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各類常用電阻的優(yōu)缺點
近二十年來,，電子工業(yè)以驚人的速度發(fā)展。新技術(shù)的進步在減小設(shè)備尺寸的同時,，也加大了分立元件制造商開發(fā)理想性能器件的壓力,。
在這些器件中，晶片電阻當(dāng)前始終保持很高的需求,，并且是許多電路的基礎(chǔ)構(gòu)件,。它們的空間利用率優(yōu)于分立式封裝電阻，減少了組裝前期準備的工作量,。隨著應(yīng)用的普及,，晶片電阻具有越來越重要的作用。主要參數(shù)包括 ESD 保護,、熱電動勢 (EMF),、電阻熱系數(shù) (TCR)、自熱性,、長期穩(wěn)定性,、功率系數(shù)和噪聲等。
以下技術(shù)對比中將討論線繞電阻在精密電路中的應(yīng)用,。不過請注意,，線繞電阻沒有晶片型，因此,，受重量和尺寸限制需要采用精密晶片電阻的應(yīng)用不使用這種電阻。
盡管升級每個組件或子系統(tǒng)可以提高整體性能,，但整體性能仍是由組件鏈中的短板決定的,。系統(tǒng)中的每個組件都具有關(guān)系到整體性能的內(nèi)在優(yōu)缺點，特別是短期和長期穩(wěn)定性,、頻響和噪聲等問題,。分立式電阻行業(yè)在線繞電阻、厚膜電阻,、薄膜電阻和金屬箔電阻技術(shù)方面取得了進步,，而從單位性能成本考慮，每種電阻都有許多需要加以權(quán)衡的因素,。
各種電阻技術(shù)的優(yōu)缺點如表1所示,，表中給出了熱應(yīng)力和機械應(yīng)力對電阻電氣特性的影響。
不同類型電阻的特性
應(yīng)力（無論機械應(yīng)力還是熱應(yīng)力）會造成電阻電氣參數(shù)改變,。當(dāng)形狀,、長度、幾何結(jié)構(gòu),、配置或模塊化結(jié)構(gòu)受機械或其他方面因素影響發(fā)生變化時,，電氣參數(shù)也會發(fā)生變化,，這種變化可用基本方程式來表示：
R = ρ L/As，
式中 R = 電阻值,，以歐姆為單位,，
ρ = 材料電阻率，以歐姆米為單位,，
L = 電阻元件長度,，以米為單位，
A = 電阻元件截面積,，以平方米為單位,。
電流通過電阻元件時產(chǎn)生熱量，熱反應(yīng)會使器件的每種材料發(fā)生膨脹或收縮機械變化,。環(huán)境溫度條件也會產(chǎn)生同樣的結(jié)果,。因此，理想的電阻元件應(yīng)能夠根據(jù)這些自然現(xiàn)象進行自我平衡,，在電阻加工過程中保持物理一致性,，使用過程中不必進行熱效應(yīng)或應(yīng)力效應(yīng)補償，從而提高系統(tǒng)穩(wěn)定性,。
精密線繞電阻
線繞電阻一般分為“功率線繞電阻”和“精密線繞電阻”,。功率線繞電阻使用過程中會發(fā)生很大變化，不適于精密度要求很高的情況下使用,。因此,，本討論不考慮這種電阻。
線繞電阻的制作方法一般是將絕緣電阻絲纏繞在特定直徑的線軸上,。不同線徑,、長度和合金材料可以達到所需電阻和初始特性。精密線繞電阻 ESD 穩(wěn)定性更高,，噪聲低于薄膜或厚膜電阻,。線繞電阻還具有 TCR 低、穩(wěn)定性高的特點,。
線繞電阻初始誤差可以低至 ± 0.005 %,。TCR (溫度每變化一攝氏度，電阻的變化量) 可以達到 3 ppm/°C典型值,。不過,，降低電阻值，線繞電阻一般在15 ppm/°C 到 25 ppm/°C,。熱噪聲降低，TCR 在限定溫度范圍內(nèi)可以達到 ± 2 ppm/°C ,。
線繞電阻加工過程中,，電阻絲內(nèi)表面 (靠近線軸一側(cè)) 收縮,，而外表面拉伸。這道工藝產(chǎn)生*變形 — 相對于彈性變形或可逆變形,，必須對電阻絲進行退火,。*性機械變化 (不可預(yù)測) 會造成電阻絲和電阻電氣參數(shù)任意變化。因此,，電阻元件電性能參數(shù)存在很大的不確定性,。
由于線圈結(jié)構(gòu)，線繞電阻成為電感器,，圈數(shù)附近會產(chǎn)生線圈間電容,。為提高使用中的響應(yīng)速度，可以采用特殊工藝降低電感,。不過,，這會增加成本，而且降低電感的效果有限,。由于設(shè)計中存在的電感和電容,，線繞電阻高頻特性差，特別是 50 kHz 以上頻率,。
兩個額定電阻值相同的線繞電阻,，彼此之間很難保證特定溫度范圍內(nèi)的一致性，電阻值不同,，或尺寸不同時更為困難 (例如,，滿足不同的功率要求)。這種難度會隨著電阻值差異的增加進一步加劇,。以1-kΩ 電阻相對于100-kΩ 電阻為例,，這種不一致性是由于直徑、長度,，并有可能由于電阻絲使用的合金不同造成的,。而且，電阻芯以及每英寸圈數(shù)也不同—機械特性對電氣特性的影響也不一樣,。由于不同的電阻值具有不同的熱機特性,，因此它們的工作穩(wěn)定性不一樣，設(shè)計的電阻比在設(shè)備生命周期中會發(fā)生很大變化,。TCR 特性和比率對于高精度電路極為重要,。
傳統(tǒng)線繞電阻加工方法不能消除纏繞、封裝,、插入和引線成型工藝中產(chǎn)生的各種應(yīng)力,。固定過程中，軸向引線往往采用拉緊工藝，通過機械力加壓封裝,。這兩種方法會改變電阻,，無論加電或不加電。從長期角度看,，由于電阻絲調(diào)整為新的形狀,，線繞元件會發(fā)生物理變化。
薄膜電阻
薄膜電阻由陶瓷基片上厚度為 50 Å 至 250 Å 的金屬沉積層組成 (采用真空或濺射工藝),。薄膜電阻單位面積阻值高于線繞電阻或 Bulk Metal® 金屬箔電阻,，而且更為便宜。在需要高阻值而精度要求為中等水平時,，薄膜電阻更為經(jīng)濟并節(jié)省空間,。
它們具有*溫度敏感沉積層厚度，但*薄膜厚度產(chǎn)生的電阻值嚴重限制了可能的電阻值范圍,。因此,，采用各種沉積層厚度可以實現(xiàn)不同的電阻值范圍。薄膜電阻的穩(wěn)定性受溫度上升的影響,。薄膜電阻穩(wěn)定性的老化過程因?qū)崿F(xiàn)不同電阻值所需的薄膜厚度而不同,，因此在整個電阻范圍內(nèi)是可變的。這種化學(xué)/機械老化還包括電阻合金的高溫氧化,。此外,，改變*薄膜厚度還會嚴重影響 TCR。由于較薄的沉積層更容易氧化,，因此高阻值薄膜電阻退化率非常高,。
由于金屬量少，薄膜電阻在潮濕的條件下極易自蝕,。浸入封裝過程中,，水蒸汽會帶入雜質(zhì)，產(chǎn)生的化學(xué)腐蝕會在低壓直流應(yīng)用幾小時內(nèi)造成薄膜電阻開路,。改變*薄膜厚度會嚴重影響 TCR,。由于較薄的沉積層更容易氧化，因此高阻值薄膜電阻退化率非常高,。