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產(chǎn)品簡介
MIRA通用分析型高分辨場發(fā)射掃描電鏡
詳細(xì)介紹
產(chǎn)品簡介
TESCAN MIRA是新推出的第四代高性能掃描電子顯微鏡,，配置有高亮度肖特基場發(fā)射電子槍,，在TESCAN的 Essence™ 操作軟件的同一個窗口中實(shí)現(xiàn)了SEM成像和實(shí)時元素分析。這種結(jié)合大大簡化了從樣品中獲取形貌和元素數(shù)據(jù)的過程,，從而使得MIRA成為質(zhì)量控制,、失效分析和實(shí)驗室常規(guī)材料檢測的有效分析解決方案。
產(chǎn)品特點(diǎn)
- *集成的 TESCAN Essence™ EDS功能,，可以快速,、輕松地從成像切換到元素分析操作。
- *的實(shí)時電子束追蹤技術(shù)(In-flight Beam Tracing™)功能,，可設(shè)置優(yōu)化束斑尺寸和束流強(qiáng)度,。
- *的大視野光路（Wide Field Optics™）設(shè)計，可實(shí)現(xiàn)小放大倍率低至2倍,，因而無需額外的光學(xué)導(dǎo)航相機(jī),，即可輕松、精確的對樣品進(jìn)行導(dǎo)航,。
- 標(biāo)配的 SingleVac™ 模式,，不導(dǎo)電樣品或電子束敏感樣品無需噴鍍即可在此模式下直接進(jìn)行觀察。
- 可選配的鏡筒內(nèi) SE 和 BSE 探測器,，以及電子束減速技術(shù),，更好的提升了低電壓下的成像性能。
- 標(biāo)準(zhǔn)分析平臺,，可選配集成多種類的探測器和附件,。