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TSI 3082型靜電分級器簡介
高度可靠且用途廣泛
自1976年以來，TSI® 靜電分級器一直在幫助科學(xué)家發(fā)生和測量亞微米粒子,。這些儀器被廣泛用于各種研究,，并因其高度可靠和極其廣泛的用途而贏得了當之無愧的聲譽。我們新型的靜電分級器— 3082型—不但延續(xù)了這一傳統(tǒng),，而且具有擴展的功能和易于使用的界面,。當前的設(shè)計提供了免工具安裝和自動檢測可配置組件的功能。分級器控制平臺包括觸屏顯示器和圖形用戶界面控制,，可進行粒徑分布測量,，并具有數(shù)據(jù)存儲的功能,，大大擴展了您研究的可能性！
TSI® 的靜電分級器篩分出高度單分散的亞微米氣溶膠,，直徑范圍為 1-1,000nm,。靜電分級器用作單分散氣溶膠發(fā)生系統(tǒng)或亞微米粒子分級系統(tǒng)的組成部分。
應(yīng)用
3082 型靜電分級器是氣溶膠測量的“一級標準"儀器,。這意味著它的性能基于基本的物理原理,，且結(jié)果是高度可重復(fù)的。
3082 型靜電分級器可用于氣溶膠發(fā)生和氣溶膠粒徑分布測量,。美國國家標準與技術(shù)研究院（NIST）使用TSI® 長DMA 差分靜電遷移分析儀來測量0.1微米標準參考材料的粒徑,。
當用作氣溶膠發(fā)生器以產(chǎn)生高度單分散粒子時：
? 氣溶膠研究,，包括粒子傳輸,、擴散,、凝聚,、 核化和凝結(jié)的研究
? 粒子電荷和電遷移率研究
? 濾材的過濾效率測試
? 光學(xué)粒子計數(shù)器等粒子儀器的校準—通過去除殘余 粒子和多重態(tài)來增強聚苯乙烯膠乳球（PSL）或其他 氣溶膠的單分散性
當在 TSI® SMPS™ 粒徑譜儀中用于亞微米粒子的高分辨率粒徑測量時：
? 氣溶膠研究,，包括核化和凝結(jié)研究
? 大氣監(jiān)測和氣候研究
? 納米技術(shù)研究與材料合成
? 燃燒和發(fā)動機排放研究
? 火焰,、粉末,、噴霧或其它來源產(chǎn)生的氣溶膠的表征
當單分散粒子生成與粒徑分布測量串聯(lián)使用時：
測量由于凝聚,、蒸發(fā),、凝結(jié),、加濕和化學(xué)反應(yīng)引起的粒子粒徑的變大和變小。
當與TSI® 氣溶膠靜電計3068B 型一起使用時：
凝聚核粒子計數(shù)器（ISO 27891）和其它氣溶膠儀器的初級粒徑和濃度校準,。
雙重用途
氣溶膠發(fā)生和氣溶膠粒徑測量
從廣義上講,，靜電分級器有兩類應(yīng)用：單分散氣溶膠發(fā)生和亞微米氣溶膠粒徑分布測量。3082 型靜電分級器作為可選組件的操作平臺,，選擇何種組件取決于客戶的應(yīng)用,。
3082型靜電分級器的第一個用途是作為亞微米粒子的單分散氣溶膠發(fā)生器。為了將分級器用作單分散氣溶膠發(fā)生器,，用戶需安裝選定的差分靜電遷移分析儀（DMA）,、氣溶膠中和器和進樣口撞擊式切割器；所有這些組件都由分級器控制和/或監(jiān)測,。
3082 型分級器的第二個也是最常見的用途是在掃描電遷移粒徑譜儀（SMPS™）系統(tǒng)中,。SMPS™ 系統(tǒng)測量氣溶膠的粒徑分布。在SMPS™系統(tǒng)中,，從分級器出來的單分散氣溶膠通過凝聚核粒子計數(shù)器（CPC）,，測量粒子數(shù)量濃度。通過快速掃描選定的粒徑范圍（因配置而異）,，SMPS 可精確測量氣溶膠的粒徑分布,。經(jīng)驗證，TSI® SMPS 可準確測量NIST 可追溯粒子（Vasiliou,，2004）,。
3938 系列SMPS 能夠測量小至1 nm,，大至1,000 nm 的粒子，具體取決于所使用的可配置組件,。已安裝的組件可被自動檢測識別,。對于大多數(shù)SMPS 配置，可以直接從3082 型分級器的前屏幕或通過軟件看到掃描結(jié)果,。