簡(jiǎn)單介紹

有很多種,，觸針?lè)ā⒈容^法,、光切法,、干涉法是主要的幾種表面粗糙度檢測(cè)方法。

的詳細(xì)介紹

表面粗糙度反映的是機(jī)械零件表面的微觀(guān)幾何形狀誤差,，表面粗糙度檢測(cè)方法很多,，主要方法如下：

1 、觸針?lè)ㄓ纸嗅樏璺?br />    利用針尖曲率半徑為 2μm左右的金剛石觸針沿被測(cè)表面緩慢滑行,，金剛石觸針的上下位移量由電學(xué)式長(zhǎng)度傳感器轉(zhuǎn)換為電信號(hào),，經(jīng)放大、濾波,、計(jì)算后由顯示儀表指示出表面粗糙度數(shù)值,，也可用記錄器記錄被測(cè)截面輪廓曲線(xiàn)。一般將僅能顯示表面粗糙度數(shù)值的測(cè)量工具稱(chēng)為表面粗糙度測(cè)量?jī)x,，同時(shí)能記錄表面輪廓曲線(xiàn)的稱(chēng)為表面粗糙度輪廓儀（簡(jiǎn)稱(chēng)輪廓儀）適用于測(cè)量Rα為0.025～6.3μm的表面粗糙度,。目前被廣泛地用于表面粗糙度測(cè)量，而且用它所獲得的結(jié)果經(jīng)常作為評(píng)價(jià)其它方法的參考標(biāo)準(zhǔn),。

2,、比較法
    將表面粗糙度比較樣塊（簡(jiǎn)稱(chēng)樣塊）根據(jù)視覺(jué)和觸覺(jué)與被測(cè)表面比較，判斷被測(cè)表面粗糙度相當(dāng)于哪一個(gè)數(shù)值,，或測(cè)量其反射光強(qiáng)變化來(lái)評(píng)定表面粗糙度,。樣塊是一套具有平面或圓柱表面的金屬塊，表面經(jīng)磨,、車(chē),、鏜、銑,、刨等切削加工,，電鑄或其他鑄造工藝等加工而具有不同的表面粗糙度。有時(shí)可直接從工件中選出樣品經(jīng)過(guò)測(cè)量并評(píng)定合格后作為樣塊,。利用樣塊根據(jù)視覺(jué)和觸覺(jué)評(píng)定表面粗糙度的方法雖然簡(jiǎn)便,，但會(huì)受到主觀(guān)因素影響，常不能得出正確的表面粗糙度數(shù)值,。對(duì)測(cè)量精度要求不高的可以使用這種方法,。

3、光切法
    光線(xiàn)通過(guò)狹縫后形成的光帶投射到被測(cè)表面上，以它與被測(cè)表面的交線(xiàn)所形成的輪廓曲線(xiàn)來(lái)測(cè)量表面粗糙度,。由光源射出的光經(jīng)聚光鏡,、狹縫、物鏡1后,，以45°的傾斜角將狹縫投影到被測(cè)表面,，形成被測(cè)表面的截面輪廓圖形，然后通過(guò)物鏡將此圖形放大后投射到分劃板上,。利用測(cè)微目鏡和讀數(shù)鼓輪先讀出h值,，計(jì)算后得到H 值。應(yīng)用此法的表面粗糙度測(cè)量工具稱(chēng)為光切顯微鏡,。它適用于測(cè)量RZ和Ry為0.8～100μm的表面粗糙度,，需要人工取點(diǎn)，測(cè)量效率低,。
34,、干涉法
    利用光波干涉原理 (見(jiàn)平晶、激光測(cè)長(zhǎng)技術(shù))將被測(cè)表面的形狀誤差以干涉條紋圖形顯示出來(lái),，并利用放大倍數(shù)高 （可達(dá)500倍）的顯微鏡將這些干涉條紋的微觀(guān)部分放大后進(jìn)行測(cè)量,，以得出被測(cè)表面粗糙度。應(yīng)用此法的表面粗糙度測(cè)量工具稱(chēng)為干涉顯微鏡,。這種方法適用于測(cè)量Rz和Ry為 0.025～0.8μm的表面粗糙度,。