低損耗光學(xué)元件的反射率和透射率的確定
1）通過腔衰減時間測量,，可以非常地測量反射率值R> 99％，透射率值T> 99％的低損耗光學(xué)元件,。 與光譜儀中的測量相比,，該方法有三個主要優(yōu)點(diǎn)：
2）適用于非常高的反射率和透射率
3）不可能獲得高于實(shí)際值的測量值
4）它具有非常高的精度
基本CRD測量設(shè)置
Layertec配有各種腔體環(huán)形系統(tǒng)，可以穩(wěn)定地控制光學(xué)元件的質(zhì)量,。 有關(guān)更多詳細(xì)信息,，請參閱我們的目錄內(nèi)容“低損耗光學(xué)和腔體衰減時間測量簡介”。
您可以在這里下載我們的目錄,。
Layertec配有各種腔體環(huán)形系統(tǒng),，可以穩(wěn)定地控制光學(xué)元件的質(zhì)量。 有關(guān)更多詳細(xì)信息,，請參閱我們的目錄內(nèi)容“低損耗光學(xué)和腔體衰減時間測量簡介”,。
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相位優(yōu)化fs激光寬帶鏡 - CRD測量示例
低損耗鏡 - CRD測量示例 
車鏡 - 寬帶CRD測量示例 
薄膜偏振器 - CRD測量示例 
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