X射線衍射儀技術(shù)(XRD)通過(guò)對(duì)材料進(jìn)行X射線衍射,，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分,、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的研究手段,。X射線衍射分析法是研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)的主要方法。作為材料結(jié)構(gòu)和成分分析的一種現(xiàn)代科學(xué)方法,，X射線衍射儀已逐步在各學(xué)科研究和生產(chǎn)中廣泛應(yīng)用,。

X射線衍射儀的原理：

當(dāng)一束單色X射線入射到晶體時(shí)，由于晶體是由原子規(guī)則排列成的晶胞組成,，這些規(guī)則排列的原子間距離與入射X射線波長(zhǎng)有相同數(shù)量級(jí),，故由不同原子散射的X射線相互干涉，在某些特殊方向上產(chǎn)生強(qiáng)X射線衍射,，衍射線在空間分布的方位和強(qiáng)度,，與晶體結(jié)構(gòu)密切相關(guān)。這就是X射線衍射的基本原理,。

X射線衍射儀的用途：

（1）當(dāng)材料由多種結(jié)晶成分組成,，需區(qū)分各成分所占比例，可使用XRD物相鑒定功能,，分析各結(jié)晶相的比例,。
（2）很多材料的性能由結(jié)晶程度決定，可使用XRD結(jié)晶度分析,，確定材料的結(jié)晶程度,。
（3）新材料開(kāi)發(fā)需要充分了解材料的晶格參數(shù),，使用XRD可快捷測(cè)試出點(diǎn)陣參數(shù)，為新材料開(kāi)發(fā)應(yīng)用提供性能驗(yàn)證指標(biāo),。
（4）產(chǎn)品在使用過(guò)程中出現(xiàn)斷裂,、變形等失效現(xiàn)象，可能涉及微觀應(yīng)力方面影響,，使用XRD可以快捷測(cè)定微觀應(yīng)力,。
（5）納米材料由于顆粒細(xì)小,極易形成團(tuán)粒,采用通常的粒度分析儀往往會(huì)給出錯(cuò)誤的數(shù)據(jù)。采用X射線衍射線線寬法(謝樂(lè)法)可以測(cè)定納米粒子的平均粒徑,。

X射線衍射儀使用注意事項(xiàng)：

（1）固體樣品表面＞10×10mm,，厚度在5μm以上，表面必須平整,，可以用幾塊粘貼一起,。
（2）對(duì)于片狀、圓拄狀樣品會(huì)存在嚴(yán)重的擇優(yōu)取向,，衍射強(qiáng)度異常,，需提供測(cè)試方向。
（3）對(duì)于測(cè)量金屬樣品的微觀應(yīng)力（晶格畸變）,，測(cè)量殘余奧氏體,，要求制備成金相樣品，并進(jìn)行普通拋光或電解拋光,，消除表面應(yīng)變層,。
（4）粉末樣品要求磨成320目的粒度，直徑約40微米,，重量大于5g,。