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防爆氣體分析儀
閱讀：1384 發(fā)布時(shí)間：2014-10-11
確保安全的技術(shù)。
防爆型氣體分析儀誕生,。
使用凝聚了HORIBA在氣體分析方面成熟技術(shù)的防爆系類氣體分析儀,。它可對(duì)可燃性氣體，爆炸性氛圍下的氣體提供安全并正確的分析環(huán)境,。為了進(jìn)一步追求安全性,，分析儀裝備了考慮到良好的監(jiān)控性，操作性的界面,。同時(shí)還具備對(duì)應(yīng)IEC標(biāo)準(zhǔn)和通信功能（選配功能）,，使長期前瞻性活用變?yōu)榭赡堋Ｒ酝ㄓ眯赃^程用紅外線氣體分析儀為代表,，也具備可以對(duì)應(yīng)氧氣,，氫氣的各機(jī)型，豐富的產(chǎn)品線可適用于各類用途,。一如既往地在追求安全的環(huán)境下,，在氣體分析儀領(lǐng)域提供服務(wù)。
開發(fā)理念：
對(duì)應(yīng)多種分析需求
易于使用的用戶界面
符合IEC標(biāo)準(zhǔn),、具備通信功能
對(duì)應(yīng)氫氣防爆：
繼承了過去的機(jī)型（31系列）的可靠性,、安全性,，性能全面升級(jí)，可對(duì)應(yīng)“ⅡB+H2”
| 項(xiàng)目 | 注釋 | 備注 |
| Ex | 符合標(biāo)準(zhǔn) | |
| d | 防爆結(jié)構(gòu)分類 | d:隔爆型防爆結(jié)構(gòu) |
| ⅡB+H2 | 設(shè)備類型 | ⅡB+H2：礦井以外工廠 被允許涉及ⅡB類爆炸性氣體以及氧氣 |
| T4 | 溫度組別 | T4：zui高表層溫度135℃ |
內(nèi)壓型防爆：
| 項(xiàng)目 | 注釋 | 備注 |
| Ex | 符合標(biāo)準(zhǔn) | |
| P | 防爆結(jié)構(gòu)分類 | P:內(nèi)壓型防爆結(jié)構(gòu) |
| Ⅱ | 設(shè)備類別 | Ⅱ：礦井以外工廠 |
| T4 | 溫度組別 | T4：zui高表層溫度135℃ |
| X | 特別使用條件 |
| 項(xiàng)目 | 注釋 | 備注 |
| Ex | 符合標(biāo)準(zhǔn) | |
| Pxd | 防爆結(jié)構(gòu)分類 | P：內(nèi)壓型防爆結(jié)構(gòu)【PX方式】（容器） d:隔爆型防爆結(jié)構(gòu)（傳感器部位） |
| ⅡC | 設(shè)備類別 | ⅡC：礦井以外工廠 被允許涉及ⅡC類爆炸性氣體 |
| T4 | 溫度組別 | T4：zui高表層溫度135℃ |
| X | 特別使用條件 |
測(cè)定原理：
干涉修正型就是利用圖示紅外線氣體分析儀原理,，尤其是對(duì)含有大量干涉成分的樣氣,，能夠得到極其的測(cè)定值的*方式。在標(biāo)準(zhǔn)型的幾本結(jié)構(gòu)的基礎(chǔ)上,，干涉修正型需要在同一光學(xué)系統(tǒng)上并列配置上測(cè)定用檢測(cè)器和修正用檢測(cè)器,。
通過這樣可大大減輕以下影響：
①樣氣中其他成分造成的干涉影響
②外部的震動(dòng)等產(chǎn)生的外部影響
③光源部分、檢測(cè)池老化等造成的漂移