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影響超聲波測(cè)厚儀測(cè)量精度的原因
閱讀：923 發(fā)布時(shí)間：2021-3-2
超聲波測(cè)厚儀按工作原理分：有共振法、干涉法及脈沖反射法等幾種,，由于脈沖反射法并不涉及共振機(jī)理,，與被測(cè)物表面的光潔度關(guān)系不密切，所以超聲波脈沖法測(cè)厚儀是受用戶歡迎的一種儀表,。
影響超聲波測(cè)厚儀測(cè)量精度的原因
(1)覆蓋層厚度大于25μm時(shí),，其誤差與覆蓋層厚度近似成正比；
(2)基體金屬的電導(dǎo)率對(duì)測(cè)量有影響,，它與基體金屬材料成分及熱處理方法有關(guān),；
(3)任何一種測(cè)厚儀都要求基體金屬有一個(gè)臨界厚度,，只有大于這個(gè)厚度,，測(cè)量才不會(huì)受基體金屬厚度的影響,；
(4)渦流測(cè)厚儀對(duì)試樣測(cè)定存在邊緣效應(yīng),，即對(duì)靠近試樣樣邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處的測(cè)量是不可靠的,；
(5)試樣的曲率對(duì)測(cè)量有影響,，這種影響將隨曲率半徑的減小明顯地增大；基體金屬和覆蓋層的表面粗糙度影響測(cè)量的精度,，粗糙度增大,，影響增大；
精密超聲波測(cè)厚儀45MG儀器操作簡(jiǎn)便?,、堅(jiān)固耐用,、性能可靠。是一款帶有各種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)量功能和軟件選項(xiàng)的高級(jí)超聲測(cè)厚儀,。這款*特色的儀器與所有Olympus雙晶和單晶測(cè)厚探頭兼容,，是一款集所有解決方案于一機(jī)的創(chuàng)新型儀器，可用于幾乎所有測(cè)厚應(yīng)用。