雙電測(cè)四探針電阻率測(cè)試儀 型號(hào)：  341

本儀器本儀器采用四探針雙電測(cè)量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門,，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料,。液晶顯示,，無(wú)需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能,，電阻率單位自動(dòng)選擇,，儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無(wú)需人工多次和重復(fù)設(shè)置,。采用高精度AD芯片控制,，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理,、質(zhì)量輕便,，運(yùn)輸安全、使用方便,；選配：配備軟件可以由電腦操控,，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成報(bào)表,；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示,，同時(shí)顯示液晶顯示：電阻,、電阻率、方阻,、溫度,、單位換算、溫度系數(shù),、電流,、電壓、探針形狀,、探針間距,、厚度 、電導(dǎo)率,，配置不同的測(cè)試治具可以滿足不同材料的測(cè)試要求,。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu). 
雙電測(cè)數(shù)字式四探針測(cè)試儀是運(yùn)用直線或方形四探針雙位測(cè)量。該儀器設(shè)計(jì)符合單晶硅物理測(cè)試方法標(biāo)準(zhǔn)并參考美國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn),。利用電流探針,、電壓探針的變換，進(jìn)行兩次電測(cè)量,，對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行雙電測(cè)分析,，自動(dòng)消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機(jī)械游移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果的影響,，它與單電測(cè)直線或方形四探針相比,，大大提高度，特別是適用于斜置式四探針對(duì)于微區(qū)的測(cè)試,。 
提供中文或英文兩種語(yǔ)言操作界面選擇,，滿足國(guó)內(nèi)及國(guó)外客戶需求 
廣泛用于：覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高,、低溫電熱膜;隔熱,、防輻射導(dǎo)電窗膜 導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜,、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽,、合金類箔膜;熔煉、燒結(jié),、濺射,、涂覆、涂布層,，電阻式,、電容式觸屏薄膜;電涂料，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測(cè)試 
硅晶塊,、晶片電阻率及擴(kuò)散層,、外延層、ITO導(dǎo)電箔膜,、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻  半導(dǎo)體材料/晶圓,、太陽(yáng)能電池、電子元器件,，導(dǎo)電薄膜（ITO導(dǎo)電膜玻璃等）,，金屬膜，導(dǎo)電漆膜,，蒸發(fā)鋁膜,，PCB銅箔膜，EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率  導(dǎo)電性油漆,，導(dǎo)電性糊狀物,，導(dǎo)電性塑料，導(dǎo)電性橡膠,，導(dǎo)電性薄膜,，金屬薄膜，抗靜電材料,， EMI 防護(hù)材料,，導(dǎo)電性纖維，導(dǎo)電性陶瓷等 
參數(shù)資料 
1.方塊電阻范圍：10-5～2×105Ω/□ 
2.電阻率范圍：10-6～2×106Ω-cm 
3.測(cè)試電流范圍：0.1μA ,，1μA,，10μA，100µA,，1mA，10mA,，100 mA 
4.電流精度：±0.1%讀數(shù) 
5.電阻精度：≤0.3% 
6.顯示讀數(shù)：液晶顯示：電阻,、電阻率、方阻,、溫度,、單位換算、溫度系數(shù),、電流,、電壓、探針形狀,、探針間距,、厚度 、電導(dǎo)率 
7.測(cè)試方式: 雙電測(cè)量 
8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗：<30W 
9.整機(jī)不確定性誤差: ≤4%（標(biāo)準(zhǔn)樣片結(jié)果） 
10.選購(gòu)功能: 選購(gòu)1.pc軟件,；選購(gòu)2.方形探頭,； 選購(gòu)3.直線形探頭,； 選購(gòu)4.測(cè)試平臺(tái) 
11.測(cè)試探頭：  探針間距選購(gòu)：1mm；2mm,；3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購(gòu)：碳化鎢針;白鋼針,；鍍金磷銅半球形針