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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
三維表面形貌儀是一款便攜式表面形貌測(cè)量?jī)x,，采用*的白光共聚焦技術(shù),，可實(shí)現(xiàn)對(duì)材料表面從納米到毫米量級(jí)的粗糙度測(cè)試
詳細(xì)介紹
三維表面形貌儀是一款便攜式表面形貌測(cè)量?jī)x,，采用的白光共聚焦技術(shù),，可實(shí)現(xiàn)對(duì)材料表面從納米到毫米量級(jí)的粗糙度測(cè)試，具有測(cè)量精度高,，速度快,，重復(fù)性好的優(yōu)點(diǎn)，該儀器的測(cè)量探頭可以任意旋轉(zhuǎn),，適合精密測(cè)量 不可移動(dòng)樣品表面形貌,，同時(shí)適合進(jìn)行野外測(cè)試。
產(chǎn)品特性:
1,，采用白光共聚焦色差技術(shù),，可獲得納米級(jí)的分辨率
2，測(cè)量具有非破壞性,，測(cè)量速度快,，精確度高
3,，測(cè)量范圍廣，可測(cè)透明,、金屬材料,，半透明、高漫反射,，低反射率,、拋光、粗糙材料(金屬,、玻璃,、木頭、合成材料,、光學(xué)材料,、塑料、涂層,、涂料,、漆、紙,、皮膚,、頭發(fā)、牙齒…),；
4，尤其適合測(cè)量高坡度高曲折度的材料表面
5,，不受樣品反射率的影響
6,，不受環(huán)境光的影響
7，測(cè)量簡(jiǎn)單,，樣品無(wú)需特殊處理
8,，Z方向,測(cè)量范圍大：為27mm
主要技術(shù)參數(shù)：
1，掃描范圍：25×25（mm）
2,，掃描步長(zhǎng)：0.1μm
3,，掃描速度：20mm/s
4，Z方向測(cè)量范圍：27mm
4,，Z方向測(cè)量分辨率：3nm
產(chǎn)品應(yīng)用：
MEMS,、半導(dǎo)體材料、太陽(yáng)能電池,、醫(yī)療工程,、制藥、生物材料,，光學(xué)元件,、陶瓷和良好材料的研發(fā)