在購買手持式XRF分析儀時，確定需要硅漂移探測器（SDD）還是PIN探測器是您需要做出的首要選擇之一,。

奧林巴斯Vanta Element XRF系列中的兩款分析儀就配備了兩種不同的探測器：Vanta Element分析儀裝配有PIN探測器,，而Vanta Element-S分析儀裝配有SDD探測器。

SDD對比PIN：它們之間有什么差別,？

硅漂移檢測器（SDD）是一種較新的技術(shù),，其每秒鐘的X射線計數(shù)率比PIN探測器大約多10倍。SDD探測器的分辨率也比PIN探測器大約低40 eV,。不過，伴隨著SDD性能的提高是成本的增加,。

在確定哪種探測器更適合您的時候,，您需要考慮打算如何使用XRF分析儀。在此要問您兩個重要的問題：

1,、您是否需要測量一些輕元素,，如：鎂（Mg）、鋁（Al）,、硅（Si）,、磷（P）、硫（S）,、氯（Cl）,、鉀（K）或鈣（Ca）?

這些較輕元素的定量性檢測只能由裝配有SDD探測器的分析儀完成。許多人因此錯誤地認為不能使用裝配了PIN探測器的分析儀對鋁合金進行分揀,。但是,，配備了PIN探測器的分析儀可以基于較重元素（如：銅、鉻或鐵）的含量對許多鋁合號進行分揀,。當(dāng)然要進行更細微的區(qū)分,，如：鎂含量不同的6061鋁和6063鋁，需要使用配備了SDD探測器的分析儀,。

2,、您是否需要較低的檢出限,？

SDD探測器的檢出限（LOD）通常比PIN探測器低約3倍。SDD探測器也比PIN探測器的計數(shù)率高,，因此具有更高的精密度和靈敏度,。

哪種分析儀更適合您？

我們希望上面的問題已經(jīng)幫助您確定了使用哪種探測器,，這意味著您向購買一款合適分析儀的目標又邁近了一步,。

如果您需要SDD探測器，那么您可能需要詳細了解我們的Vanta Element-S手持式XRF分析儀,，這款價格實惠的分析儀可以探測輕元素,，并對合金進行辨別。

這款分析儀可以在幾秒鐘之內(nèi)快速,、地辨別鎂（Mg）,、鋁（Al）和硅（Si）元素。分析儀的SDD探測器還可以區(qū)分相似的合號,，如：303和304不銹鋼,，6061和1100鋁，以及6063和1100鋁,。這款分析儀可以有效地測量黑色金屬,、鋁、銅,、不銹鋼,、鎳和金的含量，是完成廢料回收,、基本PMI（材料成分辨別）,、金屬制造和貴金屬識別等應(yīng)用的理想工具。

Vanta Element-S分析儀

如果您需要PIN探測器,，那么請您仔細了解一下我們的初級Vanta Element分析儀,，這款價格實惠的分析儀可以對合金進行辨別。

無論您選擇哪款分析儀,，您都可以放心使用,，因為兩款分析儀都具有使Vanta系列分析儀聲名遠揚的基本特性：檢測迅速，結(jié)果可靠,，堅固耐用,，連通性好，而且其操作便捷性堪比智能手機,。

兩款分析儀都具有以下優(yōu)勢特性：

• 符合IP54評級標準,，具有防塵、防潮的特性。
• 通過了墜落測試（MIL-STD-810G）,，可避免分析儀在墜落時受到損壞,，從而減少了對分析儀進行高成本維修的需求。
• Axon技術(shù)有助于迅速可靠地完成檢測,。
• 借助奧林巴斯科學(xué)云系統(tǒng) ,，可以實現(xiàn)云連接和現(xiàn)代化的數(shù)據(jù)共享。

如果您還是不太確定SDD和PIN探測器之間的差別,，或者對XRF技術(shù)還有其他疑問,，請不要遲疑，向我們尋求幫助,！