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FischerX射線金屬材料分析儀X-RAY XAN® 250/252,、XDL®、XDV®-SDD
FISCHERSCOPE® X-RAY XAN® 250/252
高性能X射線熒光測量儀,，配有的硅漂移探測器（SDD）,，可快速、無損地進(jìn)行RoHS檢測,、材料分析和鍍層厚度測量,。
產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
FischerX射線金屬材料分析儀X-RAY XAN? 250/252、XDL?,、XDV?-SDD
FISCHERSCOPE? X-RAY XAN? 250/252
高性能X射線熒光測量儀,，配有的硅漂移探測器(SDD),，可快速、無損地進(jìn)行RoHS檢測,、材料分析和鍍層厚度測量,。
特點(diǎn)
高性能機(jī)型，具有強(qiáng)大的綜合測量能力
配有4 個(gè)電動(dòng)調(diào)節(jié)的準(zhǔn)直器和6個(gè)電動(dòng)調(diào)節(jié)的基本慮片
配備高分辨率硅漂移探測器 (SDD),，還適用于更復(fù)雜的多元素分析
由下至上的測量方向,，可以非常簡便地實(shí)現(xiàn)樣品定位
典型應(yīng)用領(lǐng)域
對電子和半導(dǎo)體行業(yè)中僅幾個(gè)納米的功能性鍍層進(jìn)行測量
對有害物質(zhì)進(jìn)行痕量分析，例如,，玩具中的鉛含量
在珠寶和手表業(yè),，以及在金屬精煉領(lǐng)域，對合金進(jìn)行高精度的分析
用于高校研究和工業(yè)研發(fā)領(lǐng)域
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FISCHERSCOPE? XDL?
X射線熒光測試儀,，可手動(dòng)或全自動(dòng)測量功能性鍍層(包括鉻層測厚,、銅厚測量)、防腐蝕鍍層和大規(guī)模生產(chǎn)零部件
XDL鍍層厚度測量儀特點(diǎn)
堅(jiān)固耐用的鍍層厚度測量設(shè)備,，甚至可在較大的距離測量（DCM功能,，范圍0-80 mm）工作
固定光圈和固定濾光鏡
用于1mm起大小的測量點(diǎn)
底部C型開槽的大容量測量艙
可編程的臺(tái)式設(shè)備，用于自動(dòng)測量
標(biāo)準(zhǔn)X射線管,，比例計(jì)數(shù)器
XDL鍍層厚度測量儀典型應(yīng)用領(lǐng)域
測量大規(guī)模生產(chǎn)的電鍍零件
防腐鍍層和裝飾性鍍層,，如鎳/銅上的鉻。鉻層測厚,、銅厚測量
電鍍工業(yè)中電鍍液的分析
黃金,、珠寶和鐘表工業(yè)
FISCHERSCOPE? XDV?-SDD
高性能X射線熒光測試儀，配有可編程XY平臺(tái)和Z軸,，可自動(dòng)測量超薄鍍層和分析痕量元素
儀器特點(diǎn)
高級(jí)型號(hào)儀器,，具有常見的所有功能
射線激發(fā)量的靈活性zui大，激發(fā)量可根據(jù)測量面積大小和光譜組成而改變
通過硅漂移探測器,，在 > 10萬cps（每秒計(jì)數(shù)率） 的超高信號(hào)量下也可以正常工作,，而不會(huì)出現(xiàn)能量分辨率的降低
極低的檢測下限和出色的測量重復(fù)度
帶有快速、可編程 XY 工作臺(tái)的自動(dòng)測量儀器
大容量便于操作的測量艙
典型應(yīng)用領(lǐng)域
測量極薄的鍍層,，例如應(yīng)用于電子和半導(dǎo)體行業(yè)中
痕量分析,，例如根據(jù) RoHS、玩具標(biāo)準(zhǔn),、包裝標(biāo)準(zhǔn)對有害物質(zhì)進(jìn)行檢測
進(jìn)行高精度的黃金和貴金屬分析
光伏產(chǎn)業(yè)
測量 NiP 鍍層的厚度和成分