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詳細(xì)介紹
SmartSPM原子力顯微鏡（AFM, SPM）
SmartSPM原子力顯微鏡，又稱掃描探針顯微鏡,，SPM.
測(cè)量模式
l 接觸式原子力顯微鏡（大氣和液相）
l 半接觸式原子力顯微鏡（大氣和液相）
l 真正非接觸式原子力顯微鏡
l 橫向力/摩擦力顯微鏡（LFM）
l 導(dǎo)電原子力顯微鏡
l 磁力顯微鏡（MFM）,，開爾文探針（Kelvin Probe）
l 電容和靜電力顯微鏡（EFM）
l 高級(jí)的納米光刻和納米操作能力
l 音叉原子力顯微鏡
l 掃描范圍：100x100x15um（+ / -10%）
l 掃描類型：樣品
l XY非線性度： 0.03 %
l Z非線性度： 0.1 %
l 噪音：
Ø 電容傳感器開，在200Hz帶寬,，在XY 0.1nm RMS,，
Ø 電容傳感器關(guān)閉，在100Hz帶寬,，在XY 0.02nm RMS,。
Ø 1000Hz帶寬,， < 0.04nm的RMS Z電容式傳感器
l 數(shù)字閉環(huán)控制：X ,， Y ,，Z軸
l XY共振頻率： 7KHz（卸載）
l Z共振頻率： 15 KHz（卸載）
l 主動(dòng)消除XY相位滯后，過(guò)沖和結(jié)圈現(xiàn)象,，在快速掃描時(shí)無(wú)任何動(dòng)態(tài)圖像失真
l 在掃描器共振頻率上Z控制信號(hào)的數(shù)字濾波技術(shù),，實(shí)現(xiàn)了極短的穩(wěn)定時(shí)間
l 全自動(dòng)樣品定位：范圍-5 x 5mm，
定位分辨率-1 um
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測(cè)量模式 l 接觸式原子力顯微鏡（大氣和液相） l 半接觸式原子力顯微鏡（大氣和液相） l 真正非接觸式原子力顯微鏡 l 橫向力/摩擦力顯微鏡（LFM） l 導(dǎo)電原子力顯微鏡 l 磁力顯微鏡（MFM）,，開爾文探針（Kelvin Probe） l 電容和靜電力顯微鏡（EFM） l 高級(jí)的納米光刻和納米操作能力 l 音叉原子力顯微鏡 三維掃描成像 |
| AIST-NT是經(jīng)驗(yàn)豐富的掃描探針顯微鏡（SPM）制造商,，在掃描探針顯微鏡領(lǐng)域有超過(guò)65年的研發(fā)經(jīng)驗(yàn)，一直致力于新型掃描探針顯微鏡的創(chuàng)新性研發(fā)和制造。目前已推出新一代低噪音-快速掃描-超高穩(wěn)定性的AFM和AFM-NanoRaman系統(tǒng),。AIST-NT承諾提供zui高品質(zhì)的服務(wù)和客戶支持,，同時(shí)還提供納米技術(shù)的OEM客戶定制，外包等業(yè)務(wù),。 |
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