測(cè)厚儀的主要類型
測(cè)厚儀的主要類型:
激光測(cè)厚儀:是利用激光的反射原理,根據(jù)光切法測(cè)量和觀察機(jī)械制造中零件加工表面的微觀幾何形狀來測(cè)量產(chǎn)品的厚度,是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)測(cè)量?jī)x器,。它可直接輸出數(shù)字信號(hào)與工業(yè)計(jì)算機(jī)相連接,,并迅速處理數(shù)據(jù)并輸出偏差值到各種工業(yè)設(shè)備。
X射線測(cè)厚儀:利用X射線穿透被測(cè)材料時(shí),,X射線的強(qiáng)度的變化與材料的厚度相關(guān)的特性,,從而測(cè)定材料的厚度,是一種非接觸式的動(dòng)態(tài)計(jì)量?jī)x器,。它以PLC和工業(yè)計(jì)算機(jī)為核心,,采集計(jì)算數(shù)據(jù)并輸出目標(biāo)偏差值給軋機(jī)厚度控制系統(tǒng),達(dá)到要求的軋制厚度,。主要應(yīng)用行業(yè):有色金屬的板帶箔加工,、冶金行業(yè)的板帶加工。
紙張測(cè)厚儀:適用于4mm以下的各種薄膜,、紙張,、紙板以及其他片狀材料厚度的測(cè)量。
薄膜測(cè)厚儀:用于測(cè)定薄膜,、薄片等材料的厚度,,測(cè)量范圍寬、測(cè)量精度高,,具有數(shù)據(jù)輸出,、任意位置置零、公英制轉(zhuǎn)換,、自動(dòng)斷電等特點(diǎn),。
超聲波測(cè)厚儀:超聲波測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進(jìn)行厚度測(cè)量的,,當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí),,脈沖被反射回探頭,通過測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來確定被測(cè)材料的厚度,。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測(cè)量,。適合測(cè)量金屬(如鋼、鑄鐵,、鋁,、銅等)、塑料,、陶瓷,、玻璃、玻璃纖維及其他任何超聲波的良導(dǎo)體的厚度,。
X射線測(cè)厚儀:適用生產(chǎn)鋁板,、銅板、鋼板等冶金材料為產(chǎn)品的企業(yè),可以與軋機(jī)配套,,應(yīng)用于熱軋,、鑄軋、冷軋,、箔軋,。其中,x射線測(cè)厚儀還可以用于冷軋,、箔軋和部分熱軋的軋機(jī)生產(chǎn)過程中對(duì)板材厚度進(jìn)行自動(dòng)控制,。涂層測(cè)厚儀F型探頭可直接測(cè)量導(dǎo)磁材料(如鋼鐵、鎳)表面上的非導(dǎo)磁覆蓋層厚度(如:油漆,、塑料,、搪瓷、銅,、鋁,、鋅、鉻,、等),。可應(yīng)用于電鍍層,、油漆層,、搪瓷層、鋁瓦,、銅瓦,、巴氏合金瓦、磷化層,、紙張的厚度測(cè)量,,也可用于船體油漆及水下結(jié)構(gòu)件的附著物的厚度測(cè)量。
涂層測(cè)厚儀:涂層測(cè)厚儀涂層測(cè)厚儀采用電磁感應(yīng)法測(cè)量涂層的厚度,。位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個(gè)閉合的磁回路,,隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變,該磁回路將不同程度的改變,,引起磁阻及探頭線圈電感的變化,。利用這一原理可以地測(cè)量探頭與鐵磁性材料間的距離,即涂層厚度,。