DM1230 X熒光鋁硅分析儀

與鈣鐵分析儀同時使用,、

實現(xiàn)生料配料的率值控制

以不到一半的投資實現(xiàn)

X熒光多元素分析儀的功能

采用

能量色散X射線熒光(EDXRF)分析技術

本公司專有的分譜技術,、次級濾光片,、

超薄鈹窗正比計數(shù)管,、特殊的光路系統(tǒng)

符合標準GB/T176 JB/T11145 JC/T1085

概述

DM1230 X熒光鋁硅分析儀是本公司集數(shù)十年X熒光分析儀的研究經驗,，在公司原有的DM系列鈣鐵分析儀,、X熒光多元素分析儀等的基礎上研制推出的分析儀器,。它采用能量色散X射線熒光(EDXRF)分析技術,，薄鈹窗充氣正比計數(shù)管、次級濾光片,、特殊的光路系統(tǒng)、硬質樣品比例法和本公司專有的分譜技術,，從而使小型儀器也能準確測量相鄰的輕元素(如水泥生料中的Al,、Si)，其測量準確度達到進口同類儀器的水平,。其符合國家標準GB/T 176—2017《水泥化學分析方法》的相關要求,，符合行業(yè)標準JC/T1085—2008《水泥用X射線熒光分析儀》，符合行業(yè)標準JB/T11145—2011《X射線熒光光譜儀》,。只要壓個片就能在5分鐘內測出生料,、熟料或水泥中Al2O3、SiO2的濃度,。

目前國內大多數(shù)水泥企業(yè)已使用X熒光鈣鐵分析儀來測量生料等物料中CaO,、Fe2O3的含量,，但Al2O3、SiO2含量的測量卻很少是用X熒光分析儀的,，而Al2O3,、SiO2含量的即時準確得到與CaO、Fe2O3對水泥生產的質量控制同樣重要,，只有同時即時準確得到這四個氧化物的含量才能真正實現(xiàn)生料的率值控制,。當本儀器與本公司的鈣鐵分析儀一起使用時可用同一個樣品，且由于按本儀器要求制備出的樣品比按鈣鐵分析儀要求的好,，所以還能提高CaO,、Fe2O3的含量測量準確度，與DM2100型X熒光多元素分析儀相比,，雖然使用麻煩了一點,，但價格不到一半，且由于結構簡單可靠性更高了,。

DM1230 X熒光鋁硅分析儀的2021款除保持了原有DM1230的優(yōu)點外,還進行了以下重大改進：

(1) 大屏幕彩色觸摸式液晶屏代替原黑白液晶屏和鍵盤,，改善了用戶的操控體驗。

(2) 新的大規(guī)模集成電路CPU代替原老的如80C31等CPU,，沒有數(shù)據總線與外部設備或外部芯片直接連接,，極大地提高了系統(tǒng)的可靠性，基本消滅了死機現(xiàn)象,。

(3) 用貼片電路代替原立式電路,，減少了電路板的面積，并能大規(guī)模機械化生產,，極大地提高了硬件的可靠性,，使儀器的返修率降到底。

(4) 用熱敏打印機代替了原來的針打印機,。

(5) 用最新設計的采用CPLD,，F(xiàn)PGA，DSP等技術的多道脈沖幅度分析器及可變增益放大器代替原單道脈沖幅度分析器及固定增益放大器,，極大地提高了儀器的長期穩(wěn)定性,。

DM1230 X熒光鋁硅分析儀的2021款的推出是本公司實現(xiàn)自我超越的成果

DM1230 X熒光鋁硅分析儀 X射線探測裝置適用范圍

主要用于水泥生料、熟料,、水泥和原料等物料中Al2O3,、SiO2的濃度測量?？蓡螜C使用,，也可聯(lián)機使用為生料配料自動控制系統(tǒng)提供檢測訊號，形成“分析儀---微機---皮帶秤"自動控制系統(tǒng),。

除水泥工業(yè)外,，也可用于發(fā)電廠,、磚瓦廠、冶金,、石油,、地質礦山等部門的固體、液體和粉末樣品中Al2O3,、SiO2的濃度測量,。

DM1230 X熒光鋁硅分析儀 X射線探測裝置特點

快速同時––所需測量元素同時快速分析,一般幾分鐘給出濃度結果,。

高準確度––采用EDXRF技術,低本底薄鈹窗正比計數(shù)管,，次級濾光片。極大地提高了儀器的靈敏度和峰背比,具出色的重復性和再現(xiàn)性,，準確度,。

向下照射––采用X射線向下照射系統(tǒng)，杜絕了樣品粉末污染損壞探測系統(tǒng)的可能,，特別適合水泥生熟料等粉末樣品,。

長期穩(wěn)定––采用可變增益數(shù)字多道，有增益調整,、比率校正,、偏差修正等功能，的長期穩(wěn)定性,。

環(huán)保節(jié)能––射線防護達豁免要求,。分析時不接觸不破壞樣品，無污染,，無需化學試劑,，也不需要燃燒。

使用方便––觸摸屏操作,。樣品粉碎壓片放入儀器后只需按[啟動]鍵即可,，真正實現(xiàn)一鍵操作。

高可靠性––一體化設計,，集成化程度高,，環(huán)境適應能力強，抗干擾能力強,，可靠性高,。

數(shù)據傳存––可存儲海量數(shù)據，支持掉電后保持數(shù)據,，并可隨時查看,。并可將存儲數(shù)據傳輸?shù)絇C機。

高性價比––無需氣體,、真空,、稀釋,，運行維護成本極低。價格為國外同類產品的一半.

校準

X熒光分析方法是一種參考方法,，校準是為得到定量的結果所必須的,。XRF光譜儀通過比較已知標樣與未知樣的光譜強度來得到定量分析的結果。其某元素的濃度計算式（即校準曲線）為：C＝D＋EIC＋FIC 2  

（1）式中,，IC =f(I0),，I0為原始強度，IC為處理后強度,，D,、E、F是由校準確定的系數(shù),。校準的方法是：用光譜儀測量一系列校準標準樣品或有證標準樣品的每種元素強度,，利用回歸分析，例如最小二乘法,，確定(1)式的系數(shù),。

用已知濃度的11個水泥生料標準樣品對光譜儀進行校準，得到的數(shù)據如表1,。

表1.水泥生料標準樣品校準結果數(shù)據

這些校準曲線的相關系數(shù)γ均大于0.99,，表示DM1230 X熒光鋁硅分析儀的線性誤差小。

重復性

對同一水泥生料樣品,，進行11次測量,，得到各元素的重復性數(shù)據如表2。

表2.生料標準樣品重復性測量數(shù)據分析(%）

按國家標準GB/T 176—2017《水泥化學分析方法》的重復性要求,，光譜儀的重復性必須滿足：其示值標準偏差的3倍不大于GB/T176的重復性限,。從表2可以看出DM1230 X熒光鋁硅分析儀可以實現(xiàn)優(yōu)異的重復性

主要技術指標