如何測(cè)量隨偏壓變化的MLCC
設(shè)計(jì)人員往往忽略高容量,、多層陶瓷(MLCC)隨其直流電壓變化的特性。所有高介電常數(shù)或II類電容(B/X5R R/X7R和F/Y5V特性)都存在這種現(xiàn)象。然而,,不同類型的MLCC變化量區(qū)別很大。Mark Fortunato曾經(jīng)寫(xiě)過(guò)一篇關(guān)于該主題的文章,,給出的結(jié)論是:您應(yīng)該核對(duì)電容的數(shù)據(jù)資料,,確認(rèn)電容值隨偏壓的變化,。但如果數(shù)據(jù)資料中未提供這一信息又該如何呢?您如何確定電容在具體應(yīng)用條件下變小了多少,?
對(duì)電容與偏壓關(guān)系進(jìn)行特征分析的理論
圖1所示為一種測(cè)量直流偏壓特性的電路,。該電路的核心是運(yùn)算放大器U1(MAX4130)。運(yùn)放作為比較器使用,,反饋R2和R3增加滯回,。D1將偏置設(shè)置在高于GND,所以不需要負(fù)電壓,。C1和R1從反饋網(wǎng)絡(luò)連接至輸入負(fù)端,,使電路作為RC振蕩器工作。電容C1為被測(cè)對(duì)象(DUT),,作為RC振蕩器中的C,;電位計(jì)R1為RC振蕩器中的R。
圖1:對(duì)電容與偏壓關(guān)系進(jìn)行特征分析的電路
運(yùn)放輸出引腳的電壓波形Vy以及R,、C之間連接點(diǎn)的電壓Vx如圖2所示,。當(dāng)運(yùn)放輸出為5V時(shí),通過(guò)R1對(duì)C1進(jìn)行充電,,直到電壓達(dá)到上限,,強(qiáng)制輸出為0V;此時(shí),,電容放電,,直到Vx達(dá)到下限,從而強(qiáng)制輸出恢復(fù)為5V,。該過(guò)程反復(fù)發(fā)生,,形成穩(wěn)定振蕩。
圖2. VX和VY的振蕩電壓
振蕩周期取決于R,、C,,以及上門限VUP和下門限VLO:
由于5V、VUP和VLO固定不變,,所以T1,、T2與RC成比例(通常稱為RC時(shí)間常數(shù))。比較器門限是Vy,、R2,、R3及D1正向偏壓(Vsub>Diode)的函數(shù):
式中,VUP為Vy= 5V時(shí)的門限,,VLO為Vy = 0V時(shí)的門限,。給定參數(shù)后,,這些門限的結(jié)果大約為:VLO為0.55V,,VUP為1.00V,。
Q1和Q2周圍的電路將周期時(shí)間轉(zhuǎn)換為比例電壓。工作原理如下,。MOSFET Q1由U1的輸出控制,。T1期間,Q1導(dǎo)通,,將C3電壓箝位至GND,;T2期間,Q1關(guān)斷,,允許恒定電流源(Q2,、R5、R6和R7)對(duì)C3進(jìn)行線性充電,。隨著T2增大,,C3電壓升高。圖3所示為三個(gè)周期的C3電壓,。
圖3:T1期間,,C3箝位至GND;T2期間,,對(duì)其進(jìn)行線性充電
C3電壓(VC3)平均值等于:
由于I,、C3、α和β均為常數(shù),,所以C3的平均電壓與T2成比例,,因此也與C1成比例。
低通濾波器R8/C4對(duì)信號(hào)進(jìn)行濾波,,低失調(diào)運(yùn)放U2 (MAX9620)對(duì)輸出進(jìn)行緩沖,,所以,允許使用任何電壓表進(jìn)行測(cè)量,。測(cè)量之前,,該電路需要進(jìn)行簡(jiǎn)單校準(zhǔn)。首先將DUT安裝到電路,,將VBIAS設(shè)定為0.78V (VLO和VUP的平均值),,所以DUT上的實(shí)際平均(DC)電壓為0V。調(diào)節(jié)電位計(jì)R1時(shí),,輸出電壓隨之變化,。調(diào)節(jié)R1,直到輸出電壓讀數(shù)為1.00V,。在這種條件下,,C3的峰值電壓為大約2.35V??筛钠秒妷?,輸出電壓將顯示電容值的變化百分比,。例如,如果輸出電壓為0.80V,,在特定偏置電壓下的電容值將為偏置為0V時(shí)的80%,。
實(shí)驗(yàn)室測(cè)試驗(yàn)證