您好, 歡迎來到化工儀器網
日立冷場發(fā)射掃描電鏡的特點和用途介紹
閱讀：902 發(fā)布時間：2023-7-24
冷場發(fā)射掃描電鏡是一種用于材料科學、化學領域的分析儀器,，超顯微,、形貌與成份分析相結合。
日立冷場發(fā)射掃描電鏡主要用于觀察材料表面的微觀形貌,、斷口及內部組織,并對材料表面微區(qū)成分進行定性和定量分析,。常用于陶瓷分子礦物、纖維,、生物等無機或有機固體材料表面及斷面形貌觀察,、元素分析,金屬材料相分析、成分分析和夾雜物形態(tài)鑒定,。該儀器可高分辨率觀察樣品表面超微結構,尤其對生物等不導電樣品,無需鍍膜即可實現高保真觀察,。
儀器具有高分辨率、高反差,、高靈敏,，配置能譜、真空轉移,、高真空離子濺射儀,。滿足廣大用戶對掃描電鏡的使用需求，大景深圖像掃描,、提高能譜采集效率,、實現有效檢測易與空氣發(fā)生作用的活潑樣品。對材料進行納米尺度的形貌觀察和成分分析,。
主要特點有：
1.配備加速電壓減速功能,，優(yōu)良的低加速電壓成像能力，1kV分辨率可達1.1nm,；
2.日立E×B技術,，無需噴鍍，可直接觀測不導電樣品,；
3.配備電子槍內置加熱器,，物鏡光闌具有自清潔功能；
4.SE與BSE任意比例搭配功能,。