奧林巴斯全聚焦相控陣的幾個(gè)關(guān)鍵技術(shù)
包絡(luò)功能
這是全聚焦檢測(cè)技術(shù)的一個(gè)重要功能,,啟用了包絡(luò)功能后,,儀器在使用包絡(luò)功能進(jìn)行探測(cè)之前,,儀器軟件的全聚焦方式(TFM)算法既會(huì)提取信號(hào)的真實(shí)分量,也會(huì)提取信號(hào)的理論分量,,并將兩者結(jié)合起來(lái)完成計(jì)算,。
這種處理方式有助于確保不丟失數(shù)據(jù),可清除噪聲和偽影,,還可以對(duì)圖像進(jìn)行微調(diào),。在所生成的圖像中,缺陷的聚焦程度更高,,因而更容易對(duì)缺陷的形狀和大小進(jìn)行表征,。
高溫氫致缺陷(HTHA)
是一種隱藏性很強(qiáng)的腐蝕缺陷,高溫下的鋼材料如果接觸到氫元素就可能逐漸生發(fā)出這種缺陷,,如:煉油廠或石化廠的箱罐或管道,。
使用帶有包絡(luò)功能的全聚焦方式(TFM)進(jìn)行成像,,可使HTHA缺陷顯示更加直觀,,檢測(cè)人員可以確認(rèn)他們對(duì)存在早期高溫氫致缺陷的懷疑是否正確,,從而可以采取措施,,避免故障的發(fā)生,。
多組全聚焦模式同時(shí)采集,,
也是非常重要的一個(gè)能力,。因?yàn)橹皫灼谥v過(guò),,不同模式對(duì)應(yīng)著不同的缺陷類(lèi)型,,比如3T用于檢測(cè)下表面裂紋,5T用于檢測(cè)上表面裂紋,。
這樣的話,,需要同時(shí)采集多組模式才能把不同類(lèi)型缺陷完整展現(xiàn),因而多組全聚焦模式采集成為必要,。
單文件存儲(chǔ)能力
也是全聚焦檢測(cè)的一個(gè)重要影響因素,,由于全聚焦技術(shù)的數(shù)據(jù)量非常龐大,因而如何能夠存儲(chǔ)如此大尺寸的數(shù)據(jù)成為一個(gè)挑戰(zhàn),。
如果一個(gè)25GB的單文件,,可以使用4組TFM設(shè)置,,單次掃查10m長(zhǎng)的焊縫,而無(wú)需停機(jī)再保存,,每個(gè)TFM圖像像素點(diǎn)數(shù)462 X 385.
由于TFM/FMC的激發(fā)過(guò)程是依次激發(fā)每個(gè)晶片,,并進(jìn)行接收,因此總的激發(fā)次數(shù)遠(yuǎn)大于常規(guī)的相控陣檢測(cè),,這就需要一個(gè)較高的PRF來(lái)支撐這樣的操作,,否則將嚴(yán)重影響檢測(cè)速度。
20KHz
COD檢測(cè)即縱向的焊縫檢測(cè),,
這種模式下也可以進(jìn)行全聚焦檢測(cè),。COD的全聚焦檢測(cè)的路徑規(guī)劃和聲時(shí)計(jì)算更加復(fù)雜,因而對(duì)儀器的軟件算法能力要求也更高,。
上面的幾個(gè)技術(shù)關(guān)鍵點(diǎn)大家了解清楚以后,,后面會(huì)給大家介紹全聚焦與PAUT之間的技術(shù)比較,希望通過(guò)這個(gè)比較讓大家明白每種技術(shù)優(yōu)劣勢(shì),,以便于更好地使用這些技術(shù),。