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電子電路在線維修測(cè)試儀產(chǎn)品特點(diǎn)：

◆好的測(cè)試技術(shù),，好的驅(qū)動(dòng)能力,，故障原因的電路板皆可修好

◆友好簡(jiǎn)單的中文操作界面,，不經(jīng)訓(xùn)練，均可成為維修

◆無(wú)需電路原理圖,，不必知道器件型號(hào),，對(duì)電路板皆可快速維修

◆40/40×2路數(shù)字電路測(cè)試功能，備有TTL/CMOS/RAM及中規(guī)模集成電路數(shù)據(jù)庫(kù),；

◆40/40×2（ASA）V/I,，曲線分析測(cè)試功能
◆電路板測(cè)試存儲(chǔ)功能，被測(cè)板可與之比較
◆與進(jìn)口同類儀器比較,，優(yōu),，操作方便
◆通用于各類雙列直插式封裝芯片，可為大中規(guī)模集成電路提供分析測(cè)試,。
◆本功能亦可通過(guò)學(xué)習(xí)記錄,，比較分析來(lái)測(cè)試。
技術(shù)規(guī)格：
并口
Windows界面可在WIN98,，WIN2000,，WIN XP 等系統(tǒng)下工作
雙CPU工作，速度更快,，效率更高,。
功能測(cè)試40×2通道
VI曲線測(cè)試40×2通道
雙測(cè)試夾VI曲線測(cè)試
網(wǎng)絡(luò)提取 程控加電
EPROM/RAM在線讀取
模擬器件 VI曲線測(cè)試
總線隔離信號(hào)
中文維修筆記
◆[ICT]系列檢測(cè)儀檢測(cè)更加準(zhǔn)確

■ 功能測(cè)試軟件設(shè)上拉電阻——方便集電極開(kāi)路門(mén)的測(cè)試
■ 功能測(cè)試外供電源穩(wěn)定——各種大、中,、小型被測(cè)電路板皆可測(cè)試
■ 功能測(cè)試具有三態(tài)識(shí)別能力——可測(cè)三態(tài)器件和IC負(fù)載能力下降故障
■ V/I測(cè)試正負(fù)掃描電壓——同時(shí)檢查正/反向V/I曲線
■ V/I測(cè)試六個(gè)掃描頻率——保證V/I曲線測(cè)試穩(wěn)定
■ V/I測(cè)試三種測(cè)試電壓幅度——確保各類器件的V/I測(cè)試

◆集成電路在線功能測(cè)試

本功能采用后驅(qū)動(dòng)隔離技術(shù),，可在線判定IC邏輯功能是否正確，可測(cè)74系列,、
4000/45000邏輯IC,、75系列接口IC及各種存儲(chǔ)器等千余種集成電路。 1,、快速測(cè)試：直接
顯示測(cè)試結(jié)果,，迅速確定可疑IC 2、分析測(cè)試：顯示全部測(cè)試過(guò)程,，測(cè)試激勵(lì),。預(yù)期和實(shí)
際響應(yīng)，幫助分析故障原因 3,、器件識(shí)別：查找無(wú)標(biāo)記型號(hào)IC或同功能不同型號(hào)的IC,。

◆集成電路在線狀態(tài)測(cè)試

通過(guò)好壞板上相應(yīng)IC的狀態(tài)進(jìn)行比較,，找出有故障的IC。1,、狀態(tài)學(xué)習(xí)：在線學(xué)習(xí)IC的引腳關(guān)系,，互連狀態(tài)和測(cè)試的激勵(lì)與響應(yīng)，并存入數(shù)據(jù)庫(kù)中 2,、狀態(tài)比較：同故障
板上相應(yīng)IC在線進(jìn)行狀態(tài)比較,，根據(jù)兩者差異判定IC好壞 3、狀態(tài)顯示：顯示存入電腦庫(kù)
中的各IC的狀態(tài)資料,。

◆集成電路離線功能測(cè)試

電子電路在線維修測(cè)試儀離線測(cè)試IC功能好壞,，自動(dòng)識(shí)別未知型號(hào)的芯片

◆V/I曲線測(cè)試

通過(guò)好壞板上相應(yīng)節(jié)點(diǎn)的動(dòng)態(tài)阻抗圈的異同判定故障節(jié)點(diǎn)及故障IC 1、曲線學(xué)習(xí)：在線
學(xué)習(xí)板上各節(jié)點(diǎn)的動(dòng)態(tài)阻抗曲線（V/I曲線）,，并存入數(shù)據(jù)庫(kù)中 2,、曲線比較：同故
障板上相應(yīng)節(jié)點(diǎn)的動(dòng)態(tài)阻抗曲進(jìn)行比較，根據(jù)差異大小及維修經(jīng)驗(yàn)判定與此節(jié)點(diǎn)相關(guān)的IC
是否損壞 3,、曲線顯示：顯示已存入電腦庫(kù)中電路板上各個(gè)節(jié)點(diǎn)的動(dòng)態(tài)阻抗圖資料大規(guī)模
集成電路分析測(cè)試
網(wǎng)絡(luò)提取測(cè)試

使用戶方便的測(cè)試出元器件之間的連接關(guān)系,，；輔助判斷芯片的好壞,。實(shí)現(xiàn)網(wǎng)絡(luò)提取采
用了四種模式：
1,、探棒對(duì)探捧（“棒"—“棒"模式）
2、探捧對(duì)測(cè)試夾（“棒"—“夾"模式）
3,、測(cè)試夾對(duì)探捧（“夾"—“棒"模式）
4,、測(cè)試夾對(duì)測(cè)試夾（“夾"—“夾"模式）

◆開(kāi)發(fā)編譯

TVED為每一塊電路的每一個(gè)子測(cè)試都安排了一個(gè)說(shuō)明文件。該說(shuō)明
文件可以通過(guò)任何一個(gè)文本編輯器建立,，并按TVED要求轉(zhuǎn)換后即可
與相應(yīng)子測(cè)試關(guān)聯(lián)起來(lái),，隨時(shí)用熱鍵查看相應(yīng)說(shuō)明文件。

1,、TVED允許兩種建立測(cè)試圖形和方法
a）在TVED圖形界面上直接建立
b）讀入DCL語(yǔ)言的編譯結(jié)果

2,、編輯測(cè)試圖形 利用TVED提供的波形編輯功能，參考取回的響應(yīng),，不斷對(duì)測(cè)試圖形加
以調(diào)整,、修改。

3,、4種測(cè)試方式：
a）完整執(zhí)行一個(gè)測(cè)試
b）執(zhí)行一個(gè)測(cè)試的一部分
c）循環(huán)執(zhí)行
d）單步運(yùn)行

備注信息：
比舊款的4040/8080增加了以下功能：

◆網(wǎng)絡(luò)提取測(cè)試

使用戶方便的測(cè)試出元器件之間的連接關(guān)系,，；輔助判斷芯片的好壞,。實(shí)現(xiàn)網(wǎng)絡(luò)提取采
用了四種模式：
1,、探棒對(duì)探捧（“棒"—“棒"模式）
2、探捧對(duì)測(cè)試夾（“棒"—“夾"模式）
3、測(cè)試夾對(duì)探捧（“夾"—“棒"模式）
4,、測(cè)試夾對(duì)測(cè)試夾（“夾"—“夾"模式）

◆開(kāi)發(fā)編譯

TVED為每一塊電路的每一個(gè)子測(cè)試都安排了一個(gè)說(shuō)明文件,。該說(shuō)明
文件可以通過(guò)任何一個(gè)文本編輯器建立，并按TVED要求轉(zhuǎn)換后即可
與相應(yīng)子測(cè)試關(guān)聯(lián)起來(lái),，隨時(shí)用熱鍵查看相應(yīng)說(shuō)明文件,。

1、TVED允許兩種建立測(cè)試圖形和方法
a）在TVED圖形界面上直接建立
b）讀入DCL語(yǔ)言的編譯結(jié)果

2,、編輯測(cè)試圖形 利用TVED提供的波形編輯功能,，參考取回的響應(yīng)，不斷對(duì)測(cè)試圖形加
以調(diào)整,、修改,。

3、4種測(cè)試方式：
a）完整執(zhí)行一個(gè)測(cè)試
b）執(zhí)行一個(gè)測(cè)試的一部分
c）循環(huán)執(zhí)行
d）單步運(yùn)行

◆操作系統(tǒng)的兼容性增強(qiáng)