KXJ127D隔爆兼本安型顯示控制箱
一,、 概述
礦用隔爆兼本安型顯示控制箱(以下簡稱控制箱)主要用于煤礦井下含有爆炸性氣體的場所,為運輸巷道入口,、出口或三叉口處為PH5礦用本安型顯示屏提供電源及觸發(fā)信號,。
KXJ127D隔爆兼本安型顯示控制箱二,、使用環(huán)境條件:
控制箱在下列條件下應能正常工作:
a. 溫度:-10℃~+40℃;
b. 濕度:不大于95%,;
c. 大氣壓力:80~106kPa,;
d. 環(huán)境噪聲一般不大于75dB
e.有爆炸性混合物,但無破壞緣的腐蝕性氣體的場合,。
三,、 結構特征與工作原理
1 本控制箱為隔爆腔,隔爆腔中裝有電源板,,電路采用了集成電壓比較器,,高靈感度的電光耦合器件,模塊化設計,,整體布局合理,、體積小,、重量輕,。
2 該控制箱有兩種觸發(fā)方式狀態(tài),一是打點方式,;二是觸點方式,。
四、技術特征
1 額定電壓:AC 127V。
2 額定工作電流: 150mA,。
3 額定輸出電壓: 5V
4 額定輸出電流:200mA,,zui大輸出電流:800mA
5 周期與隨機偏移<峰-峰值>不大于 250 mV
6 適應電壓波動范圍:75%~110%。
7 zui小輸出電壓:4.5V,,zui大輸出電壓:5.2V
8 工作方式:
8.1 打點工作方式:在設置時選擇打點模式,。由外部連接的防爆按鈕觸發(fā)。按鈕接通一次為“打一點",,按鈕連續(xù)接通兩次為“打兩點",。
8.2 觸點工作方式:在設置時選擇通斷模式。由繼電器觸點觸發(fā),。
9. 本安參數(shù):Uo: 5.2V ,、Io:800mA 、Lo:0.2mH ,、Co:30μF
![]() | 產品名稱:半導體激光塵埃粒子計數(shù)器 產品型號:CLJ-D |
半導體激光塵埃粒子計數(shù)器 型號:CLJ-D
北京同德創(chuàng)業(yè) 專業(yè)鑄造品質
該系列儀器的技術指標均滿足計量總局頒布的JJG547-88檢定規(guī)程的要求,,整機功能采用美國微電腦控制處理技術及上zui先的SMT芯片貼片封裝技術和半導體激光傳感器技術及防噪聲氣泵,可直接打印檢測結果,。具有功能多,、測量精度高、速度快,、便于攜帶和操作簡單等特點,。儀器一次采樣可同時測得多種粒徑的塵埃粒子數(shù),并能選擇觀察其中某一粒徑粒子的數(shù)目及其變化情況,,對于研究,、檢測和評價各種潔凈環(huán)境都十分方便。該系列儀器性能設計良好,、質量穩(wěn)定可靠
半導體激光塵埃粒子計數(shù)器 型號:CLJ-D
北京同德創(chuàng)業(yè) 專業(yè)鑄造品質
該系列產品已被廣泛應用于潔凈室檢測,;過濾器現(xiàn)場檢測、撿漏,;可監(jiān)測凈工作臺,、生物安全柜,HVAC系統(tǒng),,計算機室,、飲料包裝環(huán)境,醫(yī)療器械生產環(huán)境,,醫(yī)院潔凈手術室,,汽車噴涂環(huán)境微電子、制藥,、生化制品,、食品衛(wèi)生,、精細化工、精密機械和航空航天等生產和科研部門,,是制藥企業(yè)及其監(jiān)督管理部門貫徹GMP規(guī)范及電子生產企業(yè)的xuan儀器,。 北京同德創(chuàng)業(yè) 專業(yè)鑄造品質
半導體激光塵埃粒子計數(shù)器 型號:CLJ-D
主要技術參數(shù)及性能:
北京同德創(chuàng)業(yè) 專業(yè)鑄造品
半導體激光塵埃粒子計數(shù)器 型號:CLJ-D
質
1.光源: 全半導體 激光光源
2.采樣量: 2.83L/min(0.1cfm/min)
3.檢測范圍: 100級~100萬級
4.允許被測試空氣的含塵濃度≯10 萬顆/2.83L
5.粒徑通道: 0.3 0.5 1.0 3.0 5.0 10.0(μm)六檔
6.顯示或打印可將2.83升/分內所含顆粒轉換成1m3所含顆粒數(shù)。
7.采樣周期: 1~10 (min)
8.自凈時間: ≤15 (min)
9.校準:可追溯美國標準技術協(xié)會(NIST),,我公司已通過計量建標考核,,可追溯至上海計量測量技術研究院可自行進行校準或第三方計量機構進行校準
10.工作環(huán)境: 溫度:10~35℃ 相對溫度: 20~75%RH
11.zui大功耗: 25W
12.測量溫度和濕度的范圍與精度:(選購)
(1) 溫度:0~50℃±1℃
(2) 濕度:0~100%RH±5%
13.采樣點數(shù) 2~7點設定
14.每點采樣次數(shù) 2~9次設定
15.UCL報表:符合FS-209E、中國GMP的標準
16.工作時間:8 小時
17.電源: AC220V±10% 50±2Hz
18.重量:4.8kg
19.外形尺寸: 260×130×340
20.六檔粒徑塵埃濃度同時檢測,,依次數(shù)字顯示或自選粒徑顯示,。
21.備注: 內置打印機、自動判斷凈化等級,、等動力采樣頭,、采樣架
半導體激光塵埃粒子計數(shù)器 型號:CLJ-D