接觸形式與測(cè)頭的選擇

   在接觸測(cè)量中，體現(xiàn)被測(cè)參數(shù)的表面與量?jī)x之間的接觸形式分為三種:點(diǎn)接觸形式,，如球形測(cè)頭與平面工件接觸;線接觸形式哈默納科平面測(cè)頭諧波CSG-40-80-2UH-SP，如平面測(cè)頭與圓柱形工件表面接觸;面接觸形式,，如平面測(cè)頭與平面工件接觸,。

   接觸形式對(duì)測(cè)量結(jié)果有影響。正確選擇接觸形式的原則是優(yōu)先考慮采用點(diǎn)接觸;在條件不允許或?qū)崿F(xiàn)較為困難時(shí),，哈默納科平面測(cè)頭諧波CSG-40-80-2UH-SP考慮采用線接觸;不得已時(shí)才采用面接觸,。

對(duì)線紋尺的檢定方法有相對(duì)測(cè)量法和測(cè)量法。在相對(duì)測(cè)量法檢定線紋尺中,，將被檢定線紋尺與比其精度等級(jí)高一等的標(biāo)準(zhǔn)線紋尺在線紋尺比較儀上作相對(duì)測(cè)量,，讀出二者刻線間距的長(zhǎng)度差，從而確定被檢線紋尺刻線間距的誤差,。在測(cè)量法檢定線紋尺中,，將被檢線紋尺在激光干涉比長(zhǎng)儀上進(jìn)行測(cè)量。其實(shí)質(zhì)是將被檢線紋尺的刻線間距轉(zhuǎn)變成為三面直角棱鏡的位移,，從而使干涉系統(tǒng)中兩相干光束的光程差發(fā)生相應(yīng)的變化,，通過光電接收器對(duì)干涉條紋明暗交替次數(shù)的檢測(cè)，即可求出被檢線紋尺相應(yīng)刻線間距的誤差在線紋量值傳遞系統(tǒng)中,，