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薄膜厚度測(cè)量?jī)x
薄膜厚度測(cè)量?jī)x以真空鍍膜為設(shè)計(jì)目標(biāo),，F(xiàn)10-RT 只要單擊鼠標(biāo)即可獲得反射和透射光譜,。 只需簡(jiǎn)單操作。用戶就能進(jìn)行 FWHM 并進(jìn)行顏色分析,。
型號(hào)： F10-RT
所在地：北京市
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2024/11/20 11:42:52
對(duì)比
供應(yīng)薄膜厚度測(cè)量?jī)x薄膜厚度測(cè)量?jī)x測(cè)量特性分析測(cè)量?jī)x薄膜厚度測(cè)量?jī)x報(bào)價(jià)電阻率測(cè)量裝置
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AVI-600系列 主動(dòng)式防震系統(tǒng)
AVI-600系列 主動(dòng)式防震系統(tǒng)為緊湊型的主動(dòng)隔振系統(tǒng),，是納米技術(shù)大型儀器隔振的解決方案。對(duì)升級(jí)和整合到現(xiàn)有的需要低頻隔振功能的設(shè)備來(lái)說(shuō)是不錯(cuò)的選擇,。
型號(hào)：
所在地：北京市
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2024/11/20 11:40:47
對(duì)比
主動(dòng)式防震臺(tái)主動(dòng)式防震設(shè)備被動(dòng)式防震系統(tǒng)主動(dòng)式防震系統(tǒng)報(bào)價(jià)供應(yīng)主動(dòng)式防震系統(tǒng)
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多波長(zhǎng)橢偏儀
多波長(zhǎng)橢偏儀采用壽命長(zhǎng) LED 光源和非移動(dòng) 式部件橢偏探測(cè)器,，可在操作簡(jiǎn)單的緊湊型橢偏儀中實(shí)現(xiàn)可靠地薄膜測(cè)量,。大多數(shù)厚度 0–1000 nm 的透明薄膜只需要...
型號(hào)： Film Sens...
所在地：北京市
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2024/11/20 11:39:05
對(duì)比
測(cè)量?jī)x器測(cè)量設(shè)備多波長(zhǎng)橢偏儀報(bào)價(jià)多功能橢偏儀供應(yīng)多功能橢偏儀
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智能型多功能橢偏儀
智能型多功能橢偏儀是一款針對(duì)單層和多層薄膜進(jìn)行簡(jiǎn)單，快速,，準(zhǔn)確表征和分析的工具,。 多功能性設(shè)計(jì)，配置靈活,，具備多角度測(cè)量能力,，可方便實(shí)現(xiàn)在線與離線配置切換。
型號(hào)： Smart SE
所在地：北京市
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2024/11/20 11:37:25
對(duì)比
測(cè)量?jī)x器測(cè)量設(shè)備自動(dòng)多功能橢偏儀多功能橢偏儀價(jià)格供應(yīng)多功能橢偏儀
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Lumina AT2 薄膜缺陷檢測(cè)儀
Lumina AT2 薄膜缺陷檢測(cè)儀：實(shí)現(xiàn)亞納米薄膜涂層,、納米顆粒,、劃痕、凹坑,、凸起,、應(yīng)力點(diǎn)和其他缺陷的全表面掃描和成像。實(shí)用于透明,、硅,、化合物半導(dǎo)體和金屬基底...
型號(hào)：
所在地：北京市
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2024/11/20 11:35:16
對(duì)比
錨桿質(zhì)量檢測(cè)系統(tǒng)薄膜缺陷檢測(cè)儀器薄膜缺陷檢測(cè)設(shè)備薄膜缺陷檢測(cè)儀價(jià)格供應(yīng)薄膜缺陷檢測(cè)儀
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F3-sX薄膜厚度測(cè)量?jī)x
F3-sX薄膜厚度測(cè)量?jī)x利用光譜反射原理，可以測(cè)試眾多半導(dǎo)體及電解層的厚度,，可測(cè)厚度達(dá)3毫米,。此類(lèi)厚膜，相較于較薄膜層表面較粗糙且不均勻,，F(xiàn)3-sX系列配置10...
型號(hào)：
所在地：北京市
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2024/11/20 11:33:23
對(duì)比
供應(yīng)薄膜厚度測(cè)量?jī)x薄膜厚度測(cè)量?jī)x測(cè)量特性分析測(cè)量?jī)x薄膜厚度測(cè)量?jī)x報(bào)價(jià)電阻率測(cè)量裝置
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薄膜厚度測(cè)量?jī)x
F54-XYT-300薄膜厚度測(cè)量?jī)x具有集成的顯微鏡和實(shí)時(shí)攝像頭,，可以精確監(jiān)控膜厚測(cè)量點(diǎn),。小尺寸的測(cè)量光斑允許測(cè)量有圖案的樣品,，并且可以改良在較粗糙的材料上的測(cè)...
型號(hào)： F54-XYT-3...
所在地：北京市
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2024/11/20 11:31:39
對(duì)比
供應(yīng)薄膜厚度測(cè)量?jī)x薄膜厚度測(cè)量?jī)x測(cè)量特性分析測(cè)量?jī)x薄膜厚度測(cè)量?jī)x報(bào)價(jià)電阻率測(cè)量裝置
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F54-XY-200薄膜厚度測(cè)量?jī)x
F54-XY-200薄膜厚度測(cè)量?jī)x：借助F54-XY-200光譜反射系統(tǒng)，可以輕松地測(cè)量尺寸達(dá)200 x 200mm樣品的薄膜厚度電動(dòng)XY工作臺(tái)自動(dòng)移動(dòng)到選定的...
型號(hào)：
所在地：北京市
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2024/11/20 11:29:21
對(duì)比
供應(yīng)薄膜厚度測(cè)量?jī)x薄膜厚度測(cè)量?jī)x測(cè)量特性分析測(cè)量?jī)x薄膜厚度測(cè)量?jī)x報(bào)價(jià)電阻率測(cè)量裝置
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HS華山系列被動(dòng)式減震臺(tái)
HS華山系列被動(dòng)式減震臺(tái)采用：半膜片式空氣彈簧,、整體焊接支架,、鐵磁不銹鋼臺(tái)面（同OTP臺(tái)面）的氣浮隔振光學(xué)平臺(tái)，整體高度800mm,，分為氣浮式支架和臺(tái)面兩部分,。
型號(hào)：
所在地：北京市
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2024/11/20 11:26:55
對(duì)比
自動(dòng)式減震臺(tái)被動(dòng)式減震設(shè)備被動(dòng)式減震系統(tǒng)被動(dòng)式減震臺(tái)報(bào)價(jià)精密防震工作臺(tái)
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GS岡山系列被動(dòng)式減震臺(tái)
GS岡山系列被動(dòng)式減震臺(tái)是整體焊接支架、鐵磁不銹鋼臺(tái)面 (同OTP 臺(tái)面)的標(biāo)準(zhǔn)雙頻阻尼被動(dòng)式隔振平 臺(tái),，整體高度800mm,，分為氣浮式支架和臺(tái)面 兩部分。
型號(hào)：
所在地：北京市
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2024/11/20 11:25:08
對(duì)比
自動(dòng)式減震臺(tái)被動(dòng)式減震設(shè)備被動(dòng)式減震系統(tǒng)被動(dòng)式減震臺(tái)報(bào)價(jià)精密防震工作臺(tái)
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AVI-200系列 精密防震工作臺(tái)
AVI-200系列 精密防震工作臺(tái)適合對(duì)升級(jí)和整合到現(xiàn)有的需要低頻隔振功能的設(shè)備.AVI-200 WOKSTATION這款設(shè)備允許在一定的大小范圍內(nèi)增設(shè)額外的模...
型號(hào)：
所在地：北京市
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2024/11/20 11:22:59
對(duì)比
自動(dòng)式減震臺(tái)精密防震設(shè)備精密防震系統(tǒng)精密防震工作臺(tái)報(bào)價(jià)供應(yīng)精密防震工作臺(tái)
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AVI400系列 主動(dòng)式減震系統(tǒng)
AVI400系列 主動(dòng)式減震系統(tǒng)：Table Stable在減震行業(yè)內(nèi)有著相當(dāng)豐富的經(jīng)驗(yàn),。于此同時(shí)Table Stable測(cè)量技術(shù)也取得了很大的進(jìn)步，一些靈敏度...
型號(hào)：
所在地：北京市
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2024/11/20 11:21:14
對(duì)比
自動(dòng)式減震臺(tái)自動(dòng)式減震設(shè)備主動(dòng)式減震臺(tái)主動(dòng)式減震系統(tǒng)報(bào)價(jià)供應(yīng)主動(dòng)式減震系統(tǒng)
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MINI450F主動(dòng)式減震臺(tái)
MINI450F主動(dòng)式減震臺(tái)空間6自由度主動(dòng)減振-擁有全頻段出色的抗振動(dòng)效果,，同時(shí)沒(méi)有共振,，LCD-加速度時(shí)間波形顯示/加速度頻譜顯示。
型號(hào)：
所在地：北京市
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2024/11/20 11:18:54
對(duì)比
自動(dòng)式減震臺(tái)自動(dòng)式減震設(shè)備主動(dòng)式減震系統(tǒng)主動(dòng)式減震報(bào)價(jià)供應(yīng)主動(dòng)式減震
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KLA iNano 納米壓痕儀
KLA iNano 納米壓痕儀：iNano為壓痕,、硬度,、劃痕測(cè)試和多元化納米級(jí)測(cè)試等納米級(jí)力學(xué)測(cè)試設(shè)計(jì)。iNano能夠測(cè)試包括軟質(zhì)高聚物到硬質(zhì)涂層和薄膜等在內(nèi)的...
型號(hào)：
所在地：北京市
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2024/11/20 11:17:11
對(duì)比
供應(yīng)納米壓痕儀納米壓痕測(cè)量?jī)x納米壓痕測(cè)量系統(tǒng)納米壓痕儀報(bào)價(jià)電阻率測(cè)量裝置
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Profilm3D光學(xué)輪廓儀
Profilm3D光學(xué)輪廓儀使用的垂直干涉掃描(WLI)與高精度的相位干涉(PSI)技術(shù),。以低價(jià)格實(shí)現(xiàn)次納米級(jí)的表面形貌研究。
型號(hào)：
所在地：北京市
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2024/11/20 11:15:31
對(duì)比
測(cè)量系統(tǒng)供應(yīng)輪廓儀測(cè)量?jī)x3D光學(xué)輪廓裝置3D光學(xué)輪廓設(shè)備
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KLA探針式臺(tái)階儀P-7
KLA探針式臺(tái)階儀P-7：P-7支持從幾納米到一毫米的臺(tái)階高度測(cè)量,，適用于生產(chǎn)和研發(fā)環(huán)境,。該系統(tǒng)可以對(duì)臺(tái)階高度、粗糙度,、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)行2D和3D測(cè)量,，其掃描可...
型號(hào)：
所在地：北京市
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2024/11/20 11:13:24
對(duì)比
測(cè)量?jī)x器測(cè)量?jī)x供應(yīng)探針式臺(tái)階儀探針式臺(tái)階儀報(bào)價(jià)P-7探針式臺(tái)階儀測(cè)速探針
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F50薄膜厚度測(cè)量?jī)x
F50薄膜厚度測(cè)量?jī)x：依靠F50的光譜測(cè)量系統(tǒng)，可以簡(jiǎn)單且快速地獲得直徑450毫米的樣品薄膜的厚度分布圖,。采用r-θ極坐標(biāo)移動(dòng)平臺(tái)，可以快速的定位所需測(cè)試的點(diǎn)并...
型號(hào)：
所在地：北京市
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2024/11/20 11:11:08
對(duì)比
供應(yīng)薄膜厚度測(cè)量?jī)x薄膜厚度測(cè)量?jī)x測(cè)量特性分析測(cè)量?jī)x薄膜厚度測(cè)量?jī)x報(bào)價(jià)電阻率測(cè)量裝置
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Lumina AT1薄膜缺陷檢測(cè)儀
Lumina AT1薄膜缺陷檢測(cè)儀實(shí)現(xiàn)亞納米薄膜涂層,、納米顆粒,、劃痕、凹坑,、凸起,、應(yīng)力點(diǎn)和其他缺陷的全表面掃描和成像。實(shí)用于透明,、硅,、化合物半導(dǎo)體和金屬基底。
型號(hào)：
所在地：北京市
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2024/11/20 11:09:37
對(duì)比
錨桿質(zhì)量檢測(cè)系統(tǒng)薄膜缺陷檢測(cè)儀器薄膜缺陷檢測(cè)設(shè)備薄膜缺陷檢測(cè)儀價(jià)格供應(yīng)薄膜缺陷檢測(cè)儀
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電阻率測(cè)量?jī)x
電阻率測(cè)量?jī)x是KLA薄膜電阻和導(dǎo)電率測(cè)繪系統(tǒng),。從半導(dǎo)體制造到實(shí)現(xiàn)可穿戴技術(shù)所需的柔性電子產(chǎn)品,，薄膜電阻監(jiān)控對(duì)于任何使用導(dǎo)電薄膜的行業(yè)都比較重要。
型號(hào)： SD54
所在地：北京市
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2024/11/20 11:07:10
對(duì)比
供應(yīng)電阻率測(cè)量?jī)x薄膜厚度測(cè)量設(shè)備測(cè)量特性分析測(cè)量?jī)x電阻率測(cè)量?jī)x報(bào)價(jià)電阻率測(cè)量裝置
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薄膜厚度測(cè)量?jī)x
薄膜厚度測(cè)量?jī)x薄膜特性：厚度,、反射率,、透射率、光學(xué)常數(shù),、均勻性,、刻蝕量等；薄膜種類(lèi)：透明及半透明薄膜,，常見(jiàn)如氧化物,、聚合物甚至空氣,。
型號(hào)： SD20
所在地：北京市
參考價(jià)：
面議更新時(shí)間：2024/11/20 11:05:20
對(duì)比
精簡(jiǎn)薄膜厚度測(cè)量?jī)x薄膜厚度測(cè)量設(shè)備測(cè)量特性分析測(cè)量?jī)x薄膜厚度測(cè)量?jī)x報(bào)價(jià)供應(yīng)薄膜厚度測(cè)量?jī)x
