能彈簧,。
國外比較有名的生產(chǎn)廠家有： QA ,IDI,、UC、Semiprobe,、ECT,，INGUN，BT
探針的材質(zhì)：W,，ReW,CU,、 A+
1.主要采用的材質(zhì)為W，ReW, 彈性一般,，容易偏移,，粘金屑，需要多次的清洗,，磨損損針長,，壽命一般。
2. A+材質(zhì)的免清針,，這種材質(zhì)彈性較好,，測(cè)試中不容易偏移，并且不粘金屑,，免清洗,，因此壽命較長,。
LEITZ探針分類
探針根據(jù)電子測(cè)試用途可分為：A、光電路板測(cè)試探針：未安裝元器件前的電路板測(cè)試和只開路,、短路檢測(cè)探針,，國內(nèi)大部分的探針產(chǎn)品均可替代進(jìn)口產(chǎn)品；
B,、在線測(cè)試探針：PCB線路板安裝元器件后的檢測(cè)探針,；產(chǎn)品的核心技術(shù)還是掌握在國外公司手中，國內(nèi)部分探針產(chǎn)品已研發(fā)成功,，可替代進(jìn)口探針產(chǎn)品,；
C、微電子測(cè)試探針：即晶圓測(cè)試或芯片IC檢測(cè)探針,，核心技術(shù)還是掌握在國外公司手中，國內(nèi)生產(chǎn)廠商積極參與研發(fā),，但只有一小部分成功生產(chǎn),。
探針主要類型：懸臂探針和垂直探針。
懸臂探針：劈刀型（Blade Type）和環(huán)氧樹脂型（Epoxy Type）
垂直探針：垂直型（Vertical Type）
1.ICT探針 （ICT series Probes)
一般直徑在2.54mm-1.27mm之間,，有業(yè)內(nèi)的標(biāo)準(zhǔn)稱呼100mil,75mil,50mil,還有更特別的直徑只有0.19mm,主要用于在線電路測(cè)試和功能測(cè)試．也稱ICT測(cè)試和FCT測(cè)試．也是目應(yīng)用較多的一種探針．
2.界面探針(Interface Probes)
非標(biāo)準(zhǔn)的探針,，一般是為少數(shù)做大型測(cè)試機(jī)臺(tái)的客戶定做的，例如泰瑞達(dá)（Teradyne)和安捷倫（Agilent)．用于測(cè)試機(jī)臺(tái)與測(cè)試夾具的接觸點(diǎn)和面．
3.微型探針（MicroSeries Probes)
兩個(gè)測(cè)試點(diǎn)中心間距一般為0.25mm至0.76mm．
4.開關(guān)探針（Switch Probes)
開關(guān)探針單*支探針有兩路電流．
5.高頻探針（Coaxial Probes)
用于測(cè)試高頻信號(hào),，有帶屏蔽圈的可測(cè)試10GHz以內(nèi)的和500MHz不帶屏蔽圈的．
6.旋轉(zhuǎn)探針（Rotator Probes)
彈力一般不高,，因?yàn)槠浯┩感员緛砭秃軓?qiáng)，一般用于OSP處理過的PCBA測(cè)試．
7.高電流探針（High Current Probes)
探針直徑在2.54mm-4.75mm之間．zui大的測(cè)試電流可達(dá)39amps.
8.半導(dǎo)體探針 (Semiconductor Probes)
直徑一般在0.50mm-1.27mm之間．帶寬大于10GHz,50Ω characteristic
9.電池接觸探針 (Battery and Connector Contacts)
一般用于優(yōu)化接觸效果,，穩(wěn)定性好和壽命長．
10.汽車線束測(cè)試測(cè)試探針
專業(yè)用于汽車線束通斷檢測(cè),，直徑在1.0--3.5mm之間，電流在3----50A
除以上類型外還有溫度探針,，Kelvin探針等,，比較少用．
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