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食品重金屬檢測儀ZJ05

參  考  價:面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號ZJ05

品牌

廠商性質(zhì)其他

所在地北京市

更新時間:2024-09-11 15:53:21瀏覽次數(shù):1677次

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產(chǎn)地類別 國產(chǎn) 應(yīng)用領(lǐng)域 石油
食品重金屬檢測儀ZJ05采用電化學(xué)方法,,使用無汞電,,安全環(huán)保。 主要針對食品,、水質(zhì),、土壤,、水產(chǎn)品等物質(zhì)中重金屬含量進(jìn)行檢測,,操作簡單,便于在現(xiàn)場快速準(zhǔn)確的進(jìn)行檢測,。集重金屬鉛,、鎘、六價鉻,、汞,、砷等多種檢測項(xiàng)目為一體,可以滿足多項(xiàng)重金屬分析的需要

食品重金屬檢測儀ZJ05

說明
重金屬檢測儀采用電化學(xué)方法,,使用無汞電,,安全環(huán)保。 主要針對食品,、水質(zhì),、土壤、水產(chǎn)品等物質(zhì)中重金屬含量進(jìn)行檢測,,操作簡單,,便于在現(xiàn)場快速準(zhǔn)確的進(jìn)行檢測。集重金屬鉛,、鎘,、六價鉻、汞,、砷等多種檢測項(xiàng)目為一體,,可以滿足多項(xiàng)重金屬分析的需要。此檢測儀器既可用于現(xiàn)場檢測,,也可用于實(shí)驗(yàn)室檢測,,開機(jī)成本低,耗材用量少,,操作工作量小,,使用方便且成本低。

食品重金屬檢測儀ZJ05
一,、儀器特點(diǎn):
1.基于溶出伏安法,,抗干擾能力強(qiáng),靈敏度高,,檢測限低至ppb級(μg/L),;
2.工作電采用長壽命無汞電,安全環(huán)保,;
3.樣品前處理安全、簡便,,可以一次處理測試鉛,、鎘、鉻,、汞,、砷等多種金屬;
4.快速檢測,,檢測時間只需幾十秒,,檢測前準(zhǔn)備時間只需幾分鐘;
5.高清觸摸屏幕,,操作簡便,,無需掌握電化學(xué)專業(yè)知識;
6.測試過程自動化,,支架自動升降,,測試管旋轉(zhuǎn)速度自動調(diào)節(jié);
7.智能化程度高,,數(shù)據(jù)可自動處理,、顯示、存儲,、打?。?br />8.使用成本低,,開機(jī)成本低,,耗材用量少;
9.使用方便,,既可用于現(xiàn)場檢測,,也可用于實(shí)驗(yàn)室檢測;
10.可與計(jì)算機(jī)連接使用,,配備軟件控制檢測過程,。

二、技術(shù)參數(shù):
1.系統(tǒng)分辨精度:電流零點(diǎn)對應(yīng)的電位對值不大于2mV,;
                             起點(diǎn)電位與初始電位設(shè)定值相對偏差的對值應(yīng)不大于2%,;
                             終點(diǎn)電位與終止電位設(shè)定值相對偏差的對值應(yīng)不大于2%;
2.zui小可測濃度:0.5 ppb (μg/L),;
3.重復(fù)性:RSD≤10%,;
4.線性:線性相關(guān)系數(shù)r≥0.995;
5.外形尺寸:400 mm×270 mm×420 mm,;
6.凈重:14.0 ㎏

產(chǎn)品名稱:數(shù)字式硅晶體少子壽命測試儀 少子壽命測試儀
產(chǎn)品型號: LT-100C

數(shù)字式硅晶體少子壽命測試儀 少子壽命測試儀 型號: LT-100C 
為解決太陽能單晶,、多晶少子壽命測量,,特按照國標(biāo)GB/T1553及SEMI MF-1535用高頻光電導(dǎo)法研制出了數(shù)字式少子壽命測試儀。                                                        
      該設(shè)備是按照標(biāo)準(zhǔn)GB/T1553“硅單晶少數(shù)載流子壽命測定的高頻光電導(dǎo)衰減法”設(shè)計(jì)制造,。高頻光電導(dǎo)衰減法在我國半導(dǎo)體集成電路,、晶體管、整流器件,、核探測器行業(yè)已運(yùn)用了三十多年,,積累了豐富的使用經(jīng)驗(yàn),經(jīng)過數(shù)次全國十多個單位巡回測試的考驗(yàn),,證明是一種成熟可靠的測試方法,,特別適合于硅塊,、硅棒研磨面的少子體壽命測量,;也可對硅片進(jìn)行測量,給出相對壽命值,。方法本身對樣品表面的要求為研磨面,,制樣簡便。 

 LT-100C數(shù)字式硅晶體少子壽命測試儀有以下特點(diǎn): 
1,、 可測量太陽能級多晶硅塊,、單晶硅棒少數(shù)載流子體壽命。表面無需拋光,,直接對切割面或研磨面進(jìn)行測量,。同時可測量多晶硅檢驗(yàn)棒及集成電路、整流器,、晶體管級硅單晶的少子壽命,。 
2、  可測量太陽能級單晶及多晶硅片少數(shù)載流子的相對壽命,,表面無需拋光,、鈍化。 
3,、配備軟件的數(shù)字示波器,,液晶屏上直接顯示少子壽命值,同時顯示動態(tài)光電導(dǎo)衰退波形,,并可聯(lián)用打印機(jī)及計(jì)算機(jī),。 
4、配置兩種波長的紅外光源: 
a,、紅外光源,,光穿透硅晶體深度較深≥500μm,有利于準(zhǔn)確測量晶體少數(shù)載流子體壽命,。 
b,、短波長紅外脈沖激光器,,光穿透硅晶體深度較淺≈30μm,但光強(qiáng)較強(qiáng),,有利于測量低阻太陽能級硅晶體,。 
5、測量范圍寬廣 
測試儀可直接測量: 
a,、研磨或切割面:電阻率≥0.3Ω•㎝的單晶硅棒,、定向結(jié)晶多晶硅塊少子體壽命,切割片的少子相對壽命,。 
b,、拋光面:電阻率在0.3~0.01Ω•㎝范圍內(nèi)的硅單晶、鍺單晶拋光片,。 
壽命可測范圍     0.25μS—10ms     

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