渦流陣列的優(yōu)勢(shì)

同單通道渦流技術(shù)相比，渦流陣列技術(shù)具有下列優(yōu)勢(shì)：

·檢測(cè)時(shí)間大幅度降低,。

·單次掃查覆蓋更大檢測(cè)區(qū)域,。

·減小了機(jī)械和自動(dòng)掃查系統(tǒng)的復(fù)雜性,。

·提供檢測(cè)區(qū)域?qū)崟r(shí)圖像,，便于數(shù)據(jù)的判讀,。

·很好地適用于對(duì)那些具有復(fù)雜幾何形狀的部件的檢測(cè),。

·改進(jìn)了檢測(cè)的可靠性和檢出率（POD）

·渦流陣列腐蝕檢測(cè)

在飛機(jī)結(jié)構(gòu)壽命評(píng)估領(lǐng)域,，腐蝕是其主要威脅。結(jié)構(gòu)層間積累的濕氣將導(dǎo)致出現(xiàn)隱蔽的腐蝕,，如果不被發(fā)現(xiàn),，將導(dǎo)致多部位的損傷。而在役檢測(cè)中,，渦流檢測(cè)技術(shù)能夠滿足這樣的檢測(cè)

渦流檢測(cè)技術(shù)通過(guò)探頭線圈產(chǎn)生電磁場(chǎng),，并在導(dǎo)電材料中產(chǎn)生渦流場(chǎng)，當(dāng)有缺陷存在時(shí),，材料中的渦流場(chǎng)被擾動(dòng),，并被探頭線圈接收到，形成渦流信號(hào),。

 

常規(guī)渦流技術(shù)也可以用于多層結(jié)構(gòu)腐蝕檢測(cè),，通過(guò)單一線圈的渦流探頭在工件表面做光柵掃查，來(lái)顯示可能的腐蝕缺陷,。

 

常規(guī)渦流檢測(cè)使用低頻渦流點(diǎn)式探頭,，頻率范圍100Hz至50kHz。下面是渦流信號(hào)在5%,，10%和20%的材料損失率試塊上的檢測(cè)結(jié)果,。材料損失越嚴(yán)重，信號(hào)幅值越高,。

 

渦流陣列技術(shù),，使用多線圈渦流探頭，可形成C掃圖像顯示,。渦流陣列探頭支持32線圈,，既可以是橋式，也可以是反射式,。操作頻率范圍20Hz至6MHz,，并可多頻信號(hào)同時(shí)采集。

 

下面是多層鋁合金試樣的截面示意圖,，紅色區(qū)域代表外層蒙皮和底面之間的腐蝕區(qū),。

 

比較常規(guī)渦流的平面阻抗圖結(jié)果和渦流陣列檢測(cè)結(jié)果,，相比于平面阻抗圖顯示結(jié)果，渦流這列檢測(cè)結(jié)果更加直觀,，并可顯示腐蝕區(qū)域,，評(píng)估缺陷尺寸，因而對(duì)維修人員維修受損部位起到很大的幫助作用,。

 

采集原始數(shù)據(jù)以后可以對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行后處理,，并可對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行進(jìn)一步的分析。

 

下面是1.6mm厚度鋁合金試樣的檢測(cè)結(jié)果,，上面有19mm,，12.7mm和6.35mm三種不同直徑尺寸的缺陷。

 

先看19mm直徑缺陷,，不同腐蝕損失率的檢測(cè)結(jié)果,。

 

下面是12.7mm直徑缺陷不同材料損失率的檢測(cè)結(jié)果。

 

下面是6.35mm直徑缺陷在不同材料損失率下的檢測(cè)結(jié)果,。

 

下圖是檢測(cè)1.27mm壁厚下層板,，加1.60mm厚上層板，并在上面加工了12.7mm直徑的缺陷,，上層板缺陷材料損失率為20%,、10%和5%，下層板缺陷材料損失率為5%和10%,。

 

 

下圖是在實(shí)際飛機(jī)蒙皮下腐蝕的檢測(cè)結(jié)果,，圖中可以清晰看到缺陷位置，并可測(cè)量其尺寸,。

 

渦流陣列檢測(cè)技術(shù),，相比于常規(guī)渦流技術(shù)，有著許多的優(yōu)勢(shì),，包括成像直觀,、可尺寸測(cè)量、數(shù)據(jù)可長(zhǎng)久儲(chǔ)存等優(yōu)點(diǎn),，是Al多層板腐蝕檢測(cè)的理想檢測(cè)技術(shù),。