測試絕緣電阻是檢驗電力設(shè)備絕緣狀態(tài)zui簡單zui基本的方法,。一般采用2500V或5000V兆歐表進行測試,，根據(jù)所加直流電壓和通過絕緣介質(zhì)的電流,，即可計算出絕緣電阻,。但是為什么測量時阻值會逐漸增大,，為什么要取60s時的阻值作為絕緣電阻值，什么時候要測吸收比和極化指數(shù),，測量絕緣電阻有什么局限,，下面為您一一講解。

電力設(shè)備的絕緣材料（電介質(zhì)）不是的不導(dǎo)電,。在直流電壓的作用下，電介質(zhì)中有微弱的電流流過,。根絕電介質(zhì)材料的性質(zhì),、構(gòu)成及結(jié)構(gòu)的不同，此電流由三部分組成,，分別是充電電流i1,、吸收電流i2和泄露電流i3。原理圖如下：

充電電流i1：直流電壓作用在絕緣材料上,，加壓的瞬間相當于給電容充電,，等效負荷用電容C1表示。充電電流隨加壓時間衰減很快,。

吸收電流i2：吸收電流由緩慢極化和夾層極化產(chǎn)生,，等效負荷用電容C2和電阻r串聯(lián)表示。吸收電流隨加壓時間衰減較慢,。

泄露電流i3：由介質(zhì)的電導(dǎo)引起,，是zui終要測的電流，等效負荷用電阻R表示,。泄露電流基本保持不變,。

理論上的絕緣電阻即為R=U/i3，實際為U/(i1+i2+i3),。剛開始加壓時,，i1、i2值較大,，測得的阻值比實際絕緣電阻小,，隨后i1,、i2逐漸減小，所以測得的絕緣電阻會逐漸增大,。一般到60s之后i1,、i2減小到可允許的范圍，測得的絕緣電阻趨于穩(wěn)定,，接近于理論值,，所以一般取60s時測得的阻值為絕緣電阻值。

對于大容量和吸收過程較長的設(shè)備,，如變壓器,、發(fā)電機、電纜等,，還應(yīng)測試吸收比和極化指數(shù),。一般吸收比在常溫下不低于1.3；吸收比偏低時可測量極化指數(shù),，應(yīng)不低于1.5,；

吸收比K=R_60s/R_15s，即60s絕緣電阻值與15s絕緣電阻值之比,。

極化指數(shù)PI=R_10min/R_1min,，即10min絕緣電阻值與1min絕緣電阻值之比。
    絕緣電阻合格并不能確保電力設(shè)備絕緣良好,，因為只有當絕緣缺陷貫通于兩極之間,，測得其絕緣電阻時才會有明顯的變化。若設(shè)備絕緣只是局部缺陷,，而兩極之間仍保持有部分良好絕緣時,。絕緣電阻降低很少，甚至不發(fā)生變化,。所以一般測試絕緣電阻后還要進行耐壓,、介質(zhì)損失角或局部放電等試驗來進一步判斷絕緣的好壞。