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光學調整架是做反射測量時候的探頭支架,，可以放置小于150mm的光學鍍層和基底樣品。支架可以安裝6.35直徑的反射探頭,，并且可以在高度上調整大約63.5mm,。平臺上刻有不同直徑的圓，可以更方便的對準樣品,。
STAGE | STAGE-RTL-T | |
尺寸: | 152.4 mm 直徑(base) | 206.3 mm 直徑(base) |
尺寸: | 101.6 mm 直徑(樣品區(qū)域) | 152.4 mm 直徑 (采樣支架)(樣品區(qū)域) |
重量: | 620 g | 4.5 kg |
高度: | 導軌高度可調 63.5 mm | 導軌高度可調 400 mm |
材質: | 陽極氧化鋁底盤, 不銹鋼支桿 | 陽極氧化鋁 |
光學調整架是常用的光譜測量附件,，與反射探頭共用可實現(xiàn)反射光譜測量，與兩根光纖跳線共用可實現(xiàn)透射光譜測量,。包括可調滑軌,、底座、樣品調整座以及兩個準直透鏡,。
特點：
- 實現(xiàn)透射和反射光譜測量
- 測量高度可調
- 測量高度可通過一維平移臺微調
- 自帶兩個準直透鏡
- 可定制配合安裝孔尺寸
如果需要其他相關配件,，例如光源，光譜儀,，光纖,，積分球等，可以聯(lián)系韻翔光電,。
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