目錄:上海儀電物理光學(xué)儀器有限公司>>粒度儀系列>> WKL-702 顆粒圖像分析儀
產(chǎn)品特點(diǎn) 將傳統(tǒng)的顯微測量方法與現(xiàn)代的圖像技術(shù)相結(jié)合,,是一種采用圖像法進(jìn)行顆粒形貌分析和顆粒測量的顆粒分析儀器,,由光學(xué)顯微鏡,、數(shù)字CCD攝像機(jī)和顆粒圖像處理分析軟件組成。該系統(tǒng)通過專用的數(shù)字?jǐn)z像機(jī)將圖像傳輸給電腦,,通過專用的顆粒圖像處理分析軟件對圖像進(jìn)行分析處理,,具有直觀、形像,、準(zhǔn)確和測量范圍寬等特點(diǎn),。 1、圖像多種處理方法:影像增強(qiáng),、圖像疊加,、局部提取、定倍放大,、對比度,、亮度調(diào)節(jié),、顆粒定位、自動分割等幾十種功能,。 2,、具有圓度、曲線,、周長,、面積、直徑等幾十種幾何參數(shù)的基本測量,。 3,、可直接按顆粒粒徑的粒徑面積、形狀等多類參數(shù),,以線性或非線性統(tǒng)計(jì)方式繪出分布圖,。 技術(shù)參數(shù)
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