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當前位置:> 供求商機> SGW X-4B-顯微熔點儀 上海儀電
性能指標
熔點測量范圍:室溫至320℃
zui小讀數(shù):0.1℃
測量重復性:±1℃(在<200℃時)
±2℃(在200~300℃時)
配雙目體視顯微鏡
光學放大倍數(shù):40X-100X連續(xù)可調(diào)
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