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天津綜科科技有限公司
主營產品： 粉塵中游離二氧化硅檢測儀,精密光學平臺,TJ270-30A紅外分光光度計 |
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2024-7-25 閱讀(2228)
FSA-1光纖光譜儀及應用光譜學實驗
簡介：
光譜學是一門主要涉及物理學及化學的重要交叉學科,，通過光譜來研究光波與物質之間的相互作用。光譜是電磁輻射按照波長的有序排列,。根據(jù)實驗條件的不同,，各個輻射波長都具有各自的特征強度,。通過光譜的研究，人們可以得到原子,、分子等的能級結構,、能級壽命、電子的組態(tài),、分子的幾何形狀,、化學鍵的性質、反應動力學等多方面物質結構的知識,。但是,，光譜學技術并不僅是一種科學工具，在化學分析中它也提供了重要的定性與定量的分析方法。
光纖光譜儀作為一種成本低,、小型化,、穩(wěn)定性高的分析儀器，國內不少院校開始開設相關課程以滿足光譜產業(yè)化發(fā)展的人才需求,。該實驗系統(tǒng)旨在讓讓光電專業(yè)學生通過這套系統(tǒng),，提前了解相關理論，并應用理論處理一些實際測量的問題,，并可以作教師和學生的一些自主研發(fā)實驗提供平臺,。
原子發(fā)射光譜的測量
氣體放電燈的光譜測量以及氫原子里德伯常數(shù)計算
輝光球發(fā)射光譜測量及輝光氣體成分判斷
激光和LED發(fā)射光譜的測量
激光光譜的測量
LED發(fā)光二極管發(fā)射光譜的測定實驗
熱輻射光源光譜的測定
光纖溴鎢燈發(fā)射光譜測量。
熱輻射溫度與中心波長的關系
透射光譜的測量
物體透射光譜的實驗搭建和測量
中性濾光片的透射光譜測量
干涉濾光片的透射光譜測定
有色玻璃的透過率測定（選做）
反射光譜的測定
物體反射光譜的實驗搭建和測量
反射光譜測量的原理和標定
幾種樣品的反射光譜測量
薄膜厚度和光學常數(shù)測量
干涉薄膜反射光譜的測定
根據(jù)干涉極值（峰谷）測定薄膜的厚度
根據(jù)反射光譜用擬合算法來測定薄膜的厚度和光學常數(shù),。
色度學測定
三刺激値的概念和測定
透明物質的色度測量
紙張涂料的色度測量
發(fā)光體的色度測量
規(guī)格參數(shù)：
1.光纖光譜儀：波長范圍：350-1000nm,；光學分辨率：2nm；波長精度±1nm狹縫：25um,；雜散光＜0.05%@600nm光纖連接器：SMA905,；探測器：2048線陣 CCD；信噪比：250：1 全光譜,；積分時間：3ms-10分鐘,；A/D :12位 USB 通訊與供電，無需外部電源,；功耗：120mA @ 5VDC,；尺寸：64mm×89mm×36mm；重量：200g,。
2.光纖鹵鎢燈光源：波長范圍：350-2500nm,；燈泡功率：150W；輸出光強可調,；預熱時間：10 分鐘,；光源壽命：2000 小時；光輸出穩(wěn)定性：0.15%,。
3.光纖跳線：光纖芯徑：200um，600um,；數(shù)值孔徑：0.22NA,；長度：500cm； 鎧甲護套,；
4,、反射式光纖跳線：探頭端部采用 6 繞 1 光纖束設計，中央1 根光纖收集反射光,，6 根照明光纖,；光纖芯徑：200um；數(shù)值孔徑 NA：0.22；鎧甲護套,，SMA905接頭,。
5.高亮度紅光/綠光/藍光/白光 LED 光源：波長 630nm、530nm,、465nm,；
6.測試樣品組件：
鍍膜硅片；選擇吸收濾光片,、截止濾光片,、中性密度濾光片、帶通濾光片,；顏色濾光片,，反射色板紙張；
7.化學實驗器具：石英比色皿,、熒光比色皿等,。
8.多種光譜測試平臺：包括三通樣品池，反射探頭支架,，透射式樣品支架,；各種光學調整架及機械夾持件，包括導軌,、滑塊,、調整架等。
9.薄膜測厚軟件：擬合算法,，薄膜測量厚度范圍 20nm-100um,，可同時測量1-4層薄膜。
10光譜測量綜合軟件：光譜模式下操作光譜儀采集光譜數(shù)據(jù),，支持多種格式的數(shù)據(jù)導出,，軟件內置多種應用模塊，包括顏色測量,、透過率,、反射率測量等。
